Интерферометр сдвига Советский патент 1974 года по МПК G01B9/02 

Описание патента на изобретение SU441443A1

1

Изобретение относится к онтическим интерферометрам и может Оыть применено для исследования деформации и вибраций диффузно отражающих излучение объектов, а также для изучения фазовых и зеркально отражающих ооъектов, освещенных через диффузный рассеиватель.

С помощью известных интерферометров получают лишь интерферограммы сдвига для зеркально отражающих или фазовых объектов, получение интерферограмм сдвига для диффузно отражающих объектов невозможно. Кроме того, конструкция интерферометра громоздка, что вызвано необходимостью защиты от вибраций и применения лазеров, работающих в одномодовом режиме.

Цель изобретения - получение интерферограмм сдвига диффузно отражающих объектов при сниженных требованиях когерентности источника излучения.

Для этого система деления отраженного от объекта пучка выполняется в виде набора дяафрагм, размеры которых определяются велнчиной измеряемой деформации и величиной сдвига.

На фиг. 1 приведена оптическая схема предлагаемого интерферометра; на фиг. 2 изображен его общий вид.

Интерферометр содержит корпус 1, установленные в нем верхнюю ноловину 2 билинзы в

оправе 3, микрометрпческнй винт 4 для перемещения половины 2 билинзы относительно ее неподвижной половины 5, закрепленной в неподвижной оправе 6. Действующие диаметры

обеих ПОЛОВ1П1 бплинзы регулируются оправами 7 и 8.

В процессе измерения излучением когерентного источника освещают исследуемый объект. Вблизи плоскости квадратичного детектора

нолучают два сдвинутых одно относнтельно другого изображения объекта. Величину сдвига устанавливают по пониусной шкале винта 4 либо визуально по сдвигу изображений. При этом действующие диаметры обеих половин

билиизы устанавливают диафрагмами, размеры которых выбнрают из условия, согласно которому средний размер зернистой структуры должен быть больше, чем максимальная величина перемещения точек новерхности

объекта.

Средний размер зернистой структуры для продольного и поперечного перемещения соответственно составляет К-т и Л/-|/ г, где

)

}. - длина волны,отношение фокальной

d

длины к действующему диаметру, т - коэффициент уменьшения в плоскости нзображення.

В плоскости изображения волновые поля, образующие два сдвинутых изображения исследуемого объекта, накладываются под углом одно к другому, в результате чего при регистрации квадратичным детектором возникает несущая пространственная частота и нри восстановлении - дифракционные порядки, в которых наблюдают интерферограмму сдвига.

Для выделения восстановленного порядка дифракции оптической фильтрацией расстояние между центрами действующих диаметров верхней и нижней половин билинзы должно быть больще или равно удвоенному размеру действующего диаметра.

Предмет изобретения

Интерферометр сдвига, содержащий источник когерентного излучения, оптические элементы формирования пучка, освещающего объект, оптические системы формирования и сдвига изображения, расположенные за объектом, и квадратичный детектор, отличающийся тем, что, с целью получения интерферограмм сдвига от диффузно отражающих объектов, система делеиия отраженного от объекта пучка выполнена в виде набора диафрагм, размеры которых определяются величиной измеряемой деформации объекта и величиной сдвига.

Похожие патенты SU441443A1

название год авторы номер документа
Способ интерференционных измерений в диффузно-когерентном излучении 1975
  • Власов Николай Георгиевич
  • Гинзбург Вера Моисеевна
  • Штанько Александр Евгеньевич
SU554467A1
Интерферометр сдвига 1986
  • Артеменко Сергей Борисович
  • Козлов Александр Арьевич
  • Пызин Георгий Петрович
  • Ушаков Владимир Леонидович
SU1352196A1
Сдвиговый спекл-интерферометр (варианты) 2019
  • Вишняков Геннадий Николаевич
  • Иванов Алексей Дмитриевич
  • Виноградов Федор Юрьевич
RU2726045C1
Устройство интерференционного измерения проекции вектора перемещения поверхности диффузно-отражающего обьекта 1975
  • Власов Николай Георгиевич
  • Штанько Александр Евгеньевич
SU520507A1
ГОЛОГРАФИЧЕСКИЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДЕФОРМАЦИЙ ПЛОСКОЙ ПОВЕРХНОСТИ ЭЛЕМЕНТОВ ТВЕРДОТЕЛЬНОЙ ЭЛЕКТРОНИКИ 2009
  • Борыняк Леонид Александрович
  • Непочатов Юрий Кондратьевич
RU2406070C1
Способ измерения частотных характеристик механических конструкций оптическим методом 2017
  • Осипов Михаил Николаевич
  • Щеглов Юрий Денисович
  • Лимов Михаил Дмитриевич
RU2675076C1
Способ сравнения различных состояний диффузно-отражающих объектов 1972
  • Власов Николай Георгиевич
  • Пресняков Юрий Павлович
SU444050A1
СПОСОБ ГОЛОГРАФИЧЕСКОЙ ИНТЕРФЕРОМЕТРИИ ПЛОСКОГО ОБЪЕКТА 2003
  • Краснопевцев Е.А.
RU2255308C1
СПОСОБ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННОЙ МИКРОСКОПИИ 2013
  • Вишняков Геннадий Николаевич
  • Левин Геннадий Генрихович
  • Латушко Михаил Иванович
RU2536764C1
Способ записи интерферограммы контроля объектов в виде линз и объективов 1986
  • Гусев Владимир Георгиевич
SU1422046A1

Иллюстрации к изобретению SU 441 443 A1

Реферат патента 1974 года Интерферометр сдвига

Формула изобретения SU 441 443 A1

SU 441 443 A1

Авторы

Власов Николай Георгиевич

Вульман Игорь Константинович

Пресняков Юрий Павлович

Слоцкий Виктор Брониславович

Даты

1974-08-30Публикация

1972-07-24Подача