Фотоэлектрическое устройство дляОбНАРужЕНия дЕфЕКТОВ Советский патент 1981 года по МПК G01N21/32 

Описание патента на изобретение SU842506A2

1

Изобретение относится к контролю качества поверхностей и дефектов в толщине гибких ленточных материалов может- быть использовано в- фотографической, бумажной и текстильной промышленностях.

По основному авт.св. I 324559 известно фотоэлектрическое устройство для обнаружения дефектов, содержащее источник света, призму, установленную в потоке света, вращающийся отражатель в виде цилиндра, отражающий торец которого наклонен под острым углом относительно другоготорца расположенный в преломленном призмой потоке%света неподвижный отражатель в виде тороида, воспринимающий поток света от вращающегося отражателя и направляющий его на контролируемый объект,фотоэлектрический преобразователь, установленный в потоке света прошедшего через контролируемый объект, призму, расположенную в потоке света, отраженного от контролируемого объекта и фотоэлектрический преобразователь, воспринимающий поток света, преломленный этой призмой Т

Однако в этом устройстве из-за того, чт,о некоторые гибкие ленточные

материалы, например кинофотопленка, в области развертки свртового луча принимают цилиндрическую форму,- в выходном сигнале фотоэлектрического преобразователя наводится паразитная составляющая с частотой, равной двойной частоте вращения отражателя, и амплитудой, зависящей от величины прогиба материала. Эта паразитная

0 составляющая уменьшает надежность контроля качества материалов.

Цель изобретения - повышение надежности контроля качества гибких ленточных материалов, принимающих

5 цилиндрическую форму.

Поставленная цель достигается тем, что в фотоэлектрическом устройстве для обнаружения дефектов отражающий торец вращающегося отражателя

0 выполнен в виде правильной четырехгранной пирамиды.

На фиг.1 схематически изображено предлагаемое устройство; на фиг.2 разрез А-А на фиг.1.

5

Фотоэлектрическое устройство для обнаружения дефектов содержит источник 1 света, призму 2, вращающийся отражатель 3 в видеправильной четырехгранной пирамиды, неподвижный

0 отражатель 4, выполненный в виде

тороида с внутренней зеркальной поверхностью, контролируемый материал 5 и фотоэлектрический преобразователь 6.

Устройство работает следующим образом.

Поток излучения от источника 1 света с помощью призмы 2 направляет ся в центр вращения отражателя 3 параллельно его оси. Отраженные от граней вращающегося отражателя четыре луча света падают на внутреннюю поверхность тороидального неподвижного отражателя 4 и, отражаясь от нее, направляются на контролируемый материал 5. Прошедшие через материал четыре потока света, сдвинутые по фазе на 90° относительно друг друга, одновременно воспринимаются фотоэлектрическим преобразователем б, что приводит к уменьшению паразитной модуляции его выходного сигнала.

Предлагаемое устройство повышает надежность контроля качества гибких ленточных материалов, принимающих цилиндрическую форму, без применения сложных устройств, стабилизирующих положение контролируемого.материала в области развертки светового луча.

Формула изобретения

Фотоэлектрическое устройство, для обнаружения дефектов по авт.св. № 324559, отличающееся тем, что, с целью повышения надежности контроля качества гибких ленточны материалов, принимающих цилиндрическую форму, отражающий торец вращающегося отражателя выполнен в виде правильной четырехгранной пирамиды.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство СССР № 324559, кл. G 01 N 21/32,. 1972.

/1-/1

Похожие патенты SU842506A2

название год авторы номер документа
ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОБНАРУЖЕНИЯДЕФЕКТОВ 1972
SU418775A1
Фотоэлектрическое устройство для обнаружения дефектов 1976
  • Гребнев Валентин Степанович
SU593069A2
ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОБНАРУЖЕНИЯ ДЕФЕКТОВ 1972
  • М. М. Мавлютов В. С. Гребнев
SU324559A1
ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОБНАРУЖЕНИЯ ДЕФЕКТОВ 1972
SU418774A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОБНАРУЖЕНИЯ ДЕФЕКТОВ В ПОЛОТНЕ ВОЛОКНИСТОГО МАТЕРИАЛА 1970
  • И. Н. Лихтман
SU284405A1
УСТРОЙСТВО для ОБНАРУЖЕНИЯ ДЕФЕКТОВ В ДВИЖУЩИХСЯ ПЛОСКИХ МАТЕРИАЛАХn,"J^i S'^--? , 1973
  • Витель И. Н. Лихтман, Г. А. Кундзич, М. Г. Зальцман М. Фридман
SU375550A1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЧНОСТИ ИЗГОТОВЛЕНИЯ УГЛОИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ СТРУКТУР, НАНОСИМЫХ НА ПРОЗРАЧНЫЙ НОСИТЕЛЬ 2003
  • Кирьянов В.П.
  • Кирьянов А.В.
RU2242715C1
КАЛИБРОВКА СИСТЕМЫ ФОРМИРОВАНИЯ ДИНАМИЧЕСКИХ ЦИФРОВЫХ ИЗОБРАЖЕНИЙ ДЛЯ ОБНАРУЖЕНИЯ ДЕФЕКТОВ В ПРОИЗВОДСТВЕННОМ ПОТОКЕ 2013
  • Рик Уэнделл Бажема
  • Уилфред Марселлин Бург
  • Скотт Фаган
  • Сончай Ланж
  • Кервин Брэдли
  • Дэвид Рэй Уоррен
RU2636263C2
Интерферометр для измерения линейных и угловых перемещений объекта 1985
  • Авелан Павел Владимирович
  • Михайловский Юрий Константинович
  • Румянцев Дмитрий Михайлович
  • Рачков Владимир Анатольевич
SU1260674A1
Устройство для обнаружения дефектов полотна 1988
  • Иванов Валерий Филиппович
  • Якимушкин Игорь Александрович
  • Бузин Андрей Станиславович
  • Чугунов Юрий Викторович
SU1571482A1

Иллюстрации к изобретению SU 842 506 A2

Реферат патента 1981 года Фотоэлектрическое устройство дляОбНАРужЕНия дЕфЕКТОВ

Формула изобретения SU 842 506 A2

SU 842 506 A2

Авторы

Гребнев Валентин Степанович

Мавлютов Мансур Мавлютович

Даты

1981-06-30Публикация

1977-05-03Подача