ДВУХЛУЧЕВОЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДИАМЕТРА Советский патент 1971 года по МПК G01B11/08 

Описание патента на изобретение SU319838A1

Изобретение относится к области линейных измерений и может быть использовано для аттестации и поверки ооразцовых колец, применяемых в шарикоподшипниковой промышленности, дизелестроении, самолетостроении, станкостроении и т. п.

Известен двухлучевой интерферометр для измерения диаметра отверстия детали, содержаш.ий осветитель, светоделительную пластину, делящую световой поток на две ветви - рабочую и эталонную, отражаюш,ии элемент, установленный в рабочей ветви, и регистрирующую систему.

Предлагаемый интерферометр отличается от известного тем, что, с целью повышения точности Ирасширения пределов измерения, отражающий элемент выполнен в виде усеченного конуса с прямым углом при вершине.

На фиг. 1 изображена оптическая схема предлагаемого интерферометра; на фиг. 2-: интерференциальная картина в ноле зрения.

Интерферометр содержит осветитель (на чертеже не изображен), коллиматор с объективом / и щелью 2, светоделительную пластину 3, неподвижное плоское зеркало 4, отражающий элемент - непрозрачный усеченный конус 5 с зеркальными отражающими поверхностями, объектив 6, выходную щель 7 и регистрирующую систему (на чертеже не показана).

Лучи света, идущие от источника света, iipoib дя коллиматорную щель 2 и объектив 1, становятся параллельными, так как щель находится в фокусе объектива 1. Параллельный пучок

5 света падает на светоделительную пластину У, где он разделяется на два пучка (две ветви). Один пучок света отражается от светоделительной поверхности пластины J и падает по нормали на плоское зеркало 4. Затем этот

0 пучок света, отражаясь от зеркала, проходит Б обратном направлении через светоделительную пластину и собирается объективом 6 в плоскости выходной щели 7. Второй пучок света проходит через светоделительную пластину 3, падает на боковую поверхность и поверхность верхнего основания усеченного конуса 5. Часть пучка, падающая на боковую поверхность, отражается от нее и в радиальном направлении падает на измеряемую поверхность детали 8. Далее этот пучок света, отражаясь последовательно от измеряемой поверхности детали и боковой поверхности конуса, вместе с частью пучка, отраженного от верхнего основания усеченного конуса, возвр ащает5 ся обратно к пластине 3, отражается от ее поверхности и собирается нри помощи объектива 5 в плоскости выходной щели 7. Оба пучка света, имеющие разность хода, интерферируют между собой. Система из внутренней цилинд

Похожие патенты SU319838A1

название год авторы номер документа
ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ МНОГОЦЕЛЕВЫХ ОПТИЧЕСКИХ ИЗМЕРЕНИЙ 2016
  • Абдулкадыров Магомед Абдуразакович
  • Семенов Александр Павлович
  • Патрикеев Владимир Евгеньевич
  • Пуряев Даниил Трофимович
  • Дружин Владислав Владимирович
  • Лазарева Наталия Леонидовна
RU2615717C1
ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ МИКРОСКОП 2013
  • Вишняков Геннадий Николаевич
  • Левин Геннадий Генрихович
  • Латушко Михаил Иванович
RU2527316C1
ДВУСТОРОННИЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ КОНЦЕВЫХ МЕР ДЛИНЫ 2014
  • Орлов Вячеслав Васильевич
RU2557681C1
ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ КОНТРОЛЯ ФОРМЫ ВЫПУКЛЫХ ГИПЕРБОЛИЧЕСКИХ ЗЕРКАЛ 2017
  • Патрикеев Владимир Евгеньевич
  • Семенов Александр Павлович
  • Пуряев Даниил Трофимович
  • Дружин Владислав Владимирович
RU2649240C1
КОМПАРАТОР ДЛЯ ЛИНЕЙНОГО ИЗМЕРЕНИЯ КОНЦЕВЫХ 1973
  • В. Д. Свердличенко
SU382917A1
ИНТЕРФЕРОМЕТР С ОБРАТНОКРУГОВЫМ ХОДОМ ЛУЧЕЙ 1986
  • Серегин А.Г.
  • Духопел И.И.
  • Долик И.В.
  • Жданова Л.А.
  • Ефимов В.К.
  • Ельницкая Л.С.
  • Константиновская Н.В.
  • Тульева Т.Н.
  • Сидоров В.И.
  • Федина Л.Г.
SU1383969A1
Устройство для определения положения изображения объекта 1974
  • Леонец Владимир Адамович
  • Петров Вячеслав Васильевич
SU515934A1
Интерферометр для контроля измененияАбЕРРАций лиНз и зЕРКАл пРи зАКРЕплЕНиииХ B ОпРАВы 1978
  • Духопел Иван Иванович
  • Славнов Сергей Гаврилович
  • Ефимов Владимир Кондратьевич
  • Федина Людмила Георгиевна
SU848999A1
Интерферометр для измерения перемещений 1980
  • Старков Алексей Логинович
SU934212A1
СПОСОБ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННОЙ МИКРОСКОПИИ 2013
  • Вишняков Геннадий Николаевич
  • Левин Геннадий Генрихович
  • Латушко Михаил Иванович
RU2536764C1

Иллюстрации к изобретению SU 319 838 A1

Реферат патента 1971 года ДВУХЛУЧЕВОЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДИАМЕТРА

Формула изобретения SU 319 838 A1

SU 319 838 A1

Даты

1971-01-01Публикация