Способ измерения толщины крупногабаритных неферромагнитных изделий Советский патент 1978 года по МПК G01B7/06 

Описание патента на изобретение SU619782A1

ти изделия 3 до положения, когда сигнал на его выходе станет равным нулю, что свидетельствует о нулевом значении- поля источников в точке расположения преобразователя. Индикатором линейных величин (не показан) измеряют расстояние от преобразователя 4 до ближайшей к нему поверхности изделия 3. ВеличнЕу измеренного расстояния вычитают из максимального значения иэмepяe влc толщин, которые -для этой системы источников поля определяются их геометрией и отно1мениём ампервитк, и получают значение измеряемой толвигны изделия.

Таким образом, оба источника поля располагаются на одной поверхности изделия, и проводная связь между элементами толщиномера, располагаемьв-ш по разные стороны крупногабаритного изделия, отсутствует, что упрощает процесс измерения.

Формула изобретения

Способ измерения толщины крупноава(Я1тмых неферрсмагнитных изделий, аключашбийся в том, что на одной оверхности изделия размещают источик о сновного магнитного поля, наприМёр кольцевую рамку с током, с противоположной стороны изделия на расстоянии, равном максимальному значению измеряемой толщины, устанавтжвают измерительный преобразователь, например индукционный, соосно источнику основного магнитного поля размещгиот источник компенсирующего магнитного поля перемещая измерительны преобразователь перпендикулярно поверхности изделия, находят точку, в которой результирующее магнитное пол равно нулю, измеряют с помощью индикатора линейных величин расстояние между измерительным преобразователем и поверхность изделия и по разности между максимальным значением изменяемой толщины и измеренным расстоянием судят о толщине изделия, отличающийся тем, что, с целью упрсхцения процесса измерения, источник компенсирующего магнитного поля располаггиот с той же стороны изделия что и источник основного магнитного поля на фиксированном расстоянии от него.

Источники инфо яи1ации, принятые в внимание при экспертизе:

1. ABTojxjKoe свидетельство СССР 352114,кл. С 01 В 7/06, 1969,

Похожие патенты SU619782A1

название год авторы номер документа
Способ измерения толщины слоев многослойных изделий 1981
  • Брандорф Виктор Григорьевич
  • Котляров Владимир Леонидович
SU954802A1
Цифровой электромагнитный толщиномер 1976
  • Брандорф Виктор Григорьевич
  • Котляров Владимир Леонидович
SU654850A1
Способ измерения толщины слоев 1988
  • Аграновский Борис Александрович
  • Брандорф Виктор Григорьевич
SU1610239A1
Преобразователь толщины в интервал времени 1985
  • Брандорф Виктор Григорьевич
SU1285316A1
Способ измерения толщины слоев 1987
  • Аграновский Борис Александрович
  • Брандорф Виктор Григорьевич
  • Кизилов Юрий Николаевич
SU1523899A1
Способ измерения толщины неферромагнитных изделий 1981
  • Брандорф Виктор Григорьевич
  • Котляров Владимир Леонидович
SU962757A1
Электромагнитный толщиномер 1978
  • Брандорф Виктор Григорьевич
  • Котляров Владимир Леонидович
SU949332A1
Преобразователь толщины в интервал времени 1983
  • Брандорф Виктор Григорьевич
  • Котляров Владимир Леонидович
SU1153232A1
Способ толщинометрии крупногабаритных листовых и рулонных изделий и устройство для его осуществления 1981
  • Фридман Борис Петрович
SU1030718A1
Цифровой электромагнитный толщиномер 1988
  • Брандорф Виктор Григорьевич
  • Котляров Владимир Леонидович
SU1839228A1

Иллюстрации к изобретению SU 619 782 A1

Реферат патента 1978 года Способ измерения толщины крупногабаритных неферромагнитных изделий

Формула изобретения SU 619 782 A1

SU 619 782 A1

Авторы

Брандорф Виктор Григорьевич

Котляров Владимир Леонидович

Даты

1978-08-15Публикация

1976-10-07Подача