СПОСОБ КОНТРОЛЯ ОДНОРОДНОСТИ ЦИЛИНДРИЧЕСКИХ тонких МАГНИТНЫХ ПЛЕНОК Советский патент 1971 года по МПК G01N27/72 

Известны способы контроля однородности цилиндрических тонких магнитных пленок путем намагничивания их переменным лолем и выделения третьей гармоники из вторичной э.д.с.

Предложенный способ отличается от известного тем, что намагничивание производят поочередно двумя полями одной и той же частоты, но разной амплитуды, измеряют амллитуды третьих гармоник вторичной Э.Д.С., составляют из них отношение, позволяющее определить величину поля анизотропии, по которому судят об однородности плено.к, причем амплитуда намагничивающего поля должна быть заведомо больще поля анизотропии.

Это позволяет повысить точность контроля, так как подавляется влияние колебаний потока насыщения через -контролируемый участок пленки.

Сущность способа заключается в следующем.

Тонкую магнитную пленку намагничивают переменным полем определенной амнлитудьг и частоты, определяют амплитуду третьей гармоники fs вторичной э.д.с., затем определяют амплитуду третьей гармоники Е зщ при друго-м значении амплитуды намагничивающего поля той же частоты, причем амплитуду намагничивающего поля выбирают больще поля анизотропии, после чего составляют отношение амплитуд третьих гармоник:

Г / Н, у }Ъ

;,-1 г1Ж:11 (

LЧ m / J

где Я,„- амплитуды намагничивающего ПОЛЯ; HI, - поле анизотропии плепкп.

Такое отнощенне позволяет исключить влияние потока насыщения на вторичную э.д.с., т. е.

Н, Н

-k

20

где

Н ,„

ЯП т

25

Предмет изобретения а ком и выделении третье гармоники из вторичной .Э.Д.С., отличающийся feM, что, с целью повышения точности контроля, «змагничивание производят поочередно двумя полями одной и той же часто1Ы, но разной амплитуды,5 измеряют амплитуды TpetbHX гармоник вто4ричяой Э.Д.С., аэстдв-Чяют из «их отношение, позволяющее )411ть величину поля анизотропии, по которому судят об однородности пленок, причем амплитуда намагничивающего поля должна быть заведомо больше поля анизотропии.