Установка для определения декремента колебаний материала при изгибных колебаниях Советский патент 1975 года по МПК G01N11/00 

1

Изобретение относится к установкам, предназначенным для исследования механических свойств материалов, в частности для определения характеристик рассеяния энергии.

Известны установки для определения декремента колебаний материала при изгибочных колебаниях, содержапдие два свободно подвешенных груза, к которым крепится исследуемый образец, зеркало, закрепленное на одном из грузов в узле колебаний, источник света и систему регистрации отраженного луча.

Недостатком известной установки является то, что световой луч регистрирует не только исследуемые изгибпые колебания образца, но и возможные поперечные и продольные перемещения колебательной системы образецгруз, что вносит искажения в получаемую виброграмму.

С целью повышения точности предлагаемая уста«овка снабжена закрепленным на другом грузе в узле колебаний дополнительным зеркалом, установленным параллельно первому.

На чертеже изображена принципиальная схема предлагаемой установки.

Она содержит два свободно подвешенных груза 1 и 2, в которых крепится исследуемый

образец 3, два зеркала 4 и 5, установленных на кронштейнах 6 и 7, закрепленных на грузах 1 и 2 в узлах колебаний вибрационной системы образец-груз, систему 8 регистрации отраженного луча и источника света 9. Грузы подвешивают на двух нерастяжимых нитях 10 и 11.

Установка работает следующим образом.

Образец закрепляют в грузах 1 и 2, полученную таким образом вибрационную систему подвешивают на двух нерастяжимых нитях 10 и 11, закрепленных в ее узлах колебаний.

Луч от источника света 9 направляют на зеркало 5 (или 4) таким образом, что, отразившись от одного из них, он обязательно идет «а второе зеркало 4 (или 5), и затем нопадает на приемник света системы 8 регистрации отраженного луча.

Отражающие поверхности зеркал 4 и 5 располагают перпендикулярно к продольной оси вибрационной системы нли под некоторым углом к ней и параллельно друг к другу.

Затем известным способом возбуждают резонансные колебания образца 3 с грузами 1 и 2.

При изгибных колебаниях вибрационной системы изменяется взаимный угол поворота

.tf

л. л -

-;

.. :::.- П-.л ,

- «.«4-,зеркал 4 и 5 вследствие чего происходит отклонение луча, который, попадая на приемник света системы 8 регистрации отраженного луча, прочерчивает прямую линию. Угол отклонения падающего на прием.ник света луча равен удвоенной сумме углов поворота зеркал.

В системе 8 регистрации отраженного луча помещен вращающийся барабан с фотобумагой, на которой фиксируется колебательный процесс в виде виброграммы.

457010

Предмет изобретения

Установка для определения декремента колебаний материала при изгибных колебаниях, содержащая два свободно подвещенных груза, к которым крепится исследуемый образец, зеркало, закрепленное на одном из грузов в узле колебаний, источник света и систему регистрации отраженного луча, отличающаяся тем, что, с целью повыщения точности, она снабжена закрепленным на другом грузе в узле колебаний дополнительным зеркалом, установленным параллельно первому.