ГОЛОГРАФИЧЕСКИЙ СПОСОБ КОНТРОЛЯ ОПТИЧЕСКИХ Советский патент 1970 года по МПК G01B9/21 G01B15/00 

Описание патента на изобретение SU277269A1

Изобретение относится к оптическим методам исследования качества поверхностей.

Известные голографические методы контроля качества оптических поверхностей требуют изготовления эталонных поверхностей, волновой фронт которых используют для сравнения с волновым фронтом контролируемой поверхности.

По предлагаемому способу для расширения диапазона его применения и повышения точности эталонный волновой фронт восстанавливают с голограммы, изготовленной, например, механическим способом непосредственно по расчетным данным исследуемой поверхности.

На чертеже дана принципиальная схема устройства; реализующего предлагаемый способ.

За источником / света, например лазером, соосно с ним расположены коллиматор 2 и контролируемая поверхность 3, между которыми установлена светоделительная пластина 4, по одну сторону от которой расположено плоское зеркало 5, а по другую - голограмма 6.

Голограмму изготавливают каким-либо способом, например механическим по расчетным данным, полученным по известному уравнению эталонной поверхности, и устанавливают параллельно плоскому фронту волны, отраженному от зеркала 5 и прошедшему через светоделптельную пластину 4. Контролируемую поверхность 3 устанавливают так, чтобы ось симметрии фронта волны, отраженного от нее и направленного на голограмму 6, была перпендикулярна плоскости голограммы. В этом случае световой поток, отраженный контролируемой поверхностью, освешает голограмму и восстанавливает волновой фронт, т-п«

пели поверхность 3 не имеет отступлении от

заданной формы, то картина интерференции, создаваемая гологр-аммой (восстановленной и плоской волной), представляет собой равномерный фон. В случае отступления контролируемой поверхности от заданной формы возникают интерференционные полосы, по которым определяют качество оптической поверхности. Таким образом, предлагаемый способ позволяет исключить операцию изготовления эталонной поверхности и устранить ошибки контроля испытуемой поверхности, обусловленные неточностью изготовления эталонной поверхности. Ошибки же изготовления эталонных поверхностей неизбежны и особенно велики в случае изготовления асферических поверхностей высокого порядка из-за отсутствия надежных методов контроля. В то же время технические возможности позволяют рассчитывать и изготавливать искусственные голограммы с достаточно высокой степенью

точности. Например, при механическом способе изготовления голограмм путем использования технологии изготовления диффракционных решеток можно изготавливать искусственные голограммы асферических поверхностей с угловой апертурой до 90°. В случае применения предлагаемого способа для контроля асферических поверхностей целесообразно применять одноосевую схему интерферометра. Тогда голограмма представляет собой систему концентрических колец, закон распределения которых определяется уравнением контролируемой асферической поверхности, а процесс изготовления такой голограммы значительно упрощается.

Предмет изоб ре тения

Голографический способ контроля оптических поверхностей, преимущественно асферических, заключающийся в сравнении волнового фронта от исследуемой поверхности с эталонным волновым фронтом, восстановленным с голограммы, отличающийся тем, что, с целью расщирения диапазона применения

способа и повыщения точности, эталонный волновой фронт восстанавливают с голограммы, изготовленной, например, механическим способом непосредственно по расчетным данным исследуемой поверхности.

Похожие патенты SU277269A1

название год авторы номер документа
СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ОПТИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ 1972
  • Изобретени А. И. Бывальцев, Н. П. Ларионов, А. В. Лукин, К. С. Мустафин
  • Р. А. Рафиков
SU425043A1
Интерферометр радиального сдвига 1973
  • Ларионов Николай Петрович
  • Лукин Анатолий Васильевич
  • Мустафин Камиль Сабирович
  • Рафиков Рафик Абдурахимович
SU534644A1
Устройство для контроля асферических поверхностей 1981
  • Лукин Анатолий Васильевич
  • Мустафин Камиль Сабирович
  • Маврин Сергей Васильевич
  • Рафиков Рафик Абдурахимович
  • Топоркова Ирина Александровна
SU1017923A1
Интерферометр для контроля качества поверхностей оптических деталей 1990
  • Вавилова Светлана Александровна
  • Городецкий Александр Алексеевич
  • Рафиков Рафик Абдурафимович
SU1791701A1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДЕЦЕНТРИРОВКИ ОПТИЧЕСКОЙ ОСИ АСФЕРИЧЕСКОЙ ПОВЕРХНОСТИ 2021
  • Семенов Александр Павлович
  • Патрикеев Владимир Евгеньевич
  • Никонов Александр Борисович
  • Морозов Алексей Борисович
  • Насыров Руслан Камильевич
RU2758928C1
Интерферометр для контроля формы оптических поверхностей 1980
  • Мустафин Камиль Сабирович
  • Лукин Анатолий Васильевич
  • Ларионов Николай Петрович
  • Ибрагимов Рафаил Азвитович
SU996857A1
ГОЛОГРАФИЧЕСКОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ФОРМЫ АСФЕРИЧЕСКИХ ОПТИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ 2022
  • Лукин Анатолий Васильевич
  • Мельников Андрей Николаевич
  • Скочилов Александр Фридрихович
RU2786688C1
ИНТЕРФЕРОМЕТРИЧЕСКИЙ СПОСОБ ЮСТИРОВКИ ДВУХЗЕРКАЛЬНОГО ОБЪЕКТИВА С АСФЕРИЧЕСКИМИ ЭЛЕМЕНТАМИ 2014
  • Вензель Владимир Иванович
  • Горелов Александр Викторович
  • Гридин Александр Семенович
RU2561018C1
Способ восстановления формы асферической поверхности оптической детали по параметрам отраженного волнового фронта, получаемым приборами с датчиками волнового фронта (ДВФ) 2019
  • Барышников Николай Васильевич
  • Животовский Илья Вадимович
  • Карасик Валерий Ефимович
  • Мухина Елена Евгеньевна
  • Платонов Павел Викторович
  • Сахаров Алексей Александрович
RU2715434C1
ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОЛОЖЕНИЯ ОСИ АСФЕРИЧЕСКОЙ ПОВЕРХНОСТИ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2017
  • Вензель Владимир Иванович
  • Семенов Андрей Александрович
  • Синельников Михаил Иванович
RU2658106C1

Иллюстрации к изобретению SU 277 269 A1

Реферат патента 1970 года ГОЛОГРАФИЧЕСКИЙ СПОСОБ КОНТРОЛЯ ОПТИЧЕСКИХ

Формула изобретения SU 277 269 A1

SU 277 269 A1

Даты

1970-01-01Публикация