НИЗКОВОЛЬТНЫЙ ЦИФРОВОЙ ИНДИКАТОР Советский патент 1971 года по МПК H01L31/48 

Изобретение относится к области полупроводниковой TexHKiKH, В частности к инжекцион ньгм э л ектр ол юъ1инес центным инд и кат орн ым устройст1вам.

Известные цифровые и ндикаторы изготовлены Лнбо -в виде иабора еветоизлуч.ающих диодов, либо в виде семиэлемеитного индикатора На одной пластине.

ВьтолиеНИе Цифрового 1инди:като1ра целого Прибора иа одной пластине полупроводника ограничивает габаритные размеры индикатора площадью пла1стины выр1ащиваемых кристалло-в полутраводника;

требует дополнительного расхода материала (полезпаЯ .площадь 1нристалла ограничена только светящимся знаком);

осложняется прргвлечепием дополнительных технологических операций, обеспечивающих получение ка пласти не полупроводника р-п-иерехода определен ного рисунка;

возможно только На таком (полупроводниковом МатерИале, у которого асуществляется резкая локализация свечения по поверхности кристалла (что имеет-место у .карбида кремкия и пока невозможаю у фосфида галлия вследствие сильного ра1ссеяния света в кристалле) ;

одного элемента, выходит из 1строя весь индикатор.

Иредлагаемый цифровой индикато р отличается тем, что отдельные элементы индикатора выполнены в формс линий, расположенных ио очертацию восьмерки. Цифровой индпкатор набирается в -корпусе или та 1плите из семи линейчатых кристаллов (двух типов) фосфида галлия со сформираванньгми в них излучательными р-/г-переходами с красным цветоМ свечения.

Конструкция поясняется чертежом.

КрИсталлы с р-пнпереходами паяются на дно кориуса /, выиолняемого 1из ковара. Корпус имеет один общий шывод и семь из.Олафованных (с помощью стеклянных бус). Внутри корпуса расположены кристаллы 2, имеющие напыленные контакты 3. Поверхности .кристалло в защ:ищ1аются полимерным 1ПОК:рытисм. Корпус сверху покрывается крыщкой-: 1аской с прорезями для вывода Излучения. Маска представляет .собой тонкую зачерненную пластину, ил1еющую семь прорезей, точно соответствующих нри наложении на борта .корпуса светящимся поверхностям кристаллов. Общая технологическая п01следов.ательность операции при выполнеиии образцов следующ-ая;