Изобретение относится к контролю качества внутренних цилиндрических и плоских поверхностей, а также дефектов в ,ине пленочных прозрачных и полупрозрачных Maieриалов и может быть исисльзовано в металлообрабатываюк ей, текстильной, бумажной и фотографической промышленности.
Известно фотоэлектрическое устройство для обнаружения дефектов, содержащее источник потока света, наклонно размещенное в нем полупрозрачное зеркало, установленный соосно с потоком прошедшего через зеркало света вращающийся плоский отражатель и фоторегистратор, расположенный в потоке отраженного от зеркала света,
Однако надежность контроля прозрачных и полупрозрачных материалов известным устройством недостаточная, т. к. поток света, прошедший через материал, не регистрируется.
Целью изобретения является повыше11ие надежности контроля прозрачных и полупрозрачных материалов.
Для этого устройство снабжено сферически: г отражателем, жестко связанным с плоским отражателем, в его фокусе находится контролируемый материал, и дополнительным фоторегистратором, устаповлеиным в нотоке света прошедщего через контролируемый материал
На чертеже изображена блок-схема иредлагаемого устройства.
Фотоэлектрическое устройство для обнаружения дефектов содержит источник 1 света, полупрозрачное зеркало 2, вращающийся диск 3 с зстаиоБленными на пем прнзмой 4; плоским отражателем 5 и сферическим отражателем 6, два фотоэлектрических преобразователя 7 и 8, основан е 9, электродвигатель 10 с пассиком 11 н протягиваемой в фокальной плоскости источника света контролируемый материал 12.
icTpoiiCTBo работает следующим образом.
С.ходяшнйсл поток источинка 1 света пропускают через полупрозрачное зеркало 2 и направляют в центр дпска 3 параллельпо оси . где установлена призма 4. В преломленном этой призмой световом потоке на краю диска расположен плоский отражате,-|ь 5. При вращении диска 3 с помощью электродвигателя 10 через пассик 11 отражеппый от отражателя 5 луч света совершает круговую развертку на поверхности контролируемого материала 12.
Светово поток, нроходящнй через материал, иересекает ось вращения диска 3 в точке А, где располагается фотоэлектрический преобразователь 8. Луч света, отражеппый от контролируемого материала, падает на сферический отражатель 6 с фокусом в точке отражения, устаповлеппый па краю диска 3. Поток света отражается от сферического отра
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОБНАРУЖЕНИЯДЕФЕКТОВ | 1972 |
|
SU418775A1 |
ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОБНАРУЖЕНИЯ ДЕФЕКТОВ | 1972 |
|
SU324559A1 |
Устройство для обнаружения дефектов в прозрачных тонкопленочных изделиях | 1984 |
|
SU1260773A1 |
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПОПЕРЕЧНОГО РАЗМЕРА ДЕТАЛИ | 1990 |
|
RU2047091C1 |
Устройство для обнаружения дефектов полотна | 1988 |
|
SU1571482A1 |
Устройство для контроля центрирования оптических деталей | 1987 |
|
SU1530962A1 |
Фотоэлектрическое устройство дляОбНАРужЕНия дЕфЕКТОВ | 1977 |
|
SU842506A2 |
УСТРОЙСТВО ДЛЯ СНЯТИЯ СПЕКТРА ПОВЕРХНОСТНОГО ПЛАЗМЕННОГО РЕЗОНАНСА | 1993 |
|
RU2096757C1 |
ИНТЕРФЕРОМЕТР С ОБРАТНОКРУГОВЫМ ХОДОМ ЛУЧЕЙ | 1986 |
|
SU1383969A1 |
Устройство для измерения искривления скважины | 1987 |
|
SU1456548A1 |
Даты
1974-03-05—Публикация
1972-04-15—Подача