Прибор для точных измерений при помощи интерференции световых волн Советский патент 1934 года по МПК G01B11/06 G01B9/02 

При точных измерениях помощью интерференции световых волн известно применение стеклянных пластинок, расположенных таким образом, что между ними образуется клиновидная прослойка воздуха. При изменении толщины этой прослойки изменяется цвет и количество интерференционных полос, что дает возможность судить о точности размеров обмеряемого предмета. В настоящем изобретении для регулирования толщины воздушной прослойки применен мерительный штифт, передвижной в осевом направленни в соответствии с размерами обмеряемого предмета.

На чертеже фиг. 1 схематически изображает предлагаемый прибор с применением микроскопа для отсчета; фиг. 2- предлагаемый прибор с отсчетом простым глазом.

Прибор состоит из двух стеклянных пластин 1 и 2, из которых первая неподвижная, а вторая подвижная и имеет опорную поверхность 4. Между пластннами 1 и 2 помещена фольга 3. Обмеряемый предмет 17 помещается на подставке 16, сдвигая при этом в осевом направлении мерительный штифт 5, помещенный в корпусе 12 прибора Штифт 5 оказывает давление на подвижную пластинку 2, перемещая ее. Вследствие этого воздушная прослойка между пластинами изменяется, а следовательно изменяется цвет и количество интерференционных полос.

Для отсчета количества полос может быть применен микрометр 7 (фиг. 1) с микроскопом 6, установленным на салазках 9. Отсчет может быть произведен также простым глазом через анахроматическое стекло 13.

Для отсчета положения подставки 16 служат шкала 15 и микроскоп 14.

Предмет изобретения.

Прибор для точных измерений при помощи интерференции световых волн с использованием клиновидной прослойки воздуха, образуемой между пластинами, отличающийся применением пё редвижного мерительного штифта 5, служащего для регулирования воздушной прослойки между пластинами 1 и 2, в соответствии с размерами обмеряемого изделия..,..: к авторскому свядетельсвдг В. Я. мана № аЩб Зимина и К. Циммер

Фиг. 1

.---