СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЧИСЛА И ЯРКОСТИ Советский патент 1972 года по МПК H01J31/50 

Изобретение относится к метрике электронно-оптических преобразователей (3Ullj, в частности, к определению шумов приборов. Известен способ определения числа и яркости сцинтилляций ;по спектрам ам1плитуд световых импульсов с выходного экрана yUil. Он СОСТОИТ в том, что dUli освещается слабым рассеянным светом (на уровне одиночных квантов), и за выходным экраном УОИ помещается фотоэлектронный умножитель (ФУУ), с выхода которого амплитудным анализатором импульсов регистрируются распределения амплитуд и количество световых вспышек с экрана при освещении ЭиП и в темноте (амплитудный спектр ;С|Цинтилля.щ-1Й). Путем вьгчитания амплитудных распределений (Световых вспышек, измеренных в этих условиях, рассчитывают амплитудное распределение, соответствующее вспышкам с выходного экрана, вызванным одиночными электронами со входного .фотокатода, и определяют амплитуду, соответствующую максимуму этого распределения - амплитуду «одноэлектронного пика. Амплитуды сцинтилляций определяются по количеству электронов со входного фото-катода ,по амплитуде этого пика. спе.ктров, что связано не только со сложностью осуществления измерений, но и практически неосуществимо для эбп с малым усилением яркости. К недостаткам следует отнести также и то, что при длительном послесвечении экрана (порядка нескольких Ml сек), снятие «одиоэлектронного спектра практически невоздможно из-за большой вероятности самосовяадений световых вспышек с выходного экрана ЭОГ1 за анализируемый интервал времени при имеющих место в реальных фотокатодах величинах термоэмиссии. Отличие предложенного способа определения- числа и яркости сцинтилляций состоит в том, что входной фотокатод прибора освещают и.мпульсным световым потоком с последующим анализом спектра от этого потока. Достоинство лредлолсенного способа заключается в упрощении измерений и обеспечении возмол ности анализа сцинтилляций в приборах iC большим временем послесвечения экрана с малым усилением яркости или ири наличии фоновой засветки. Сущность изобретения сводится к освещению входного фотокатода ЭОП импульсным световым потоком, к определению по амплитуде |опе,ктра от этого потока, соответствующей максимуму распределения и полуширине распределения положения «одноэлект.ронного пика. Эти данные достаточны для опредения положения «одноэлектройиого лика, поскольку распределение амплитуд .подчиняется закону Гаусса. Таким образом, предлагаемый ;ono.coi6 измерения заключается в следующем. Измеряется амллитудньгй спектр сцинтилляций иа выходном экране затем1неН1Ного ЭОП. Затем входной фотокатод ЭОП освещается короткой интенсивной свеТОБОЙ вопыщкой, с выходного экрана ЭОП снимается амплитудное распределение этой вспыщки, определяется амллитуда, соответствующая максимуму распределения Лмакс и полуширина распределения R, равная отношению ширины распределения на полувысоте к наиболее вероятной амплитуде. Среднее число фотоэлектронов по вспыШКе, вылетевших со входного фотокатода ЭОП, рассчитывается по известной формуле Флейшмана Положение «од«оэлектронного : пика рассчитывается по формуле: По величине амплитуды «одноэлектронного пика и амплитудному спектру сцинтилляций можно определить.число и яркость сцинтилляций в любой точке опектр.а. Предмет изобретения Способ определения числа и яркости сцинтилляций в электронно-оптических -преобразователях, основанпы-й на освещении входного фотокатода прибора световым потоком, затемнении входного фотокатода, преобразовании световых вспышек с экрана в электрические сигналы, измерения амплитудного спектра и определении по амплитудному спектру положения «одноэлектронного пика, отличающийся тем, что, с целью упрощения измерений и обеспечения возможности анализа сцинтилляций в приборах с большим временем послесвечения экрана, входной фотокатод освещают импульсным световым потоком с последующим анализом спектра от этого потока.