Способ измерения потерь интенсивности излучения в однородных материалах Советский патент 1974 года по МПК G01N21/26 

1

Изобретение относится к области оптических измерений, в частности, к способам изучения оптических свойств материалов.

Известен способ измерения потерь интенсивности излучения при его прохождении через оптически однородную среду. Известный способ заключается в модуляции проходящего излучения посредством изменения его пути в исследуемой среде, т. е. модуляции измеряемого параметра. Модуляция измеряемого параметра производится перемещением клинообразного образца относительно оптической оси зондирующего потока излучения.

Недостатком известного способа является зависимость результата измерения от однородности фотоприемника по площади фотокатода, так как при перемещении образца происходит перемещение выходного луча по фотокатоду.

С целью повышения точности измерения образец устанавливают в положение угла наименьшего отклонения и перемещают в направлении, совпадающем с биссектрисой преломляющего угла.

Повышение точности происходит за счет того, что при перемещении установленного в положение угла наименьщего отклонения клиновидного образца в направлении, совпадающем с биссектрисой преломляющего угла, устраняется перемещение выходного луча по фотокатоду.

0

Предмет изобретения

Способ измерения потерь интенсивности излучения в однородных материалах, заключающийся в модуляции измеряемого параметра путем перемещения клинообразного образца

5 относительно оптической оси зондирующего потока излучения, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения, образец устанавливают в положение угла

0 наименьщего отклонения и перемещают в направлении, совпадающем с биссектрисой преломляющего угла.