Изобретение относится к области массспектрометрического анализа, в частности, к исследованию космических тел, имеющих плотность атмосферы не выше 10 мм рт. ст.
Целью изобретения является создание такого устройства, которое позволило бы проводить исследования с наибольшей точностью и достоверностью.
Отличительной особенностью предлагаемого устройства является то, что источник ионов снабн ен выходным отверстием, расположенным диаметрально противоположно входному. Ось отверстий перпендикулярна оси ионно-оптической системы масс-анализатора и совпадает с радиусом полусферы, центром которой является точка, лежащая на оптической оси источника высокоэнергетического пучка. Оптическая ось источника высокоэнергетического пучка может совпадать с оптической осью, проходящей через выходное и входное отверстия в камере источника ионов, что позволяет производить анализ грунта с меньшими затратами мощности.
Для снятия заряда с грунта устройство снабжено сетчатым электродом из тугоплавкого материала, вынесенным за пределы источника высокоэнергетического пучка и электрически соединенного с ним. Электрод быть присоединен к источнику высокоэнергетического пучка при помощи жесткой щтанги или пружинного элемента.
Устройство позволяет производить анализ грунта планет без загрязнения ионно-оптической системы масс-спектрометра продуктами испарения.
На фиг. 1 и 2 изображено предлагаемое устройство.
Устройство, состоит из источника высокоэнергетического пучка / и масс-спектрометра 2 с источником ионов 3, снабженным отверстиями 4 и 5, расположенными диаметрально противополол но; к источнику высокоэнергетического пучка присоединен сетчатый электрод 6 при помощи щтанги 7.
Оптические оси источника высокоэнергетического пучка и ионного источника, проходящие через входное и выходное отверстия, на фиг. 1 не совпадают, а па фиг. 2 совпадают.
Размеры входного и выходного отверстий выбираются таким образом, что продукты испарения проходят сквозь камеру источника ионов, не попадая на элементы ионно-оптической системы масс-спектрометра.
Устройство работает следующим образом. 3 Часть продуктов испарения через входное отверстие 4, расположенное в пределах «примой видимости к точке испарения, попадает в камеру источника ионов масс-спектрометра. Ионизация нейтральной компоненты про-5 дуктов испарения производится электронным ударом в источнике ионов масс-спектрометра. Ионы, образованные в источнике ионов в результате ионизации электронным ударом, и ионная компонента продуктов испарения, до-ю стигшая камеры источника ионов, затягиваются в область анализатора, где разделиются по массовым числам. В предлагаемом устройстве предусмотрены средства для модуляции высокоэнергетиче-i5 ского пучка по интенсивности. Мощность в импульсе выбирается такой, что за время действия импульса испаряемый участок нагревают до температуры, соответствующей интенсивному испарению, в то время как вы-20 бор значительной сквал ности импульсов дает возможность снизить среднюю потребляемую мощность при сохранении концентрации продуктов испарения в источнике массспектрометра, достаточной для проведения25 масс-спектрометрического анализа. В качестве устройства для модуляции пучка может быть применен специальный электрод (в случае применения источника высокоэнергетических заряженных частиц), запи-зо рающий поток частиц при подаче на него импульсного напряжения определенной полярности и амплитуды, либо устройство в системе питания (в случае применения источника электромагнитного излучения), обес-35 печивающее импульсный режим пучка электромагнитного излучения. Если масс-спектрометр расположен вне испаряющего пучка, например как он изображен на фиг. 1, то он может оказаться40 «в тени, экранированный неровностями рельефа от попадания продуктов испареппя, в результате чего проведение анализа окажется вообще невозможным. Более того, даже если поверхность грунта в месте испа-45 рения относительно ровная, в процессе выплавления грунта высокоэнергетическим пучком образуется непрерывно углубляющийся кратер, стенки которого сначала частично, а затем и полностью экранируют масс-спектро-50 метр. Поэтому при расположении элементов устройства, как показано на фиг. 1, анализ глубинных слоев принципиально невозможен. Задача устранения экранировки масс-спектрометра неровностями рельефа п стенками55 кратера решается в случае расположения масс-спектрометра за источником высокоэнергетического пучка, как показано на фиг. 2. 4 расстоянии от поверхности грунта и при наибольшей площади входного отверстия масс-спектрометра, В устройстве, изображенном на фиг. 2, технически обеспечивается возможность расположения масс-спектрометра на мичимальном, по сравнению с любым другим, расстояпием от точки испарения, что позволяет проводить анализ с минимальными затратами мощности, вследствие более эффективного использования продуктов испарения, В случае, если грунт планеты представляет собой электрически плохо проводящее вещество, процесс испарения грунта высокоэнергетическим пучком идет очень нестабильно с резкими колебаниями температуры бомбардируемого участка поверхности, Наличие в устройстве сетчатого электрода 6 из тугоплавкого материала, прижатого участку плавления грунта, устраняет возникщий поверхностный заряд, поскольку в этом случае имеется много точек грунта, контактирующих с поверхностью сетчатого электрода, электрически соединенного с источником высокоэнергетического пучка. Предмет изобретения Устройство для масс-спектрометрического анализа грунта планет с плотностью атмосферы не выще 10 мм рт. ст., содержащее источник высокоэнергетического пучка, источник ионов с входным отверстием и анализатор, отличающееся тем, что, с целью избежапия загрязнения иопно-оптической системы масс-спектрометра продуктами испарения, источник ионов снабжен выходным отверстием, расположенным диаметрально противоположно входному, ось которых перпендикулярна оси ионно-оптической системы масс-анализатора и совпадает с радиусом полусферы, центром которой является точка, лежащая на оптической оси источника высокоэнергетического пучка. 2. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что оптическая ось источника высокоэнергетического пучка совпадает с оптической осью, проходящей через выходное и входное отверстия в камере источника ионов, 3. Устройство по пп. 1 и 2, отличающееся тем, что, с целью снятия заряда с грунта, оно снабжено сетчатым электродом из тугоплавкого материала, вынесенным за пределы псточника высокоэнергетического пучка и электрически соединенного с ним. 4. Устройство по пп. 1-3, отличающееся тем, что сетчатый электрод присоединен к источнику высокоэнергетического пучка при помощи жесткой щтанги. 5. Устройство по пп. 1-3, отличающееся
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
ВРЕМЯПРОЛЕТНЫЙ МАСС-АНАЛИЗАТОР ИОНОВ | 1994 |
|
RU2096861C1 |
АН СССР | 1973 |
|
SU396614A1 |
УСТРОЙСТВО ДЛЯ АНАЛИЗА ГАЗОВОЙ СМЕСИ | 2004 |
|
RU2272334C1 |
ЭНЕРГОМАСС-СПЕКТРОМЕТР ВТОРИЧНЫХ ИОНОВ | 1990 |
|
RU2020645C1 |
Способ энерго-масс-спектрометрического анализа вторичных ионов и устройство для энергомасспектрометрического анализа вторичных ионов | 1986 |
|
SU1460747A1 |
Квадрупольный масс-спектрометр | 1980 |
|
SU860638A1 |
Вторично-ионный масс-спектрометр | 1989 |
|
SU1711260A1 |
Масс-спектрометр | 1985 |
|
SU1600645A3 |
ПЫЛЕУДАРНЫЙ МАСС-СПЕКТРОМЕТР | 1996 |
|
RU2122257C1 |
ИОННО-ЭМИССИОННЫЙ МИКРОСКОП- МИКРОАНАЛИЗАТОР | 1970 |
|
SU276269A1 |
Авторы
Даты
1971-01-01—Публикация