Способ сравнения различных состояний диффузно-отражающих объектов Советский патент 1974 года по МПК G01B9/02 

Изобретение относится к оптическим измерениям на основе интерферометрии сдвига и может быть применено для исследования деформаций, и вибраций объектов,рассейБающих освещающее излучение диффузио,а также для изучения фазовых и зеркально отражающих объектов, освещенных через диффузный рассеиватель. Известные способы сравнения различных состояний диффузно-охражающ 1х ооъектов основаны на получении интерферограми сдвига от зеркально отражающих объектово Целью изобретения является обеспечение сравнения различных состояний объектов, рассеивающих освещающее излучение . Цель достигается тем, что и в первоначальном,и в измененном состояниях объекта получают два сдвинутых относительно друг друга изображения объекта вблизи плоскости квадратичного детектора,каж дое из которых используют как опорное для другого при исследовании методой двойной экспозиции и как опорное и восстанавливающее при исследовании в реальном времени, а зафиксированные регулярные интерференционные полосы,составляющие микроструктуру сдвинутых изображений объекта,используют для разделения различных порядков дифракции при восстановлении изображении е квадратичного детектора. Преимущества способа при исследовании фазовых и зеркально отражающих объектов заключаются в том, что при освещении указанных объектов через диффузный рассеиватель сдвинутые изображения можно получать делением волнового фронта,что сокращает число необходимых операций и упрощает соответствующие устройства,а также дает возможность исследовать объекты, не изменяющие свое состояние,и проводить сравнение различных

объектов.

ПРЕДМЕТ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Способ сравнения различных состояний дйффузно-отражающих объектов на основе интерферометрии сдвига, отличающийся тем,что,с целью сравнения различных состояний объектов,рассеивающих освещающее излучение диффузно и в первоначальном, и в измененном состояниях объекта получают

два сдвинутых относительно друг друга изображения объекта вблизи плоскости квадратичного детектора каждое из которых используют как опорное для другого при исследовании методом двойной экспозиции и как опорное и восстанавливающее при исследовании в реальном времени, а зафиксированные регулярные интерференционные полосы,составляющие микроструктуру сдвинутых изображений объекта,используют для разделения различных порядков дифракции при восстановлении изображений с квадратичного детектора