1
Известны датчики напряженности магнитного поля для прецизионного измерения .и стабилизации сильных магнитных полей. Такие поля создаются, в частности, Сверхпроводящими соленоидами и в настоящее время все щире применяются в различных областях .науки и техники.
Известные датчики напряженности магнитного поля обладают рядом недостатков. Так, например, при измерениях методом ядерного магнитного резонанса требуется довольно большой объем поля для помещения датчика. Холловские датчики, как правило, в больщих полях имеют нелинейные зависимости от поля и нуждаются в независимой индивидуальной градуировке.
Для повышения точности измерения и степени стабилизации магнитного поля порядка 100 кЭ в предлагаемом датчике использован новый физический эффект, а именно осцилляции сопротивления монокристаллического образца металла, например бериллия (или алюминия), в больших магнитных полях, обусловленные так называемым магнитным пробоем.
На чертеже показан описываемый датчик в форме прямоугольного параллелепипеда, где Я - измеряемое (или стабилизируемое) магнитное поле, / - измерительный ток, Е - напряжение, снимаемое с датчика. Се-кристаллографическая ось образца.
Датчик представляет собой образец, вырезанный из монокристалла бериллия в базисной плоскости и находящийся в ванне из жидкого гелия или водорода. Он помещен в измеряемое (или стабилизируемое) магнитное поле Я так, что его гексагональная ось Се параллельна направлению поля, а измерительный ток / через образец перпендикулярен полю. Напряжение Е, снимаемое с датчика, пропорционально его сопротивлению и измеряется обычным потенциометром, например типа Р308.
Магнитное поле при помощи такого датчика измеряют следующим образом. В некотором, сравнительно небольшом поле Яо, осуществляется привяЗКа градуировки, далее при увеличении магнитного поля измеряется изменение фазы ф осциллирующей части сопротивления. Значение измеряемого магнитного поля Я определяют по формуле:
Н. p-j
Яа2::
где р-1/9, период осцилляции в обратном поле.
Амплитуда изменения сопротивления датчика имеет тот же порядок величины, что и его
сопротивление при комнатной температуре, а
изменение удельного сопротивления 10 ом-см. Поэтому измерения магнитного
поля таким способом относительно просты и вместе с тем весьма точны. Например, сопроTHBvTeHHe датчика в магнитном поле порядка 70 кЭ изменяется за полупериод примерно на 30% (и более). Поэтому погрешность при измерении магнитного поля с помощью датчика из монокристалла бериллия, имеющего размеры 0,4X0,4X5 мм, и потенциометра Р308 не превышает .
Для стабилизации установленного значения магнитного поля Я напряжение Е, снимаемое с датчика, компенсируется, а разностный сигнал усиливается и подается обычным образом через цепь обратной связи на регулятор силы тока через магнит. Отклонение магнитного поля от установленного значения приводит к появлению разностного сигнала Л, который через цепь обратной связи .изменяет силу тока, питающую магнит, -компенсируя возникшее отклонение.
Предмет изобретения
Датчик напряженности магнитного поля для прецизионного измерения и стабилизации сильных магнитных полей, основанного на зависимости электросопротивления от магнитного поля, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения и степени стабилизации магнитного поля, он изготовлен из монокристаллического образца металла, например бериллия, охлал денного до температуры жидкого гелия (или водорода).
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Способ термоэлектрического охлаждения | 1978 |
|
SU728184A1 |
МАГНИТОМЕТР | 1973 |
|
SU361452A1 |
Криостат для рентгенографии кристаллов в магнитном поле | 1984 |
|
SU1217079A1 |
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ГРАДИЕНТА МАГНИТНОГОПОЛЯ | 1973 |
|
SU434343A1 |
АЯ БИБЛИОТЕ:КА | 1971 |
|
SU301653A1 |
А. И. Свиридова, Л. Л. Иванова, С. В. Лавров, А. С. Л'1ашницкий н А. 3. Страшун | 1971 |
|
SU293310A1 |
УПРАВЛЯЮЩЕЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ СТАБИЛИЗАЦИИ МАГНИТНЫХ ПОЛЕЙ | 1971 |
|
SU297952A1 |
Способ определения концентрации свободных носителей заряда в вырожденных полупроводниках | 1980 |
|
SU1000945A1 |
Способ контроля текстуры ферромагнитных монокристаллов | 1985 |
|
SU1285402A1 |
Способ определения плотности электронов в монокристаллах металла | 1986 |
|
SU1437767A1 |
Авторы
Даты
1973-01-01—Публикация