эСеСОЮЗНАЯ OiTEiiTHO-TEXHHHECKAf Советский патент 1973 года по МПК G01N27/22 

1

Изобретение относится к области измерения диэлектрических характеристик неоднородных и анизотропных материалов.

В известных способах исследования диэлектрических свойств анизотропных материалов для снятия полной диаграммы анизотропии измеряют емкость под различными углами электродов относительно осей анизотропии, затем определяют диэлектрическую проницаемость или тангенс угла диэлектрических потерь и строят диаграмму анизотропии. Однако в известных способах трудно автоматически регистрировать результаты контроля.

Предлагаемый способ значительно повышает оперативность исследований, позволяет непосредственно получить на экране осциллографа осциллограмму, характеризующую неоднородности материала и, в случае необходимости, автоматически записать ее.

Сущность предлагаемого способа заключается в том, что периодически изменяют направление вектора напряженности электрического поля конденсатора, например созданием вращающегося электрического поля. Периодическое изменение параметров измерительного

конденсатора, например емкости, амплитудновременную характеристику наблюдают на экране осциллографа или другим способом определяют параметры ее формы. По форме амплитудно-временной осциллограммы судят о характере неоднородностей исследуемого материала, например определяют коэффициент анизотропии.

Предмет изобретения

Способ определения анизотропных диэлектрических свойств материалов, основанный на измерении параметров конденсатора с контролируемым веществом путем изменения направления вектора напряженности электрического поля в нем, отличающийся тем, что, с целью повыщения точности и автоматизации регистрации результатов контроля, создают в материале вращающееся электрическое поле, регистрируют амплитудно-временную осциллограмму параметров конденсатора и по осциллограмме определяют показатель анизотропии.