СПОСОБ ОТНОСИТЕЛЬНОГО ИЗМЕРЕНИЯ СТЕПЕНИ ЧЕРНОТЫ ТВЕРДЫХ ТЕЛtjObi" л;;.-^!-':?-?;^*^?».WIJ в S ,- ' • < . -, - '.-^ r^V •• f i 'Л' ^-*r-; •..--•.-.;^н,.» s (f'J Советский патент 1974 года по МПК G01J5/00 

Описание патента на изобретение SU412496A1

Изобретение касается исследования термичеокого излучения тявердых тел. Известаы методы И уст|ройст1ва для определения коэффищиентой излучения, оснава1Нные на |МО1:1,елиро1вании абсолютно черного тела (обычно в виде отверстия цилиндрической формы). Такой способ определения спекТ1ральных коэффи.циентоа лучеиюпускания по измеренньим тем1ПвраФура1м OTroeipcTHH и поBeipxHOCTH вблизи этого отверстия применим в основном для металлических o6ipa3noiB, имеющих определенную форуму. Кр01ме того, погрешность иЗ|Мервния спектральных коэффиUiHeiHTOB черноты изл1у чан ия . в большой степени зависит от точности из1маре(Ния яркостной температуры излучающей паве(рх1ности. Цель изобретени я - повышение точности определения коэффищиентав черноты излучения. Такой способ не требует создания модели черного тела в образце и по-эволяет огаределять коэффициенты черноты излученная на образцах и изделиях произвольной геометрнчеакой формы. Сущность изобретения заключается в том, что для повышения точности определения коэффициентов черноты излучения дошодят яркостную (радиационную) температуру эталона до яркостной (радиационной) темяературы объекта, одновременно компенсируют Искажения температурных полей объекта и эталона, вноои1мые контактными TepiMOinpneMHHiKaiMH, которЫМИ измеряются истинные температуры объекта, например, путем непосредственного подогрева переменным током; по измеренным истинньш температ рам .и известному коэффициенту черноты излучения эта-лона определяют коэффициент черноты объекта. На чертеже приведена схема устройства, реализующего предлагаемый способ. Специальный ленточный вольфрамовый эталон / представляет со:бой температурную лал1пу с вы.вода;ми для подютрева и И3 мерен11 я те/рмо-э. д. с. термопары. Рабочий спай этой термопары путем контактной аварки приводится в надежный термический контакт с рабочи1М участ(ком поверхности ленты. Яркостные температуры эталона 1 и объекта 2 уравниваются с помощью компаратора яркости, состоящего из оптической системы 3, фотопр ие1мника 4 и следящей системы 5. ИзлучеH4ie от объекта и эталона через систему внещ)ей олтик-и компаратора, призм полного внутреннего отражения, направляющего зеркала посТ упает на мoдyv яциo ннoe зеркало компаратора, которое попеременно направляет излучение от объекта и эталона в призменный MiOHoxpoMaTOp (в случае измерения спектральных коэффидиентов черноты).

Оветавой поток, пропорциональный разиости яркостей эталона и объекта, поступает на фотоориемнйк, оипнал с которого и управляет следящей системой 5. Последняя изменяет ток че|рез эталюн и даводит его яр.костную темпеpaTiypiy до яркостной температуры объехта. Это у|ра1вни)Ба1Ние троизщодится ери одновременной автоматической комшенсацин искажений темоературных полей объекта и эталона, вносим ы;х iKOiHT HKTiH ы MiH те onpiH ei-MH aiM и (термопарами) 6 за счет твплоюттака но термоэлектрода1м. Кофшенсащия теплооттОКа по тершоэлактродам те|рманар осуществляется .их непосредственного подогрева переменным током. Формирование управляющего сигнала для системы автоматической кОМтенсащии аонощано на принципе определения разности температур между двумя соседними точ:ка1М1И А -и В Вбли13И места контактирования термоприемников, которая может быть оценена по различию оветимости в выбранных точ1ках. Излучение от точек А и В поочередно натравляется зеркалой-г через выходную щель KQMinapaTOpa яркости 7 на фотолриемник 8. Сигнал, пропорциональный разности свети-мости точек А -я В, усиливается фазочумствительным усилителем 9. Иополнителыный механизм 10 регулирует подачу напряжения от гене|ратора ультра-звуковых частот 1:1 на усилитель мощности 12, на выходе которого подключена термопара, ПрИменен ие переменного тока для подогрева тер/мопар позволяет простыми срадст(ва1ми выделить полезный сигнал - тер1мо-э. д. с., реги1ст|рируемую патен-цяо1метром 13.

Таким образом, при компенсации искажений те мпературеого поля объекта и эталона,

5 вноюимых термоп1р и0мни1ками, и од-нов ременном уравнивании яржостных темл-ератур эталона и объекта прои:31водится измерение их истинных температур. По найденньвм истинным значениям температур и известному

0 спектральному коэффициенту черноты эталона вычисляется е, объекта.

Предмет изобретения

Способ относительного измерения степени черноты твердых тел путем сравнения- излучательной опособности исследуемого объекта с эталоном, излучательные харакггеристики которого- известны, отличающийся тем, что, с целью повыщения точности определения к оэффи1циентов черноты излучения, д-оводят яриостную (радиационную) температуру эталона до яркостной -(радиационной) температуры О|бъекта, одновременно комюенаируют искажения температурных полей объе1кта и эталона, вносимые ко1Нта|Ктны1М1и термоприемHBKaiMH, iKOTOpbiiMH измеряются -истинные темлературы объекта и эталона, например, путем рапосред ственного подотрева переменным то ком, по измеренным ист1инным температура М и Известному коэффициенту излучения эталона определяют коэффициент черноты объекта.

Похожие патенты SU412496A1

название год авторы номер документа
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ИЗЛУЧАТЕЛЬНОЙ СПОСОБНОСТИ ТВЕРДЫХ МАТЕРИАЛОВ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2016
  • Сиренко Александр Васильевич
  • Мазанов Валерий Алексеевич
  • Кокшаров Виктор Васильевич
  • Макейкин Евгений Николаевич
  • Маркин Сергей Викторович
  • Авдошина Ольга Евгеньевна
RU2617725C1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ИНТЕГРАЛЬНОЙ ИЗЛУЧАТЕЛЬНОЙ СПОСОБНОСТИ С ПОМОЩЬЮ ПРЯМОГО ЛАЗЕРНОГО НАГРЕВА (ВАРИАНТЫ) 2015
  • Брыкин Михаил Владимирович
  • Васин Андрей Андреевич
  • Шейндлин Михаил Александрович
RU2597937C1
СПОСОБ БЕСКОНТАКТНОГО ИЗМЕРЕНИЯ ЯРКОСТНОЙ ТЕМПЕРАТУРЫ ТЕПЛОВОГО ПОЛЯ ИССЛЕДУЕМОГО ОБЪЕКТА 2014
  • Цыганов Вячеслав Александрович
  • Лобастов Сергей Александрович
  • Базаров Юрий Борисович
RU2552599C1
Способ определения степени черноты поверхности натурного обтекателя ракет при тепловых испытаниях и установка для его реализации 2018
  • Русин Михаил Юрьевич
  • Забежайлов Максим Олегович
  • Часовской Евгений Николаевич
  • Миронов Роман Александрович
  • Неповинных Виктор Иванович
RU2694115C1
Способ измерения интегральной излучательной способности с применением микропечи (варианты) 2015
  • Брыкин Михаил Владимирович
  • Васин Андрей Андреевич
  • Шейндлин Михаил Александрович
RU2607671C1
Способ спектрально-яркостной пирометрии объектов с неоднородной температурой поверхности 2015
  • Гуляев Игорь Павлович
  • Долматов Алексей Викторович
  • Гуляев Павел Юрьевич
  • Бороненко Марина Петровна
RU2616937C2
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ СПЕКТРАЛЬНЫХ КОЭФФИЦИЕНТОВ ЧЕРНОТЫ ИЗЛУЧЕНИЯ ПОВЕРХНОСТЕЙ 1973
  • Витель Ванбо Пак, П. С. Глазырин Ю. П. Кринский
SU389414A1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ СПЕКТРАЛЬНОГО КОЭФФИЦИЕНТА ИЗЛУЧЕНИЯ ТЕЛА 2018
  • Ходунков Вячеслав Петрович
RU2685548C1
Устройство для измерения спектрального коэффициента излучения серых тел 1983
  • Игнатьев Борис Сергеевич
  • Динкель Альфред Данилович
  • Зуев Валентин Никитович
  • Дерягин Константин Васильевич
SU1096506A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ БЕСКОНТАКТНОГО ИЗМЕРЕНИЯ ПОЛЯ ТЕМПЕРАТУРЫ ПО ПОВЕРХНОСТИ ОБЪЕКТА 2023
  • Битюков Владимир Ксенофонтович
  • Лавренов Алексей Игоревич
  • Никольшин Михаил Юрьевич
  • Фрунзе Александр Вилленович
RU2803624C1

Иллюстрации к изобретению SU 412 496 A1

Реферат патента 1974 года СПОСОБ ОТНОСИТЕЛЬНОГО ИЗМЕРЕНИЯ СТЕПЕНИ ЧЕРНОТЫ ТВЕРДЫХ ТЕЛtjObi" л;;.-^!-':?-?;^*^?».WIJ в S ,- ' • < . -, - '.-^ r^V •• f i 'Л' ^-*r-; •..--•.-.;^н,.» s (f'J

Формула изобретения SU 412 496 A1

SU 412 496 A1

Даты

1974-01-25Публикация

1971-07-20Подача