Изобретение относится к неразрушающе.му контролю материалов и может быть использовано при измерении толщины крупногабаритных объектов. Известен способ измерения толщины крупногабаритных неферромагнитных изделий, заключающийся в том, что создают магнитное ноле излучателем, например кольцевой рамкой с током, который располагают на одной поверхности контролируемого изделия и измеряют это поле преобразователем параметра поля в электрический сигнал, например индукционным, который устанавливают на другой поверхности коптролируемого изделия. Однако при реализации этого способа возможна методическая погрешность из-за несоосности излучателя и преобразователя, расноложенных с противоположных сторон контролируемого изделия. Цель изобретения - повышение точности измерения. Достигается она тем, что создают компенсирующее магнитное поле дополнительны.м излучателем и жестко связывают его с преобразователем параметра поля, фиксируют этим преобразователем нулевое результирующее значение магнитных полей при максимальном значении измеряемой толщины, измеряют индикатором линейных размеров расстояние между преобразователем параметра поля и ближайшей поверхностью контролируемого изделия, вычитают это расстояние из максимального значения измеряемой толщины и получают значенпе толщины контролируемого изделия. На чертеже нредставлен вариант устройства для реализации предлагаемого способа. Устройство содержит излучатель /, преобразователь 2, расположепные с противоположных сторо) контролируемого изделия 3 и излучатель 4 компенсирующего поля, жестко связанный с преобразователем 2. Толщина изделия измеряется следующил образом. Накладывают преобразователь 2 па поверхность коптролпруемого изделия, ориентируют его до соосного относительно излучателя / положения, преобразователем 2 фиксируют нулевое результирующее значение магнитных полей нри расстоянии его от излучателя /, соответствующем максимально возможной толщине контролируемого 1зделия, и перемещают до момента, когда сигнал с выхода преобразователя будет равен нулю. Измеряют любым индикатором линейных величин расстояние до ближайшей поверхности изделия и вычитают его из значения максимально возможной толщины. Предмет изобретения
щийся в том, что создают магнитное поле нзлучателем, например кольцевой рамкой с током, который располагают на одной поверхности контролируемого изделия, и измеряют это ноле нреобразователем параметра поля в электрический сигнал, например индукционным, который устанавливают на другой поверхности контролируемого изделия, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения, создают компенсирующее магнитное поле дополнительным излучателем и жестко связывают его с преобразователем параметра поля, фиксируют этим преобразователем нулевое результирующее значение магннтных нолей при максимальном значении измеряемой толщины, измеряют индикатором линейных размеров расстояние между нреобразователем параметра поля и ближайшей поверхностью контролируемого изделия, вычитают это расстояние из максимального значения нзмеряемой толщины и получают значение толщины контролируемого изделия.
