СПОСОБ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННОЙ АМПЛИТУДНО МОДУЛЯЦИИ H3Js УЧЕНИЯ*АШ1йО-Т?\Ш:-БНБЛИОТЕ;: Советский патент 1972 года по МПК G02F1/21 G01J3/08 

Описание патента на изобретение SU329409A1

Изобретение относится к области спектрального приборостроения и может найти применение при разработке спектрометров с интерференционной селективной амплитудной модуляцией.

Известен способ интерференционной модуляции, заключающийся в изменении разности хода лри прецизионном возвратно-поступательном перемещении дифракционной решетки в одной из ветвей интерферометра, в то время как сканирование спектра осуществляется одновременным поворотом на одинаковые углы дифракционных решеток в обеих ветвях интерферометра.

Предложенный способ отличается от известного тем, что, с целью повышения качества .модуляции, два когерентных световых пучка, на которые делят параллельный световой пучок, разносят по поверхности плоской дифракционной решетки в направлении дисперсии, затем поворотом дифракционной решетки вокруг оси, проходящей через место падения одного из пучков на решетку, производят сканирование спектра и одновременно с этим постепенное изменение величины оптического пути второго светового пучка. Отраженные от дифракционной рещетки световые пучки сводят в одип для получения интерференции. Поскольку но мере поворота рещетки разность хода этих пучков меняется, при их

интерференции осуществляется интерференционпая амплитудная модуляция. Способ поясняется фиг. 1-3. Дифракционная рещетка занимает положение автоколлимации (см. фиг. 1) при однократной дифракции световых пучков (L - длина нарезанной части решетки, поперек ступенек, О - ось вращения рещетки). Приращение разности хода между крайними лучами каждого интерферирующего пучка, равное л, получают при сканировании спектра на величину б/, (соответствующую переходу от главного максимума до первого минимума дифракционной полосы). При этом, если крайний слева луч правого пучка, отстоящий от оси О на расстоянии п мм, получил приращепие /. при повороте рещетки, то крайний слева луч левого пучка получит приращение

.. Отсюда следует, что при сканировании

спектра на величину дК разность хода между интерферирующими пучками изменяется на величину

f - 1 1 I 5

«/

Дифракционные картины от правого и левого пучков лучей тождественны, однако оптический путь левого пучка непрерывно изменяется при повороте решетки, поэтому при

сведении этих двух пучков в один и интерференции их нри непрерывно меняюнденся разности хода пронсходит интерферегнцюпиая амнлитудная модуляция.

Способ можно осуществить в спектрометрах, схематически показанных на фиг. 2, 3.

На фиг. 2,а представлена оптическая схема спектрометра с однократной днфракцией.

Параллельный пучок лучей, падающих на плоскопараллельную пластинку-светоделитель 1, делится на два когерентных пучка, один из которых носле пентагонального отражателя 2 дифрагирует па нлоской дифракциоиной речлетке 3, а затем возвращается по нервопачальному пути на светоделитель /. Отразившись от светоделителя, пучок соединяется и интерферирует с другим световым пучком, нрошедшим через плосконараллельную пластинку компенсатора 4, претерпевшим дифракцию на решетке 3 и возвратившимся иа светоделитель 1 прежним путем. Селективность иптерференции обусловливается протиВОГ10ЛОЖИОЙ ориентацией спектров, полученных в результате однократной дифракцни каждого пучка. При этом вблизи оптической оси прибора после светоделителя 1 происходит наложение (интерференция) лучей только определенной длины волны, зависящей от установки решетки 3.

Спектр сканируется поворотом дифракционной решетки вокруг оси 5, селективно интерферирующее излучение мод лируется в результате изменения разности хода прн этом повороте.

Па фиг. 2,6 показан спектрометр с двумя идентичными дифракционными решетками

(жестко закреилеппыми на общей плате с целью более полного использования их рабочих поверх1 остей).

Па фиг. 3,а изображена оптическая схема спектрометра, в котором осуществляется двухкратная дифракция. Спектрометр состоит из плоскопараллельной пластинки-светоделителя 1, центагональиого отражателя 2, плоского зеркала 6, закрепленного жестко на общем со светоделителем основании, плоской дифракционной решетки 5 и плоского автоколлимационного зеркала 7. Работает этот спектрометр аналогично снектрометру с однократной дифракцией.

Сцектрометр, осуществляющий двухкратную дифракцию, может содержать две идентичные дифракционные рещетки (жестко закрепленные на общей плите) с целью более полного использования их рабочих поверхностей.

П р с д м е т и 3 о б р е т е и и я

Снособ интерференционной амплитудной модуляции излучения, отличающийся тем, что, с целью повышения качества модуляции, иараллельный световой пучок делят па два когерентных, распространяющихся параллельiio друг другу световых пучка, направляют оба пучка на два pacпoлoжeIп ыx у противоположных краев дифракционной решетки участка, отраженные от дифракционной решетки световые пучки сводят в один для получения интерференции, а дифракционную решетку новорачивают относительно оси, проходящей через один из ее краев.

Похожие патенты SU329409A1

название год авторы номер документа
ДВУХЛУЧЕВОЙ СПЕКТРОФОТОМЕТР С ИНТЕРФЕРЕНЦИОННОЙ СЕЛЕКТИВНОЙ АМПЛИТУДНОЙ МОДУЛЯЦИЕЙ 1970
SU270288A1
Спектрометр 1979
  • Гебгарт Андрей Янович
SU911176A1
Спектометр с интерференционной селективной амплитудой модуляцией 1974
  • Архипов Виктор Михайлович
SU505905A1
Спектрометр с селективной интерференцией 1973
  • Егорова Людмила Викторовна
  • Иевлев Геннадий Александрович
SU463858A1
Спектрометр с интерференционной селективной амплитудной модуляцией 1981
  • Кириченко Николай Андреевич
  • Козлов Юрий Георгиевич
  • Лопатин Александр Иосифович
  • Масленников Олег Александрович
  • Раховский Вадим Израилович
  • Шустряков Валерий Михайлович
  • Шухтин Алексей Михайлович
SU979884A1
Спектрометр 1979
  • Гебгарт Андрей Янович
SU842427A1
ИНТЕНФЕРОМЕТР ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПРЯМОЛИНЕЙНОСТИ И ПЛОСКОСТНОСТИ ПОВЕРХНОСТИ ОБЪЕКТА 1981
  • Духопел И.И.
  • Мышкина Н.Е.
  • Рассудова Г.Н.
  • Сердюк С.Г.
  • Серегин А.Г.
SU980507A1
Интерферометр 1990
  • Попков Анатолий Викторович
  • Гусейнов Вадим Юрьевич
SU1749700A1
ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОПТИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК ОПТИЧЕСКИХ ЭЛЕМЕНТОВ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ (ВАРИАНТЫ) 1993
  • Кулеш В.П.
  • Москалик Л.М.
  • Близнюк Ю.А.
  • Шаров А.А.
RU2078307C1
Спектрометр-интерферометр с селективной амплитудной модуляцией 1959
  • Архипов В.М.
  • Желудов Б.А.
  • Киселев Б.А.
SU127053A1

Иллюстрации к изобретению SU 329 409 A1

Реферат патента 1972 года СПОСОБ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННОЙ АМПЛИТУДНО МОДУЛЯЦИИ H3Js УЧЕНИЯ*АШ1йО-Т?\Ш:-БНБЛИОТЕ;:

Формула изобретения SU 329 409 A1

Т

5

2

Фиг.З

SU 329 409 A1

Даты

1972-01-01Публикация