Прибор для определения светорассеяния мутности среды при помощи фотоэлемента состоит из ряда линз, имеющих общую ось 00 (см. чертеж). Источник света S, расположенн зш на, оси, освещает при помощи линзы Z-i небольшое отверстие а в непрозрачном экране М, которое служит источником света для остальной оптической системы. Линза главный фокус которой находится в а, делает пучок параллельным. Параллельный пучок падает на линзу L, фокус которой лежит, в плоскости N, Линза Zg собирает параллельный пучок в другом фокусе в точке А, после чего пучок снова расходится и падает на линзу L, позади, которой помещен фотоэлемент Ф.
Фотоэлемент расположен таким образом, что задняя его поверхность приходится в фокальной плоскости линзы L (точка А не лежит в фокусе Lt).
При таком расположении линз пучок света, выщедщий из а и попавщий на линзу /-2, осветит часть поверхности фотоэлемента ,и вызовет фототок /о, пропорциональный попавшему в фотоэлемент потоку FQ
1 К FOПосле этого помещают исследуемый мутный слой в плоскости N, т. е. в параллельном пучке. Часть лучистого потока FI пройдет через слой по старому пути и даст фототок
FI.
{527)
Часть потока рассеивается частицами слоя, который, вследствие этого, становится самостоятельным источником излучения. Часть этого рассеянного слоен, потока падает на линзу L, в фокусе которой находится слой и, пройдя параллельным пучком между линзами LS и /-4, дает в фокальной плоскости L (дно фотоэлемента) изображение слоя. Поток Гд, попадающий в фотоэлемент из рассеянного слоем света, вызывает пропорциональный себе фототок /j
1,кГ,.
Помещая в плоскость N мутный слой, измеряют сумму токов /i-j-72 /si которая вызывается попадающими одновременно в фотоэлемент потоками Fi и jFa- Для того, чтобы отделить поток Fi от потока Fj, помещают в фокусе линзы LZ там, где собираются лучи, проходящие через спой по прежнему пути, маленький экран Т, который не мещает рассеянным лучам попадать из /.j в Li, а лучи, собирающиеся в А, задерживает целиком.
Таким образом, возможно измерить следующие токи: 1) /о, 2) Д-|-/2 /з
и 3) /2.
Ji (
- J.
Отнощение -f- -Y t дает ко0-I
эфициент пропускания „прямых лучей исследуемым слоем.
Отнощение же j- 5 характеризуе;с степень мутности слоя.i
Весь прибор от непрозрачного экрана М до фотоэлемента включительно, должен быть заключен в твердый светонепроницаемый футляр (черный изнутри) для устранения возможности попадания в фотоэлемент постороннего света.
Предлагаемый прибор дает возможность: 1) измерить в чистом виде пропускание «прямых лучей без примеси рассеянных и 2) дать численную характеристику малых мутностей в направлении проходящего света (обычно измерения производятся в направлении, перпендикулярном к направлению луча).
Данным прибором можно производить измерения в различных условиях.
Можно также снабдить фотоэлемент фильтром, приводящим кривую его
чувствительности к кривой чувствительности глаза или, взяв в качестве источника света 5 щель монохроматора, делать измерения для любой длины
Предмет изобретения.
Прибор для определения светорассеяния и мутности среды при помощи фотоэлемента, отличающийся тем, что, с целью отделения потока прощедших через мутный слой лучей от потока лучей рассеянных, в фокусе собирательной линзы Z.3, находящейся между фотоэлементом и освещаемой пучком параллельных лучей мутной средой, помещен экран Т.
