Способ измерения малых коэффициентов отражения Советский патент 1974 года по МПК G01R27/28 

Описание патента на изобретение SU446849A1

1

Изобретение относится к области измерительной техники.

Известен .способ измерения малых коэффициентов отражения. При возникновении фазомодулированной помехи (например, за счет движущихся частей установки), аналогичной полезному сигналу, происходит искажение отраженного сигнала и соответственно кривой калибратора (в частности, смещение минимума), что приводит к ощибкам в определении .коэффициента отражения.

С целью устранения влияния фазомодулированной помехи па точность измеряют амплитуду отраженного сигнала, соответствующую нисходящей ветви градуировочной кривой калибратора, измеряют амплитуду отраженного сигнала, соответствующую восходящей ветви этой же кривой и коэффициент отражения определяется по формуле

к.1 + ,

I рпм 1 2

где рпм - амплитуда сигнала от радиопоглощающего материала; «1 и Е к, -амплитуды сигнала от -калибратора соответственно для нисходящей и восходящей ветвей градуировочной кривой.

На фиг. 1 приведена функциональная схема установки, реализующей предлагаемый способ измерения малых коэффициентов отражения; на фиг. 2 показаны градуировочные кривые.

Высокочастотный сигнал от генератора 1 через направленный ответвитель 2, согласующий трансформатор 3 и симметрирующее устройство 4 поступает в измерительный канал - полосковую линию 5, нагруженную на идеальную поглощающую нагрузку 6. В измерительной полосковой линии совершают совместное возвратно-поступательное движение калибратор 7 и исследуемый поглощающий материал 8. Высокочастотный сигнал, отраженный от системы калибратор-исследуемый образец, через направленный ответвитель 2 поступает на индикатор 9.

Предлагаемый способ измерения малых коэффициентов отражения осуществляется следующим образом.

В начальный момент измерений устанавливают расстояние между пластинами калибратора так, чтобы коэффициент отражения от калибратора в целом был заведомо много больще предполагаемого коэффициента отражения от радиопоглощающих материалов. Причем установленное значение коэффициента отражения (Г), а следовательно, расстояние / между Пластинами должно соответствовать одной из ветвей калибровочной кривой, приведенной на графике (Г)/(//А,) для

соответствующей частоты - const, где

Л

а - толщина пластины диэлектрического калибратора, К - длина рабочей волны (на фиг. 2 приведены градуировечные кривые для двух длин волн KI и Аа).

Приводят систему калибратор-исследуемый образец материала в возвратно-поступательное движение и изменением расстояния между калибратором и образцом (d) добиваются минимальной амплитуды колебаний стрелки индикатора. Затем изменением расстояния между пластинами калибратора вновь добиваются минимальной амплитуды .колебаний стрелки индикатора. По достижении этого. эффекта измеряют расстояние /i между пластинами калибратора.

Аналогичные измерения повторяют при вновь устанавливаемом расстоянии между пластинами калибратора, соответствующем примерно тому же значению коэффициента отражения на соседней ветви той же градуировочной кривой. Вновь изменяя расстояние между калибратором и образцом, добиваются минимума амплитуды .-колебаний стрелки индикатора. Далее, изменяя расстояние между плаСтинами калибратора и добившись минимума амплитуды .колебаний, фиксируют новое значение расстояния между пластинами калибратора k. Пользуясь градуировочными кривыми -калибратора, по .полученным значениям /1 и /2 находят модули коэффициентов отражения калибратора |ri| и |А|, что эквивалентно нахождению амплитуд сигналов, отраженных от калибратора, Е, и 2 Истинное значение коэффициента отражения образца-материала определяют как полусумму модулей коэффициентов отражения и |/2|, когда значения коэффициентов получаются на разных ветвях графи1ка; и полуразность |ri| и |А|, когда значения коэффициентов получаются на одной ветви градуировочной кривой.

Предмет изобретения

Способ измерения малых коэффициентов отражения, отличающийся тем, что, с целью устранения влияния фазомодулированной помехи на точность, измеряют амплитуду отраженного сигнала, соответствующую нисходящей ветви градуировочной кривой калибратора, измеряют амплитуду отраженного сигнала, соответствующую восходящей ветви этой кривой, и коэффициент отражения определяют по фор|Муле

IP|Дк,1 + .1

|српм 2

где рпм - амплитуда сигнала от радиопоглощающего материала;

Ey И ЕК,, - амплитуды сигнала от калибратора соответственно для нисходящей и восходящей ветвей градуировочной кривой.

Фиг 1

Похожие патенты SU446849A1

название год авторы номер документа
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ МАЛЫХ КОЭФФИЦИЕНТОВ ОТРАЖЕНИЯ 1973
  • А. М. Расин, Н. И. Войтович, Ю. П. Колмаков, Л. И. Грачева, В. Г. Кравченко В. А. Шибаловский
SU420956A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТА ОТРАЖЕНИЯ РАДИОПОГЛОЩАЮЩЕГО Л\АТЕРИАЛА 1973
SU420958A1
РЕФЛЕКТОМЕТР 2010
  • Лобанов Борис Семенович
  • Сухоруков Александр Григорьевич
  • Субботин Игорь Юрьевич
  • Пикуль Анатолий Иванович
  • Покусин Дмитрий Николаевич
  • Мартынов Александр Петрович
  • Войтович Максим Иванович
RU2436107C1
ПОГЛОТИТЕЛЬ ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫХ ВОЛН И РАДИОПОГЛОЩАЮЩИЙ МАТЕРИАЛ ДЛЯ ЕГО ИЗГОТОВЛЕНИЯ 2012
  • Непочатов Юрий Кондратьевич
  • Вторушин Владимир Ульянович
  • Медведко Олег Викторович
RU2500704C2
Способ определения коэффициента отражения радиопоглощающего материала 1986
  • Давыдов Юрий Александрович
  • Карзинин Евгений Викторович
SU1423966A2
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТА ОТРАЖЕНИЯ ПО МОЩНОСТИ РАДИОПОГЛОЩАЮЩЕГО МАТЕРИАЛА В СВЕРХШИРОКОЙ ПОЛОСЕ ЧАСТОТ 2007
  • Бондаренко Виктор Васильевич
  • Власенко Евгений Юрьевич
  • Гаврилов Андрей Александрович
  • Манько Александр Николаевич
RU2346286C1
ИЗМЕРИТЕЛЬНАЯ УСТАНОВКА ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ЭФФЕКТИВНОЙ ПЛОЩАДИ РАССЕЯНИЯ МОДЕЛЕЙ РАДИОЛОКАЦИОННЫХ ЦЕЛЕЙ 2015
  • Валеев Георгий Галиуллович
RU2600492C1
Способ определения коэффициента отражения радиопоглощающего материала 1985
  • Давыдов Юрий Александрович
SU1290201A1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ЛОКАЛЬНЫХ ЭНЕРГЕТИЧЕСКИХ ЧАСТОТНЫХ СПЕКТРОВ И КОЭФФИЦИЕНТА ОТРАЖЕНИЯ РАДИОПОГЛОЩАЮЩЕГО МАТЕРИАЛА 2006
  • Бондаренко Виктор Васильевич
  • Гаврилов Андрей Александрович
  • Забалуев Валерий Евгеньевич
RU2321007C1
Способ измерения коэффициента отражения 1976
  • Стронская Светлана Константиновна
  • Нагибин Анатолий Иванович
SU647619A1

Иллюстрации к изобретению SU 446 849 A1

Реферат патента 1974 года Способ измерения малых коэффициентов отражения

Формула изобретения SU 446 849 A1

1г1% J0

15

2

SU 446 849 A1

Авторы

Расин Аркадий Мотелевич

Колмаков Юрий Петрович

Голлобина Любовь Степановна

Кравченко Всеволод Григорьевич

Шубаловский Вадим Александрович

Ведюшкин Герман Анатольевич

Даты

1974-10-15Публикация

1973-04-23Подача