СПОСОБ МОДЕЛИРОВАНИЯ МИКРОПОЛЕЙ В МЕЖЭЛЕКТРОДНОМ ПРОСТРАНСТВЕ ЭЛЕКТРОЛИЗЕРОВ Советский патент 1972 года по МПК C25C7/06 C25C1/00 

Изобретение относится к металлургической и химической промышленности и предназначено для изучения процессов, протекающих в электрохимических системах.

Известен способ моделирования микрополей в межэлектродном пространстве электролизеров, включающий измерение электрических полей зарядов электрода и изучаемой частицы. Однако этот способ не позволяет производить оценку траектории частиц, движущихся под действием суммарного электрического поля к электродам со сложным рельефом.

По предлагаемому способу ток от всех электродов направляют к зонду, имеющему конфигурацию изучаемой частицы, и поддерживают постоянными при любом расположении подвижного зонда, а потенциал измеряют в точке расположения зонда по отношению к любому из электродов.

Снособ поясняется чертежом.

Зонд с конфигурацией изучаемой частицы располагают в проводящей среде, моделирующей проводящую среду электролизера. На электроды 1, выполняющие роль анода и катода, подают электрический ток через сопротивления 2 и амперметры 3, который, проходя через среду, достигает контактов 4 зонда. Затем электрическая цепь замыкается через

амперметры 5 и сопротивления 6 и источник питания.

Суммарный потенциал измеряют при помощи потенциометра 7, включающегося через переключатель 8. Для моделирования заряженной частицы противоположного знака к контакту 9 подводят ток через амперметр 10 и сопротивления 11. Определение электрического поля ведут по эквипотенциальным лиПИЯМ, полученным при передвижении зонда.

При этом по амперметрам 3, 5-10 поддерживаются заданные величины токов.

Предмет изобретения

Способ моделирования микрополей в межэлектродном пространстве электролизеров, включающий измерение электрических полей зарядов электрода и изучаемой частицы, отличающийся тем, что, с целью оценки траектории частиц, движущихся под действием суммарного электрического ноля к поверхности электродов сложных рельефов, токи от электродов направляют к подвижному зонду и поддерживают постоянными при любом

расположении подвижного зонда, имеющего конфигурацию изучаемой частицы, а суммарный потенциал измеряют в точке расположения зонда по отношению к любому из электродов.