Способ измерения размеров изделий Советский патент 1983 года по МПК G01B11/10 

Описание патента на изобретение SU372429A1

Изобретеш1е относится к области .контрольно-измерительной техники и может быть использовано, в частности для автоматического измерения и конт роля диаметров проводов и волокон в Процессе их изготовления. Известен способ измерения размеров изделий, например диаметра прово да или волокна, заключающийся в том, что направляют лазерное излучекие на изделие, получают дифракцию лазерного излучения на измеряемом изделии,регистрируют возникаемую при этом дифракционную картину, по iкоторой и судят об измеряемом разме ре° изделия, Однако такой способ измерения и контроля является все же недостаточно совершенным, сло)хным и дорогим, Он йе полностью использует возможную при дифракционном методе точность измерения, что объясняется несовершенством способа регистрации дифракционной картины. Предлагаемый способ отличается от известного тем, что с целью повышения точности измерения, а также обеспечения измерения размеров изде лия в процессе его изготовления расияиряют лазерное излучение до его падения на изделие, производят сканирование дифракционной картины, по лучают электрические сигналы, соответствующие распределению интенсивкости излучения в дифракционной картине, автоматически измеряют интервал времени меаду электрическими си калами, прямо пропорциональный рас- ;5тоянию между двумя соседними-мчни1 умами дифракционной картины, и судят по нему об измеряемом размере изделия. На фиг. 1 изображена принципиаль ная схема устройства для осуществления предлагаемого способа; на фиг. 2 - временные диаграммы. Устройство содержит оптический квантовый генератор (лазер) 1, линз&л 2 к 3 телескопической системы, расиирякщейлуч, фокусирующую линзу 4, вращакшщйся отражатель 5, входHyio щель 6 фотоэлектронного устройс ва, фотоэлектронное устройство 7, осциллограф 8, усили;гель 9, дифференщфуюоше цепочки 10 и П, элек ронное устройство i2, иэмеряющее интервал мезвду двумя импульсами, цифровое или исполнительное устройство 13. Способ измерения и контроля размеров изделий заключается в следующем. Излучение газового оптического квантового генератора (лазера) 1- пропускают через телескопическую систему для увеличения р.азмеров поперечного сечения луча и через измеряемый (или контролируемый) провод (или волокно) 14. Излучение проходит через линзу 4, в фокальной плоскости которой получается дифракционная картина. Пежду фокальной, плоскостью линзы 4 и самой линзой помещают вращающийся отражатель (например, зеркало) 5 о В этом случае положение дифракционной, картины будет зависеть от полож.ения вращающегося от- разкателя. Если в фокальной плоскости поместить фотоэлектронное устройство (например, ФЭУ или фотоэлемент) с узкой входной щелью, то при вращении отралсателя дифракционная картина будет сканироваться по щели 6 фотоэлектронного устройства 7, на его; выходе будет получен электрический сигнал, описывающий распределение интенсивности в дифракционной картине, которое, в свою очередь, связано с диаметром контролируемого провода i или волокна Так как отражатель 5 вращается с постоянной и известной скоростью, то расстояние между двумя соседними минимумами дифракционной картины Прямо пропорционально диаметру провода (вблизи центрального максимума), Сигнал с фотозлектронногр устройства 7 можно подавать непосредственно на электронное регистрирующее устройство (например, осциллограф 8) для визуального Юаределения диаметра или на электронное устройство, определяющее ширину одного из дифракционных максгпчумов по минимальному (или нулевому) уровню. Задача сводится к автомд1тическому электронному измерению .расстояния между двумя соседними минимумами дифракционной картины и может быть осуществлена следующим образом. Электрический сигнал с фотоэлектройного устройства 7, повторяющий дифракционное распределение, усиливается усилителем 9 и проходит через две дифференциругсщ5ие цепочки 0 и П, т.е. дважды дифференцируется (см. фиг. 2), На выходе второй дифференцируюцей цепочки будут при этом полу;чены однополяргаае импульсы, соот

Похожие патенты SU372429A1

название год авторы номер документа
Способ измерения линейных размеровиздЕлий 1979
  • Веселовский Андрей Борисович
  • Митрофанов Андрей Сергеевич
  • Тарлыков Владимир Алексеевич
SU832325A1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ РАЗМЕРОВ СРЕДНЕГО ДИАМЕТРА ОБЪЕКТОВ В ГРУППЕ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 1992
  • Мелик-Саркисян В.П.
  • Буряченко В.Ф.
  • Пресняков Ю.П.
RU2044265C1
СПОСОБ КОНТРОЛЯ ФИЗИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ДВИЖУЩЕЙСЯ НИТИ 1996
  • Шляхтенко П.Г.
  • Мещерякова Г.П.
  • Труевцев Н.Н.
  • Лучинкина В.В.
RU2138588C1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЙ ОТ ПРЯМОЛИНЕЙНОСТИ 2000
  • Леун Е.В.
  • Серебряков В.П.
  • Шулепов А.В.
  • Загребельный В.Е.
  • Рожков Н.Ф.
  • Василенко А.Н.
RU2175753C1
Фотоэлектрический способ измерения линейных размеров изделия и устройство для реализации способа 1974
  • Грейм Игорь Александрович
  • Махов Евгений Михайлович
  • Назаров Виктор Николаевич
SU521456A1
Способ и устройство для Фурье-анализа жидких светопропускающих сред 2021
  • Дроханов Алексей Никифорович
  • Благовещенский Владислав Германович
  • Краснов Андрей Евгеньевич
  • Назойкин Евгений Анатольевич
RU2770415C1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ МАЛЫХ УГЛОВЫХ ПОВОРОТОВ 1993
  • Арефьев А.А.
  • Канашкин Р.О.
RU2044271C1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ СТРУКТУРНОЙ 1973
  • М. А. Воробьев, А. Гурвич И. А. Старобинец
SU386325A1
ПРОГРАММИРУЕМЫЙ ПОЛЯРИТОННЫЙ СИМУЛЯТОР 2020
  • Павлос Лагудакис
  • Сергей Юрьевич Аляткин
  • Алексис Аскитопулос
RU2745206C1
Способ измерения кривизны фазового фронта пучка электромагнитного излучения 1983
  • Епишин Владимир Андреевич
  • Заславский Виталий Яковлевич
  • Неофитный Михаил Васильевич
  • Пржевский Сергей Сергеевич
SU1124180A1

Иллюстрации к изобретению SU 372 429 A1

Реферат патента 1983 года Способ измерения размеров изделий

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ РАЗМЕРОВ 113ДЕЛИЙ, например диаметра провода . или волокна, заключающийся в том, •что направляют лазерное излучение на ^изделие, получают дифракцию лазерного излучения на измеряемом изделии, регистрир5тот возникаемую при этом дифракционную картину, о т л и ч а ю-щ и и с я тем, что, с целью повышения точности измерения, а также обеспечения измерения, размеров изде— !лия в процессе его изготовления, расширяют лазерное излучение до ег;о падения на изделие, производят сканирование дифракционной картины, получают электрические сигналы, соответ- ствукядие распределению интенсивности излучения в дифракционной картине, и автоматически измеряют интервал времени между электрическими сигналами, прямо пропорциональный расстоянию между двумя соседними минимумами дифракционной картины, и судят 'по нему об измеряемом размере изделия.i(Лсо •vi to4^ ЮСО

SU 372 429 A1

Авторы

Крылов К.И.

Митрофанов А.С.

Султанов Р.В.

Тарлыков В.А.

Даты

1983-09-30Публикация

1971-04-27Подача