Спектрометр-интерферометр с селективной амплитудной модуляцией Советский патент 1960 года по МПК G02F1/21 G01J3/18 G01B9/02 

Известен спектрометр-интерферометр с селективной амплитудной модуляцией, выполненный по схеме интерферометра Майкельсона, в котором плоские концевые зеркала заменены дифракционными решетками. Недостаток известного ярибора состоит в сложности механизма поворота решеток вокруг осей в противоположные стороны.

В описываемом спектрометре-интерферометре указанный недостаток устранен тем, что решетки установлены на обш,ем основании параллельно или перпендикулярно друг другу и при сканировании спектра совместно врашаются вокруг общего центра. При этом сохраняется равенство углов падения лучей на дифракционные решетки, что необходимо для обеспечения работы -прибора. Модуляция в приборе происходит путем изменения разности хода лучей вращением плоскопараллельпой пластинки-компенсатора.

Схема спектрометра-интерферометра, в котором дифракционные рещетки установлены параллельно друг другу, изображена на фиг. 1, а спектрометр-интерферометр с перпендикулярным расположением дифракционных решеток - на фиг. 2.

Пучок параллельных лучей, падающих на плоскопараллельную пластинку-делитель J, делится на два интерферирующих между собой пучка, проходящих одинаковые пути. Модуляция производится при изменении разности хола вращением плосколараллельной пластинки-компенсатора 2. Пучок параллельных лучей после делителя / и компенсатора 2 отражается с помощью плоских зеркал 5 и на дифракционные рещетки 5 и 6. Решетки установлены на общем основании параллельно (фиг. 1) или перпендикулярно (фиг. 2) друг другу. При сканировании спектра дифракционные решетки 5 и 6 вращаются вокруг общего центра 7. При этом сохраняется равенство углов падения лучей на дифракционные решетки 5 п 6, что необходимо для правильной работы прибора. Описанный прибор позволяет автоматически сохранять равенство углов падения лучей и исключить сложный механизм сканирования спектра.

№ 127053

Предмет изобретения

Спектрометр-интерферометр с селективной амплитудной модуляцией, выполнепный по схеме двухлучевого интерферометра типа Майкельсона с двумя дифракционными решетками, отличающийся тем, что, с целью автоматического сохранения равенства углов падения лучей на дифракционные решетки при сканировании спектра, решетки установлены на обш,ем основании параллельно или перпендикулярно друг другу., ,

2 .

7