УСТРОЙСТВО для МАСС-СПЕКТРОМЕТРИЧЕСКОГО АНАЛИЗА ГРУНТА ПЛАНЕТВСЕСОЮЗНАЯnATEHTHO-TEXKiflECHAflБИБЛИОТЕКА Советский патент 1971 года по МПК B01D59/44 

Описание патента на изобретение SU295572A1

Изобретение относится к области массспектрометрического анализа, в частности, к исследованию космических тел, имеющих плотность атмосферы не выше 10 мм рт. ст.

Целью изобретения является создание такого устройства, которое позволило бы проводить исследования с наибольшей точностью и достоверностью.

Отличительной особенностью предлагаемого устройства является то, что источник ионов снабн ен выходным отверстием, расположенным диаметрально противоположно входному. Ось отверстий перпендикулярна оси ионно-оптической системы масс-анализатора и совпадает с радиусом полусферы, центром которой является точка, лежащая на оптической оси источника высокоэнергетического пучка. Оптическая ось источника высокоэнергетического пучка может совпадать с оптической осью, проходящей через выходное и входное отверстия в камере источника ионов, что позволяет производить анализ грунта с меньшими затратами мощности.

Для снятия заряда с грунта устройство снабжено сетчатым электродом из тугоплавкого материала, вынесенным за пределы источника высокоэнергетического пучка и электрически соединенного с ним. Электрод быть присоединен к источнику высокоэнергетического пучка при помощи жесткой щтанги или пружинного элемента.

Устройство позволяет производить анализ грунта планет без загрязнения ионно-оптической системы масс-спектрометра продуктами испарения.

На фиг. 1 и 2 изображено предлагаемое устройство.

Устройство, состоит из источника высокоэнергетического пучка / и масс-спектрометра 2 с источником ионов 3, снабженным отверстиями 4 и 5, расположенными диаметрально противополол но; к источнику высокоэнергетического пучка присоединен сетчатый электрод 6 при помощи щтанги 7.

Оптические оси источника высокоэнергетического пучка и ионного источника, проходящие через входное и выходное отверстия, на фиг. 1 не совпадают, а па фиг. 2 совпадают.

Размеры входного и выходного отверстий выбираются таким образом, что продукты испарения проходят сквозь камеру источника ионов, не попадая на элементы ионно-оптической системы масс-спектрометра.

Устройство работает следующим образом. 3 Часть продуктов испарения через входное отверстие 4, расположенное в пределах «примой видимости к точке испарения, попадает в камеру источника ионов масс-спектрометра. Ионизация нейтральной компоненты про-5 дуктов испарения производится электронным ударом в источнике ионов масс-спектрометра. Ионы, образованные в источнике ионов в результате ионизации электронным ударом, и ионная компонента продуктов испарения, до-ю стигшая камеры источника ионов, затягиваются в область анализатора, где разделиются по массовым числам. В предлагаемом устройстве предусмотрены средства для модуляции высокоэнергетиче-i5 ского пучка по интенсивности. Мощность в импульсе выбирается такой, что за время действия импульса испаряемый участок нагревают до температуры, соответствующей интенсивному испарению, в то время как вы-20 бор значительной сквал ности импульсов дает возможность снизить среднюю потребляемую мощность при сохранении концентрации продуктов испарения в источнике массспектрометра, достаточной для проведения25 масс-спектрометрического анализа. В качестве устройства для модуляции пучка может быть применен специальный электрод (в случае применения источника высокоэнергетических заряженных частиц), запи-зо рающий поток частиц при подаче на него импульсного напряжения определенной полярности и амплитуды, либо устройство в системе питания (в случае применения источника электромагнитного излучения), обес-35 печивающее импульсный режим пучка электромагнитного излучения. Если масс-спектрометр расположен вне испаряющего пучка, например как он изображен на фиг. 1, то он может оказаться40 «в тени, экранированный неровностями рельефа от попадания продуктов испареппя, в результате чего проведение анализа окажется вообще невозможным. Более того, даже если поверхность грунта в месте испа-45 рения относительно ровная, в процессе выплавления грунта высокоэнергетическим пучком образуется непрерывно углубляющийся кратер, стенки которого сначала частично, а затем и полностью экранируют масс-спектро-50 метр. Поэтому при расположении элементов устройства, как показано на фиг. 1, анализ глубинных слоев принципиально невозможен. Задача устранения экранировки масс-спектрометра неровностями рельефа п стенками55 кратера решается в случае расположения масс-спектрометра за источником высокоэнергетического пучка, как показано на фиг. 2. 4 расстоянии от поверхности грунта и при наибольшей площади входного отверстия масс-спектрометра, В устройстве, изображенном на фиг. 2, технически обеспечивается возможность расположения масс-спектрометра на мичимальном, по сравнению с любым другим, расстояпием от точки испарения, что позволяет проводить анализ с минимальными затратами мощности, вследствие более эффективного использования продуктов испарения, В случае, если грунт планеты представляет собой электрически плохо проводящее вещество, процесс испарения грунта высокоэнергетическим пучком идет очень нестабильно с резкими колебаниями температуры бомбардируемого участка поверхности, Наличие в устройстве сетчатого электрода 6 из тугоплавкого материала, прижатого участку плавления грунта, устраняет возникщий поверхностный заряд, поскольку в этом случае имеется много точек грунта, контактирующих с поверхностью сетчатого электрода, электрически соединенного с источником высокоэнергетического пучка. Предмет изобретения Устройство для масс-спектрометрического анализа грунта планет с плотностью атмосферы не выще 10 мм рт. ст., содержащее источник высокоэнергетического пучка, источник ионов с входным отверстием и анализатор, отличающееся тем, что, с целью избежапия загрязнения иопно-оптической системы масс-спектрометра продуктами испарения, источник ионов снабжен выходным отверстием, расположенным диаметрально противоположно входному, ось которых перпендикулярна оси ионно-оптической системы масс-анализатора и совпадает с радиусом полусферы, центром которой является точка, лежащая на оптической оси источника высокоэнергетического пучка. 2. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что оптическая ось источника высокоэнергетического пучка совпадает с оптической осью, проходящей через выходное и входное отверстия в камере источника ионов, 3. Устройство по пп. 1 и 2, отличающееся тем, что, с целью снятия заряда с грунта, оно снабжено сетчатым электродом из тугоплавкого материала, вынесенным за пределы псточника высокоэнергетического пучка и электрически соединенного с ним. 4. Устройство по пп. 1-3, отличающееся тем, что сетчатый электрод присоединен к источнику высокоэнергетического пучка при помощи жесткой щтанги. 5. Устройство по пп. 1-3, отличающееся

Похожие патенты SU295572A1

название год авторы номер документа
ВРЕМЯПРОЛЕТНЫЙ МАСС-АНАЛИЗАТОР ИОНОВ 1994
  • Манагадзе Георгий Георгиевич
  • Манагадзе Нина Георгиевна
RU2096861C1
АН СССР 1973
SU396614A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ АНАЛИЗА ГАЗОВОЙ СМЕСИ 2004
  • Курнаев Валерий Александрович
  • Гриднева Елена Алексеевна
RU2272334C1
ЭНЕРГОМАСС-СПЕКТРОМЕТР ВТОРИЧНЫХ ИОНОВ 1990
  • Никитенков Н.Н.
  • Косицын Л.Г.
  • Шулепов И.А.
RU2020645C1
Квадрупольный масс-спектрометр 1980
  • Галль Р.Н.
  • Кузьмин А.Ф.
  • Махов В.Н.
  • Павленко В.А.
SU860638A1
Способ энерго-масс-спектрометрического анализа вторичных ионов и устройство для энергомасспектрометрического анализа вторичных ионов 1986
  • Кузьмин Александр Федорович
  • Саченко Вячеслав Данилович
SU1460747A1
Вторично-ионный масс-спектрометр 1989
  • Походня Игорь Константинович
  • Черепин Валентин Тихонович
  • Швачко Валентин Иванович
  • Дубинский Игорь Николаевич
  • Вайсберг Эрнст Исаакович
  • Голубовский Борис Григорьевич
SU1711260A1
Масс-спектрометр 1985
  • Жорж Слодзиан
  • Франсуа Коста Де Боргард
  • Бернар Дэнь
  • Франсуа Жирар
SU1600645A3
ПЫЛЕУДАРНЫЙ МАСС-СПЕКТРОМЕТР 1996
  • Семкин Н.Д.
  • Воронов К.Е.
RU2122257C1
ИОННО-ЭМИССИОННЫЙ МИКРОСКОП- МИКРОАНАЛИЗАТОР 1970
SU276269A1

Иллюстрации к изобретению SU 295 572 A1

Реферат патента 1971 года УСТРОЙСТВО для МАСС-СПЕКТРОМЕТРИЧЕСКОГО АНАЛИЗА ГРУНТА ПЛАНЕТВСЕСОЮЗНАЯnATEHTHO-TEXKiflECHAflБИБЛИОТЕКА

Формула изобретения SU 295 572 A1

SU 295 572 A1

Авторы

А. Ф. Кузьмин, Е. Я. Мельничук, Б. А. Миртов, В. А. Павленко, А. Э. Рафальсон, Г. Е. Цигельман, Р. П. Ширшов, М. Д. Шутов

Н. А. Холин

Даты

1971-01-01Публикация