СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ОПТИЧЕСКИХ ТЕМПЕРАТУР В СОЛНЕЧНОЙ ПЕЧИ Советский патент 1971 года по МПК G01J5/60 

Изобретение относится к снособам измерения яркостной или цветовой температуры в солнечных печах.

Известен способ измерения температуры в солнечных печах, состоящий в разделении отраженного солнечного излучения и собственной радиации объекта измерения посредством отсекателей, которые перекрывают солнечный ноток в момент измерения.

Однако нри этом способе нарушается постоянный режим нагрева образца, что приводит к эффективности солнечной печи.

Для устранения влияния отраженпого солнечного излучения измерения по описываемому способу производят на длинах волн, лежащих внутри полос полного поглощения в одном из интервалов наземного солнечного спектра.

Способ заключается в следующем. Измерение температуры производят в спектральных участках, где в наземном солнечном спектре существуют глубокие полосы полного поглощения и где приходящая солнечная радиация практически отсутствует.

Известно, что непрерывный спектр внеатмосферного солнца в атмосфере искажается полосами поглощения озона, кислорода, углекислого газа, паров воды. В некоторых ннтервалах, в частности от 1,8 до 1,9 мкм излучение поглощается практически полностью, т. е. в падающем солнечном потоке эти спектральные участки отсутствуют. В то же время, вследствие несравненно меньшей длины оптического )1ути от нагреваемого в фокусе нечи образца до пирометра, непрерывный спектр излучения образца не претерпевает таких изменений и содержит участки, отсутствующие в падающем излучении. Это дает возможность

обычными методами оптической пирометрии проводить измерения яркостных и цветовых температур, выбирая в качестве рабочих длин волн те спектральные участки, где концентрируемое солнечное излучение имеет провалы,

т. е. нацело поглощается атмосферой, а излучение образца является непрерывным.

Предмет изобретения

Способ измерения оптических температур в солнечной печи, заключающийся в определении мощностных характеристик излучения образца в одном пли нескольких монохроматических спектральных участках, отличающийся

тем, что, с целью повышения точности, измерение соответствующего параметра производят на длинах волн, лежащих внутри нолос полного поглощения в одном из интервалов наземного солнечного спектра.