1
Изобретение относится к электронной технике.
Устройство предназначено для предварительной проверки полупроводниковых приборов и может быть использовано в классификаторах и других автоматических устройствах различного назначения.
Известно устройство для подключения электродов электронных приборов к измерителю параметров. Это устройство не позволяет одновременно с контролем ориентации электродов полупроводниковых приборов в контактном устройстве отбраковывать полупроводниковые приборы с постоянным коротким замыканием в электродных выводах или / -п-переходах. Кроме того, в случае КЗО р-я-перехода невозможно предохранить измеритель параметров от перегрузок.
Целью изобретения является отбраковка полупроводниковых приборов с постоянным коротким замыканием электродных выводов или р-л-перехода и одновременный контроль ориентации полупроводникового прибора в контактном устройстве.
Поставленная цель достигается благодаря тому, что в устройство, содержащее блок питания, измеритель параметров, блок составных транзисторов, блок ключей, подключаю1цее и сортирующее устройства, введены накопительные емкости, которые параллельно
подключены к выходам транзисторов и RC-neпочками и последовательно через блок ключей к подключающему устройству.
Па чертеже представлена олок - схема предложенного устройства для предварительной проверки полупроводниковых приборов.
Устройство содержит блок питания 1, блок составных транзисторов 2, блок ключей 3, подключающее устройство 4, сортирующее устройство 5, измеритель параметров о. Блок составных транзисторов 2 связан через блок ключей 3 с подключающим устройством 4, с сортирующим устройством 5 и измерителем параметров 6.
При подключении испытуемого полупроводникового прибора к устройству 4 составятся электрические цепи.
Ток потечет по цепи того составного транзистора, проводимость которого совпадает с полярностью включенного р-л-перехода. Так, при совпадении полярности включенного в цепь испытуемого р-я-перехода с проводимостью транзистора 7 транзистор 7 открывается, заряжает емкость 8 и через резистор 9 заряжает емкость 10. Открывается транзистор И, и сигнал поступает на блок ключей 3, которые отключают цепи транзисторов 7, 11 от подключающего устройства 4 и производят требуемое подключение электродных выводов
испытуемого полупроводникового прибора к измерителю параметров 6.
При совпадении полярности включеииого в цепь испытуемого р-л-перехода с проводимостью транзистора 12, транзистор 12 открывается, заряжает емкость 13 и через резистор 14 заряжает емкость 15. Открывается транзистор 16, и сигнал поступает на блок ключей 3. Остальные операции аналогичны изложенным.
При подключении к подключающему устройству 4 прибора, в котором происходит короткое замыкание в р-п-переходе или электродных выводах, в положительный полупериод переменного напряжения блока питания 1 откроются транзисторы 12, 16 и зарядятся емкости 13, 15, а в отрицательный полупериод переменного напряжения откроются транзисторы 7, 11 и зарядятся емкости 8, 10. При поступлении второго сигнала на блок ключей 3, последние отключат от испытуемого полупроводникового прибора цепи транзисторов 7, 11, 12, 16 и закоротят вход измерителя параметров 6. На сортирующее устройство 5 поступит сигнал, устройство сработает и отбракует испытуемый полупроводниковый прибор
с коротким замыканием в электродных выводах или р-п-переходе.
Автоматическое устройство, созданное на основе предложенного устройства, позволило поднять производительность более чем в 10 раз и увеличить выход годных приборов на 2,5%. Автоматическое устройство опробовано на транзисторах типа КТ-315 при циклах сортировки 10.000 транзисторов в час.
Предмет изобретения
Устройство для предварительной проверки полупроводниковых приборов, содержащее
блок питания, измеритель параметров, блок составных транзисторов, блок ключей, подключающее и сортирующее устройства, отличающееся тем, что, с целью отбраковки коротких замыканий в р-л-переходе с . одновременным контролем ориентации прибора в контактном устройстве, оно содержит накопительные емкости, которые подключены параллельно к выходам составных транзисторов и / С-цепочкам и последовательно, через блок
ключей, к подключающе.му устройству.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Устройство для контроля полупроводниковых диодов | 1982 |
|
SU1064243A1 |
Измеритель заряда переключения транзисторов | 1980 |
|
SU945828A1 |
Устройство для измерения обратных токов полупроводниковых приборов | 1978 |
|
SU673939A1 |
Устройство для контроля полупроводниковых приборов | 1983 |
|
SU1213443A1 |
Устройство для токовой защиты от повреждения в сети переменного тока | 1988 |
|
SU1686567A1 |
Измеритель временных параметров полупроводниковых приборов | 1977 |
|
SU661436A1 |
Преобразователь статического коэффи-циЕНТА пЕРЕдАчи TOKA ТРАНзиСТОРА ВчАСТОТу | 1979 |
|
SU851290A1 |
Стабилизатор напряжения с защитой от перегрузки по току | 1974 |
|
SU526866A1 |
ВЫСОКОВОЛЬТНЫЙ КОММУТАТОР С ДИНАМИЧЕСКИМ ОГРАНИЧЕНИЕМ ЭНЕРГИИ | 2012 |
|
RU2510774C1 |
Устройство для исследования процессов релаксации емкости полупроводниковых диодов | 1983 |
|
SU1196784A1 |
,;- I
-..-„/.аЛ
г L.J I ikv f
Авторы
Даты
1975-06-05—Публикация
1973-07-06—Подача