ЭТАЛОН ПРЯМОЛИНЕЙНОСТИ Советский патент 1972 года по МПК G01B5/28 

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к средствам для измерения непрямолинейности в машиностроении.

Известны эталоны прямолинейности, выполненные в виде тонкой натянутой нити. Отсчет отклонений от эталона осуществляют с помощью измерительного микроскопа.

Недостатком известных эталонов является гравитационный прогиб тонкой нити, который принципиально не может быть устранен натяжением ее.

С целью повыщения точности измерения нить помещена в кювету, заполненную прозрачной жидкостью, плотность которой равна плотности нити.

Кроме того жидкость и нить имеют одинаковые коэффициенты объемного расширения, что позволяет использовать эталон прямолинейности в широком интервале температур.

На чертеже изображен этало 1 прямолинейности.

Он состоит из кюветы / и натянутой внутри нее тонкой нити 2, выполненной из полимерных материалов. Толщина нити не превыщает нескольких десятков микрон и соответствует толщине штрихов на измерительных шкалах. Лицевая сторона кюветы закрыта покровным стеклом 3, позволяющим наблюдать нить с помощью измерительного микроскопа. Внутренняя полость кюветы заполнена прозрачной жидкостью, плотность которой равна плотности нити. Кроме того, должно быть обеспечепо равенство объемных коэффициентов расширения для жидкости и нити, вследствие чего сохраняется равенство плотностей в достаточно широком интервале температур.

Измерение прямолинейности с помощью эталона прямолинейности выполняют следующим образом:

устанавливают эталон прямолинейности на контролируемую поверхность;

благодаря тому, что плотность нити и плотность окружающей ее среды равны, выталкивающая сила и вес нити будут взаимно уравновешены и нить будет подвержена действию только внутренних сил и нримет прямолинейную форму;

на контролируемую поверхность устанавливают каретку с измерительным микроскопом; перемещают каретку с измерительным микроскопом вдоль эталона прямолинейности и наблюдают за положением нити, смещение изображения нити в поле зрения микроскопа принимают за отклонение контролируемой поверхности от прямолинейности.

йый для работы с измерительным микроскопом, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения, нить помещена в кювету, заполненную прозрачной жидкостью, плотность которой равна плотности нити.

2. Эталон прямолинейности по п. 1, отличающийся тем, что коэффициент объёмного расП1ирения заполняющей кювету жидкости равен коэффициенту объемного расширения нити.

toT Т« f

i;

-Ни

TV.,