ДЕРЖАТЕЛЬ ОБРАЗЦОВ ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ МАГНИТНЫХ МАТЕРИАЛОВ Советский патент 1972 года по МПК G01R33/12 

Изобретение предназначено для применения Б приборах, измеряющих магнитные параметры ферритов и магнитодиэлектриков тороидальной формы: комплексную магнитную проницаемость и величину угла потерь.

Известные держатели образцов для измерения параметров магнитных материалов основаны на сочетании коаксиальной индуктивности и рамки, магнитное ноле в которых строго симметрично и-не зависит от токов, протекающих по остальным сторонам рамки. Чистота магнитного поля в держателе обуславливается экранирующим действием наружного цилиндра держателя образца.

Однако при использовании известного держателя для помещения образца в контейнер необходимо размыкать рамку, и кроме того, на результаты измерения влияет поле излучения и соседние окрул ающие предметы.

Для исключения переходных сопротивлений контактов и увеличения точности измерений предлагаемый держатель выполнен из двух последовательно соединенн 1х коаксиальной индуктивности и коаксиальной емкости, имеющих общий высокопотенциальный электрод. ; Кроме того, для исключения влияния поля излучения на результат измерения, к верхнему концу держателя, к его низкопотенциальному электроду присоединен закороченный на конце экран, имеющий на боковой поверхности отверстие, через которое исследуемый образец помещается в держатель и вынимается из него.

Измерение параметров образцов с помощью описываемого держателя проводят в следующем порядке.

Сначала производят измерение без образца. Затем образец через окно в экране опускают по центральному стержню в коаксиальную индуктивность. Проводят измерение с образцом. При опускании образца держатель устанавливают под углом (в зависимости от размеров образца) для плавного скольжения образца во избежание его поломки.

После окончания измерения держатель наклоняют, и образец выкатывается на внутреннюю крышку экрана, которая имеет резиновую прокладку. Через окно экрана образец вынимают пинцетом.

На фиг. 1 показан описываемый держатель, где / - конденсатор, выполненный в виде разомкнутой на конце коаксиальной линии;

2- контейнер-индуктивность, представляющая собой короткозамкнутый отрезок коаксиальной линии;

3- внутренний электрод, общий для емкости и индуктивности;

7,8 - выводы для подключения в схему измерительного прибора;

9- экран;

10- исследуемый образец.

Электрическая схема держателя представляет собой последовательное соединение емкости и индуктивности (см. фиг. 2).

Конструктивно держатель выполнен так, что емкость и индуктивность имеют общий внутренний электрод, по которому исследуемый образец через емкость С проходит в индуктивность-контейнер L. При такой конструкции удается избавиться от переходного контакта, который неизбежен при помещении образца в катушку индуктивности или на конец короткозамкнутой линии.

Известно, что при открытом коаксиальном держателе часть энергии, подаваемой к образцу, теряется за счет излучения. Кроме того, в месте перехода к свободному пространству возникает дополнительная реактивность, обусловленная волнами высшего порядка. Для того, чтобы уменьшить эту погрешность, к верхнему концу держателя и низкопотенциальному электроду присоединен закороченный на конце экран, имеющий окно для помещения образца в держатель.

При исследовании характеристик ферритов или магнитодиэлектриков тороидальной формы образец через окно в экране опускается по центральному стержню в коаксиальную индуктивность. После окончания измерения держатель наклоняется и образец выкатывается 5 на внутреннюю крышку экрана.

Предмет изобретения

0 1. Держатель образцов для измерения параметров магнитных материалов, содержащий контейнер образцов - коаксиальную индуктивность, замыкатель, устройство крепления держателя, отличающийся тем, что, с целью

5 исключения переходных сопротивлений контактов и увеличения точности измерений, держатель выполнен из двух последовательно соединенных коаксиальной емкости и коаксиальной индуктивности, имеющих общий высо0 копотенциальный электрод.

2. Держатель по п. 1, отличающийся тем, что, с целью исключения влияния поля излучения на результат измерения, к верхнему концу держателя, к его низкопотенциально5 му электроду присоединен закороченный на конце экран, имеющий на боковой поверхности отверстие, через которое исследуемый образец помещается в держатель и вынимается из него.