Устройство для измерения радиусов кривизны больших поверхностей Советский патент 1934 года по МПК G01B11/255 

При измерении радиуса кривизны поверхностей астрономических зеркал, линз объективов и вообще любых больших сферических поверхностей умеренной кривизны в процессе их изготовления пользуются в большинстве случаев прибором, называемым сферометром.

Сферометры обычного типа имеют в своем основании микрометренный винт или шкалу высокой точности изготовления, с помощью которых измеряется стрелка, а по ней и радиус кривизны испытуемой поверхности.

Эти сферометры достаточно сложньь требуют исключительной точности механической, а иногда и оптической частей, а потому цена их весьма высока.

Предлагаемое устройство для этой же дели построено по иному принципу, заключающемуся в применении эталона постоянной толщины в виде шариков, причем отсчеты длин производятся по шкале пониженной точности.

На чертеже фиг. 1 изображает вид устройства сверху; фиг. 2-схему устройства для измерения радиуса кривизны вогнутых поверхностей; фиг, 3-схему устройства для измерения радиуса кривизны выпуклых поверхностей.

Устройство (фиг. 1) состоит из снабженной делениями линейки / из проэдэачного материала (стекла) и одного или двух шариков 2 « 2.

На нижней поверхности линейки /

I429J

выфрезерован желобок 3 для прохождения нити 4, с помощью которой по измеряемой поверхности подтягивается шарик 2 до соприкосновения с линейкой 7. Для отсчетов и установки на центр шарика предусмотрен хомутик 5, снабженный любыми штрихами и нониусом на зеркальном стекле, которое, кроме того, может быть частично засеребрено снизу для наблюдения зеркального отражения штриха. К каждому устройству желательно иметь набор из нескольких шариков 2, построенный приблизительно по следующей системе:

.,-.d;:d...l: /У: 2: 2 /Т..

На фиг. 2 представлена схема измерения радиуса кривизны вогнутой поверхности. Зная диаметр d шарика 2 и имея,отсчеты «i, «2 и п, дающие величины D и I, находят радиус кривизны R поверхности по следующей формуле:

г(Б-1} .

. (1)

f - олг

81 (Б - I)

2d

При небольших относительных кривизнах вторым членом формулы можно пренебречь. На фиг. 2 представлена схема измерения радиуса кривизны выпуклой сферической поверхности с помощью двух шариков 2 и 2, произвольного, но точно измеренного диаметра di и dz. Измерение величины / производят по той же шкале при пониженной