УРОВНЕМЕР ЖИДКИХ И СЫПУЧИХ СРЕД Советский патент 1973 года по МПК G01F23/22 

1

Изобретение относится к области приборостроения.

Известный уровнемер жидких и сыпучих сред, содержащий подключенный к источнику высокого напряжения измерительный электрод, расположенный над поверхностью среды, используемой в качестве второго электрода, и измерительное устройство, не обладает достаточной точностью измерения, поскольку поверхность жидкости под воздействием на нее разряда деформируется и колеблется, что вносит погрешность в измерение.

Предлагаемое устройство для повышения точности измерения снабжено дополнительным электродом, установленным в межэлектродном пространстве параллельно первому измерительному электроду и электрически с ним соединенным, причем радиус кривизны дополнительного электрода в 15-20 раз больше, чем у первого.

На чертеже представлено описываемое устройство, состояш,ее из коронируюш,его электрода 1, защитного электрода 2, электрически соединенного с коронирующим электродом и представляющего собой цилиндрический провод, радиус кривизны которого в 15-20 раз превосходит радиус кривизны коронирующего электрода, и емкости 3 со средой, уровень которой измеряют.

Устройство работает следующим образом.

Между измерительными электродами, одним из которых (некоронирующим) является среда емкости 3, а другим - коронирующий электрод /, возбуждают коронный разряд.

Искажая электрическое поле в межэлектродном пространстве измерительных электродов, защитный электрод 2 снижает интенсивность воздействия потока ионов на поверхность жидкости до величины, не препятствующей проведению измерения ее уровня.

Об уровне исследуемой среды при этом судят по току коронного разряда.

Предмет изобретения

Уровнемер жидких и сыпучих сред, содержащий подключенный к источнику высокого напряжения измерительный электрод, расположенный над поверхностью среды, используемой в качестве второго электрода, и измерительное устройство, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения, он снабжен дополнительным электродом, установленным в межэлектродном пространстве параллельно первому измерительному электроду и электрически с ним соединенным, причем радиус кривизны дополнительного электрода в 15-20 раз больше, чем у первого.