ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ ДЕФЕКТОСКОП Советский патент 1971 года по МПК G01N21/88 

Описание патента на изобретение SU307068A1

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике.

Известны фотоэлектрические дефектоскопы для контроля поверхности изделий, содержащие источник света, оптическое проекционное устройство, расположенное в отраженном от контролируемого изделия потоке света, оптикомеханическое развертывающее устройство, установленное в этом потоке перед фотоэлектрическим преобразователем, фотоэлектрический преобразователь, например светочувствительный р-п-переход, электронное индикаторное устройство, включенное входом на выход фотоэлектрического преобразователя, исполнительное устройство, соединенное с выходом электронного индикаторного устройства.

Однако разрешающая способность и чувствительность этих дефектоскопов недостаточно высоки, так как электронное индикаторное устройство обычно выполнено в виде усилителя постоянного или переменного тока.

Предлагаемый фотоэлектрический дефектоскоп отличается тем, что с целью повышения разрешающей способности и чувствительности дефектоскопа, электронное индикаторное устройство выполнено в виде автогенератора, в колебательный контур которого включен светочувствительный р-п-переход, и преобразователя частоты, один вход которого соединен непосредственно, а другой - через линию задержки с автогенератором, а также тем, что с целью повышения селективности дефектоскопии, электронное индикаторное устройство снабжено фильтрами, например контурами ударного возбуждения, включенными между электронным индикатором и исполнительным устройством.

На чертеже представлена блок-схема дефектоскопа.

Предлагаемый дефектоскоп содержит источник света /, в потоке света которого расположена контролируемая поверхность 2; оптическое проекционное устройство 3, установленное в отраженном от поверхности 2 потоке света; оптикомеханическое развертывающее устройство 4, находящееся перед фотоэлектрическим преобразователем 5 в виде светочувствительного р-п-перехода, включенного в контур 6 автогенератора 7 в качестве его емкости.

Этот контур связан через буферный каскад 8 с одним из входов преобразователя 9 частоты, а автогенератор 7 через линию задержки 10 - с другим входом преобразователя; выход преобразователя 9 соединен с исполнительным устройством 11.

Дефектоскоп функционирует следующим образом.

вертывающее устройство 4 в фотоэлектрический преобразователь 5, емкость р-«-перехода которого изменяется под воздействием потока света.

Включенный в качестве емкости в колебательный контур 6 автогенератора 7 р-п-переход определяет значение частоты сигнала автогенератора. Таким образом, изменение освещенности р-п-перехода приводит к изменению частоты автогенератора, которое фиксируется преобразователем 9 частоты, на один вход которого сигнал подается непосредственно с автогеператора 7, а на другой - через линию задержки 10. Сигнал с выхода преобразователя 9 частоты поступает в исполнительное устройство 11. В случае необходимости между преобразователем 9 и исполнительным устройством 11 может быть включен фильтр, например в виде контуров ударного действия, новышающий селективность дефектоскопа к дефектам определенного типа.

Предмет изобретения

1. Фотоэлектрический дефектоскоп для контроля поверхности изделий, содержащий ticточник света, оптическое проекционное устройство, расположенное в отраженном от контролируемого изделия потоке света, оптикомеханическое развертывающее устройство, установленное в этом потоке перед фотоэлектрическим преобразователем, фотоэлектрический преобразователь, например светочувствительный р-я-переход, электронное индикаторное устройство, включенное входом на выход фотоэлектрического преобразователя, исполнительное устройство, соединенное с выходом электронного индикаторного устройства, отличаюющийся тем, что, с целью повышения разрешающей способности и чувствительности дефектоскопа, электронное индикаторное уетройство выполнено в виде автогенератора, в колебательный контур которого включен светочувствительный р-л-переход, нреобразователя частоты, одип вход которого соединен непосредстземно, а другой - через линию задержки с автогенератором.

2. Фотоэлектрический дефектоскоп по п. 1, отличающийся тем, что, с целью повышения селективности дефектоскопии, электронное индикаторное устройство снабжено фильтрами,

например контурами ударного возбуждения, включенньп1И шжду электронным индикаторным и иснолнигельпым устройством.

Похожие патенты SU307068A1

название год авторы номер документа
Фотоэлектрический дефектоскоп 1988
  • Шифрин Григорий Зусевич
  • Швыркова Ирина Анатольевна
SU1587340A1
Фотоэлектрический дефектоскоп 1984
  • Сажаев Владимир Григорьевич
  • Васильков Виктор Михайлович
  • Кочуров Геннадий Маркович
SU1317335A2
Устройство фотоэлектрической регистрации моментов прохождения звезд 1980
  • Язев Арктур Иванович
  • Медведков Эдгар Павлович
SU1121585A1
Измерительный блок дефектоскопа 1983
  • Демидов Михаил Владимирович
  • Канаев Александр Сергеевич
SU1132218A1
Способ измерения светового потока 1969
  • Сажаев Владимир Григорьевич
SU447576A1
Генератор ультразвуковых колебаний к дефектоскопу 1980
  • Коряченко Владимир Дмитриевич
  • Ткаченко Андрей Акимович
SU953555A1
Многоканальный дефектоскоп 1980
  • Алексеев Александр Петрович
  • Кривопущенко Андрей Андреевич
SU968729A2
Многоканальный вихретоковый дефектоскоп 1989
  • Гребнев Анатолий Анатольевич
  • Уваров Алексей Васильевич
  • Наумов Юрий Николаевич
  • Бабкин Владимир Николаевич
SU1693525A1
Устройство для оптоэлектронной развертки цветных изображений на образцах 1979
  • Бэр Вольфганг
  • Фроммхолд Экарт
  • Рихтер Вольфганг
  • Росснер Франк
  • Шмидт Йохен
SU1037290A1
Многоканальный дефектоскоп 1979
  • Алексеев Александр Петрович
  • Дубровин Николай Николаевич
  • Корнеев Борис Васильевич
SU828059A1

Иллюстрации к изобретению SU 307 068 A1

Реферат патента 1971 года ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ ДЕФЕКТОСКОП

Формула изобретения SU 307 068 A1

/ 1 I |--,-D.

SU 307 068 A1

Даты

1971-01-01Публикация