Изсестен способ измерения СВЧ мощности с использованием основной эдс. Холла, возникающей в полупроводниковой пластинке вследствие воздействия на нее СВЧ поля.
Поскольку измеряемая э.д.с. Холла с СВЧ мощностью связана следующим образом; ,
-где С - некоторая константа, включающая размеры пластинки и коэффициент, зависящий от механиз ма рассеяния носителей тока в полупроводнике , а L- подвижност носителей тока. Изменение подвижности из-за изменения температуры окружающей среды или разогрева пластинки под действием СВЧмощности сказывается на точности определения СВЧ-мощности этим сросооом.
Определение СВЧ - мощности по градуировочной кривой в свою очередь вносит сличительную погрешность.
Цель изобретения - повышение точности измерения СВЧ-мощности- Достигается благодаря созданию в полупроводниковой пластине дополнительный э.д.о. Холла, которой уравновешивают основную э.д.с. Холла и определяют СВЧмощностБ по формуле
С 2 ЕО HO f
где HO - постоянное внеишее электрическое поле;
Но - постоянное внешнее
магнитное поле. Способ состоит в следумцем.
В полупроводниковой пластине параллельно вектору напряженности электрического СВЧ -поля создают постоянное электрическое поле HO . Эти поля наводят в под Гпроводниковой пластине дополнитёльную э.д.с. Холла,причем величины и знаки Ер и Но подбирают такими, чтобы созданная ими холловская э.д.с,уравновешивала холловскую Э.Д.Е., созданную в той же плас тине СВЧ - волной. При этом определяют величины ЕО и Но Удвоенное произведение Е о на HO равно СВЧ-мощности на нагрузке с, Действительно, холловское поле в пластинке у 1/ЯнН сл(т ),. Когда параллельно вектору напряженности электрического СВЧ поля прикладьшают постоянное эле трическое поле и параллельно век тору напряженности магнитного СВЧ-поля - постоянное магнитное поле, мгновенное значение Еу CJJ ( m с«5 о) {Hmi oSiJi Но а среднее за период By CjU (r°) J iEfnHmCOS i i- EffHniCQsM friHoC05u t EoHo}d-t C P-t oHo}fipuEg-O P Таким образом, по преддагаемому способу определения СШ-мощности исключается необходимость в определении константы с и подвижности ( зависящих от температуры окружащей среды и разогрева полупроводника СВЧ-волной. Не нужна также градуировка, что значительно повышает точность из-мерения СВЧ - мощности. ПРЕДМЕТ ИЗОБРЕТЕНИЯ Способ измерения СВЧ -мощное-., и с использованием основной э.д.с| Холла, возникающей в полупроводниковой пластине вследствие воздействия СВЧ-поля, отличающи и с я тем,что, с целью повышения точности, в полуттроводниковой пластине дополнительно создают э.д.с. Холла, которой уравновешивают основную э.д.с о Холла и определяют СВЧ-мощность по формуЕ п Н BO постоянное внешнее электрическое поле; о- постоянное внешнее магнитное поле.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Датчик холла | 1972 |
|
SU446920A1 |
СПОСОБ БЕСКОНТАКТНОГО ОПРЕДЕЛЕНИЯ КВАНТОВАННОГО ХОЛЛОВСКОГО СОПРОТИВЛЕНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВ | 2007 |
|
RU2368982C2 |
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ СВЧ-МОЩНОСТИ | 1972 |
|
SU425123A1 |
СПОСОБ БЕСКОНТАКТНОГО ОПРЕДЕЛЕНИЯ КВАНТОВАННОГО ХОЛЛОВСКОГО СОПРОТИВЛЕНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ | 2016 |
|
RU2654935C1 |
СПОСОБ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ НАПРЯЖЕННОСТИ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОГО ПОЛЯ | 2007 |
|
RU2337370C1 |
Устройство для измерения амплитуды импульсного магнитного поля и способ,его реализующий | 1980 |
|
SU918907A1 |
СПОСОБ ТЕРМОСТАТИРОВАНИЯ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЯ ХОЛЛА | 1994 |
|
RU2073877C1 |
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ НЕОСНОВНЫХ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДА В ПОЛУПРОВОДНИКАХ | 1989 |
|
SU1660532A1 |
Способ измерения сверхвысокочас-ТОТНОй МОщНОСТи | 1978 |
|
SU802880A2 |
Источник электромагнитного излучения | 1981 |
|
SU1023676A1 |
Авторы
Даты
1974-11-05—Публикация
1972-09-18—Подача