СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОРИСТОСТИ ЯЧЕИСТЫХ БЕТОНОВ Советский патент 1971 года по МПК G01N21/47 

Изобретение относится к области анализа макроструктуры пористых строительных материалов и служит для количественной оценки качества пористой структуры.

Известен способ определения пористости ячеистых Оетонов, заключающийся в том, что образец освещают четырьмя встречными наклонными световыми пучками и преобразуют сканирующей системой отраженный световой поток в электрические сигналы.

Изобретение ставит своей целью исключение сглаживания корреляции в значениях нористости на смежных участках поверхности исследуемого образца.

Для этого образец подвергают дискретному вращению в горизонтальной плоскости и отсчитывают значения электрических сигналов в моменты остановок образца, осуществляемых через интервалы времени, которые смещены относительно друг друга на величину, соответствующую сдвигу элемента сканирования.

Сущность способа заключается в следующем.

Плоский шлиф пористого материала освещают симметричным четырехсторонним боковым светом, в результате чего сечения пор оказываются затемненными, а сечения межпустотного материала освещенными.

Величина светового потока, отраженного от последовательно рассматриваемых участков шлифа, зависит от пористости участков.

Утот световой поток, нромодулированный по амплитуде в соответствии с характером изменения пористости на сканируемых участках, преобразуют в электрический сигнал.

Значение электрического сигнала фиксируется в моменты остановок образца в ироцессе вращения. Моменты остановок смещены относительно друг друга на величину, соответствующую сдвигу элемента сканирования.

Предмет изобретения

Способ определения пористости ячеистых бетонов, заключающийся в том, что образец освещают четырьмя встречными наклонными световыми пучками и преобразуют сканирующей системой отраженный световой поток в электрические сигналы, отличающийся тем, что, с целью исключения сглаживания корреляции в значениях пористости на смежных участках поверхности исследуемого образца, последний подвергают дискретному вращению в горизонтальной плоскости и отсчитывают значения электрических си1-палов в моменты остановок образца, осуществляемых через интервалы времени, которые смещены огносительно друг друга на величину, соответствующую сдвигу элемента сканирования.