ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ СВЕТОФИЛЬТР Советский патент 1973 года по МПК G02B5/28 

1

Известны интерференционные светофильтры, содержащие нодложку с нанесенным на ней интерференционным нокрытием из чередующихся слоев с высоким и низким показателями преломления и оптической толщиной последнего слоя, в два раза меньшей предыдущих.

В предлагаемом светофильтре между подложкой и первым слоем с высоким показателем преломления введен дополнительный слой с тем же показателем преломления и оптической толщиной в два раза больщей.

Такое выполнение обеснечивает нолучение высокого пропускапия светофильтра для заданной длины волны.

На фиг. 1 и 2 изображены спектральные кривые пронускапия светофильтров из чередующихся слоев серпистого цинка, имеющего высокий показатель преломления (В), и криолита с низким показателем преломления (Н) на подложке П из стекла К-8. По оси абписс отложена длина волны л в относительных едипн.цах /V/AO, где Яо соответствует середине зоны низкого пронускапия, по оси ординат показан кО|Эффициент пропускания Т.

На фиг. 1 цифрой / обозначена теоретическая кривая 16-тислойного отрезающего фильтра известной конструкции 16ПВНВНВ НВПВНВНВНВО, 5Н; 2- теоретическая кривая фильтра, выполненного по данному изобретению.

Па фиг. 2 цифрой 3 обозначена кривая покрытия 16ПВНВ . ... ПВО, 5П, полученная с

учетом погрешности изготовления; 4 - кривая предлагаемого фильтра, полученная для таких же погрещностей, что и кривая 3.

Светофильтр представляет собой подложку, на которой расположено интерференционное

оптическое покрытие. Подложка выполнена из материала прозрачного в спектральной зоне высокого пропускания фильтра. Покрытие состоит из чередующихся слоев с высоким пв и низким /IH ноказателями преломления. Непосредственно к подложке нримыкает слой с показателем преломления, равным «в. Его оптическая толщина в три раза больще толщины всех носледующпх слоев, кроме последнего. Фильтр можно изготовить, например, путем

термического испарения в вакууме сернистого цинка {п. пв) и криолита (), либо селенида цинка (п пъ) Б фторИ|Стого стронция (), либо другой нары веществ. Дополнительный слой на подложке, имеющий по

сравнению с прилегающими слоями двойную толщину, позволяет на 25-45% уменьшить глубину провала, расположенного на спектральной кривой пропускания фильтра между двумя ближайшими к зоне отрезания коротковолнопыми максимумами пропускания.

Предмет изобретения

Интерференционный светофишьтр, содержащий подложку с нанесенным на ней интерференционным Покрытием из чередующихся слоев с высоким и низким показателями преломления и оптической толщиной последнего слоя,

в два раза меньшей предыдущих, отличающийся тем, что, с целью получения высокого пропускания для заданной длины волны, между подложкой и первым слоем с высоким показателем преломления введен дополаительиый слой с тем же показателем преломления и оптической толщиной, в два раза больщей.

0,75 0,8 0,85 0,9 U.95 1,0

0,75 ив 0,85 0,9 0,95 1,0

- А в

ц. Фиг.} Фиг. 2