УСТАНОВКА ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ПРОЦЕССА РАЗМЕРНОЙ ЭЛЕКТРОХИМИЧЕСКОЙ ОБРАБОТКИ Советский патент 1973 года по МПК B23H11/00 

1

Изобретение отиосится к области экспериментального исследования явлений, иротекаю1ЦИХ в межэлектродиом зазоре при электрохимической размерной обработке металлов.

Известны устройства для исследоваиия явлений, протекающих при электрохимической размерной обработке 1еталлов, снабженные закрытым рабочим контейнером с ирозрачиымн боковым Н стенками. В контейиер установлены катод (инст)умент) л анод (деталь), которые предназначены для изучения отдельных факторов, ,11х иа процесс электрохимической размерной обработки металлов и их сплавов. Такие устройства не позволяют одновременио контролировать и количественно сопоставлять характер измепения протекающих явлений в различных сечениях межэлектродиого зазора.

Цель изобретения - обеспечить дистанционное измерение и контроль величины межэлектродиого зазора, а также одновременное количественное и качественное сопоставление характера изменения протекающих явлеиий в различных сечеииях межэлектродного зазора, что позволит наблюдать реальную картину явлений, протекающих в межэлектродиом каиале как в стационарном, так и иестациоиарном режимах. Это достигается тем, что установка для исследования процессов при ЭХРО снабжена системой дистанционного из.черения и

одиовремениого контроля межэлектродиого зазора в различных сечениях.

На фиг. 1 изображена оптическая схема с-нстемы дистанционного замера; на фиг. 2 - оптико-механическое устройство установки.

Оитическая дистаициоиного замера состоит нз двух микрообъектиБОв / и 2, паирНмер, типа микроплаиар, двух отражающих зеркал 3 и 4, трехгранной призмы 5 и двух объективов 6 и 7, например, типа «индустар 50, а также отической схе.мы кинокамеры 8 типа СКС-1 мм, в схему окуляра которой вместо перекрестня установлена тарироваппая окулярная шкала 9. Остальные элементы оптической

схемы кинокамеры не изменены.

Оптико-механическое устройство (см. фиг. 2) содержит корпус W, соединеииый посредством втулок // и /2 с угольни1ками / и М, з которых размеидены цилиндрические оправы

i5 и 16 с закреилениыми иа них зеркалами 3 и 4. Угольники соедииены с тубусами 17 и J8, имеюпдими подвижные части 19 и 20 с установленными в них объективами 1 а 2. Кроме того, в корпуее JO устаиовлены цилиндрическая оправа 21 с закрепленной в ней призмой 5 и два объектива 6 и 7.

При осуп1,ествлении дистанционного замера и контроля величины межэлектродного зазора, а также одновремеииого количественного и качествеиного анализа протекающих явлений в

различных сечениях мелолектродНого канала изображения объектов, расположенных в этих сечениях канала, объективами 1 и 2 посредством зеркал 3 и 4 направляются на грани призМ1) 5, с которой при помощи объективов 6 и 7 изображение проецируется на плоскость пленки. Далее при помощи оптической схемы видоискателя кинокамеры изображения проецируются «а шкалу 9, на которой пр« помощи окуляра кинокамеры производится отсчет размера величины межэлектродного зазора одновременно обоих сечений (изображений объектов). При этом обеспечивается возможность одновременной киносъемки обоих объектов, а при замедленном проецировании фильма осуществляется анал-из характера возникающих явлений в различных сечениях межэлектродного канала как на стационарных, так н нестационарных режимах обработки.

Для измерения и сравнения величины межэлектродного зазора в начале и конце канала (т. е. для контроля параллельности электродов, а также для измерения неравномерности съема металла после ЭХРО) корпус устройства собирается из сменных втулок 11 и 12 (см. фиг. 2), имеющих различную длину, что позволяет проводить замеры и сравнения величины объектов, расположенных друг от друга на расстояниях в пределах от 80 до 220 мм.

Тарировка системы дистанционного замера установки производится следующим образом.

В лодвилсные тубусы 19 и 20 оптико-механического устройства ввертывают объективы / и 2, имеющие одинаковые характеристики. Длину тубусов устанавливают соответственно выбранному масштабу съемки. Настраивают резкое изображение щкалы 9 по глазу винетированием окуляра кинокамеры. Устанавливают концевую меру или щуп в зажимы в плоскости объективов (например, толщиной 0,3 или 0,5 мм в зависимости от масштаба съемки) и фокусируют торцовую часть щупа (объекта) на плоскость окулярной шкалы путем смещения кинокамеры. Считают количество делений окулярной шкалы, укладывающихся на изображения объекта, и подсчитывают цену деления по формуле К - , где /С - цена деления, h - известный размер объекта (щупа),

п - количество делений окулярной шкалы, укладывающихся на нзображении объекта.

Замена объективов или изменение длины тубусов ведет ,к изменению масштаба съемки «М, т. е. к повторной тарировке. Во всех случаях фокусировка объекта производнтся только путем изменения расстояния между объектом и кинокамерой.

Цена деления окулярной шкалы и пределы измерения зависят от масштаба съемки. Ыанример, прн М 5: 1 цена деления окулярной шкалы составляет 0,02 мм; с увел.ичением масштаба съемки увеличивается точность замера, т. е. при k Q,Ql мм и т. д. Все замеры проводятся с учетом цены деления окулярной шкалы при заданном масштабе съемки.

Описанная система дистанционного замера

установки позволяет измерять размер межэлектродного зазора от 3,7 до 0,1 мм соответственно с точностью от 0,05 мм при зазоре 3,7 мм и 0,0025 мм прн зазоре 0,1 мм; сравнивать величину объектов, расположенных на

расстоянии от 80 до 220 мм, т. е. замерять неравномерность съема металла при ЭХРО на образцах различной длины, не извлекая нх из контейнера; и контролировать параллельность межэлектродного зазора.

Оптико-механическая система установки кроме обеспечения дистанционного замера позволяет одновременно снимать два фнльма, характеризующих изменение процесса ЭХРО п зависимости от длины межэлектродного зазора, тем самым исключить случайные погрешности процесса.

Предмет и з о б р е т е i н я

Установка для исследования процесса размерной электрохимической обработки длинномерных деталей, в закрытом контейнере с прозрачными боковыми стенками с фиксацией анодного растворения на пленку, отличающаяся тем, что, с целью одновременного днстанц1 оиного сравнения параметров межэлектродных зазоров, расположенных на разлнчиых предваительно заданных расстояниях друг от друга, в установку введена оптико-механическая система, выполненная в виде сдвоен}1ого микрообъектива с тарированной окулярной шкалой, совмещенной с оптической схемой кинокамеры, например, типа СКС-1 мм.

Плоскость объектов

Плоскость

(рокс/сироёки объктабоб

тУ-7

Плоскость плёнки

Й§

Еэ-9

Фиг. 2