Устройство предварительной проверки полупроводниковых приборов Советский патент 1975 года по МПК G01R31/26 

Описание патента на изобретение SU473133A1

1

Изобретение относится к электронной технике.

Устройство предназначено для предварительной проверки полупроводниковых приборов и может быть использовано в классификаторах и других автоматических устройствах различного назначения.

Известно устройство для подключения электродов электронных приборов к измерителю параметров. Это устройство не позволяет одновременно с контролем ориентации электродов полупроводниковых приборов в контактном устройстве отбраковывать полупроводниковые приборы с постоянным коротким замыканием в электродных выводах или / -п-переходах. Кроме того, в случае КЗО р-я-перехода невозможно предохранить измеритель параметров от перегрузок.

Целью изобретения является отбраковка полупроводниковых приборов с постоянным коротким замыканием электродных выводов или р-л-перехода и одновременный контроль ориентации полупроводникового прибора в контактном устройстве.

Поставленная цель достигается благодаря тому, что в устройство, содержащее блок питания, измеритель параметров, блок составных транзисторов, блок ключей, подключаю1цее и сортирующее устройства, введены накопительные емкости, которые параллельно

подключены к выходам транзисторов и RC-neпочками и последовательно через блок ключей к подключающему устройству.

Па чертеже представлена олок - схема предложенного устройства для предварительной проверки полупроводниковых приборов.

Устройство содержит блок питания 1, блок составных транзисторов 2, блок ключей 3, подключающее устройство 4, сортирующее устройство 5, измеритель параметров о. Блок составных транзисторов 2 связан через блок ключей 3 с подключающим устройством 4, с сортирующим устройством 5 и измерителем параметров 6.

При подключении испытуемого полупроводникового прибора к устройству 4 составятся электрические цепи.

Ток потечет по цепи того составного транзистора, проводимость которого совпадает с полярностью включенного р-л-перехода. Так, при совпадении полярности включенного в цепь испытуемого р-я-перехода с проводимостью транзистора 7 транзистор 7 открывается, заряжает емкость 8 и через резистор 9 заряжает емкость 10. Открывается транзистор И, и сигнал поступает на блок ключей 3, которые отключают цепи транзисторов 7, 11 от подключающего устройства 4 и производят требуемое подключение электродных выводов

испытуемого полупроводникового прибора к измерителю параметров 6.

При совпадении полярности включеииого в цепь испытуемого р-л-перехода с проводимостью транзистора 12, транзистор 12 открывается, заряжает емкость 13 и через резистор 14 заряжает емкость 15. Открывается транзистор 16, и сигнал поступает на блок ключей 3. Остальные операции аналогичны изложенным.

При подключении к подключающему устройству 4 прибора, в котором происходит короткое замыкание в р-п-переходе или электродных выводах, в положительный полупериод переменного напряжения блока питания 1 откроются транзисторы 12, 16 и зарядятся емкости 13, 15, а в отрицательный полупериод переменного напряжения откроются транзисторы 7, 11 и зарядятся емкости 8, 10. При поступлении второго сигнала на блок ключей 3, последние отключат от испытуемого полупроводникового прибора цепи транзисторов 7, 11, 12, 16 и закоротят вход измерителя параметров 6. На сортирующее устройство 5 поступит сигнал, устройство сработает и отбракует испытуемый полупроводниковый прибор

с коротким замыканием в электродных выводах или р-п-переходе.

Автоматическое устройство, созданное на основе предложенного устройства, позволило поднять производительность более чем в 10 раз и увеличить выход годных приборов на 2,5%. Автоматическое устройство опробовано на транзисторах типа КТ-315 при циклах сортировки 10.000 транзисторов в час.

Предмет изобретения

Устройство для предварительной проверки полупроводниковых приборов, содержащее

блок питания, измеритель параметров, блок составных транзисторов, блок ключей, подключающее и сортирующее устройства, отличающееся тем, что, с целью отбраковки коротких замыканий в р-л-переходе с . одновременным контролем ориентации прибора в контактном устройстве, оно содержит накопительные емкости, которые подключены параллельно к выходам составных транзисторов и / С-цепочкам и последовательно, через блок

ключей, к подключающе.му устройству.

Похожие патенты SU473133A1

название год авторы номер документа
Устройство для контроля полупроводниковых диодов 1982
  • Разлом Валерий Иванович
  • Бровко Борис Иванович
  • Белогуб Владимир Витальевич
  • Смирнов Георгий Леонидович
SU1064243A1
Измеритель заряда переключения транзисторов 1980
  • Иванютин Владимир Васильевич
SU945828A1
Устройство для измерения обратных токов полупроводниковых приборов 1978
  • Васильев Владимир Сергеевич
  • Батаев Сергей Федорович
  • Золототрубов Иван Тихонович
SU673939A1
Устройство для контроля полупроводниковых приборов 1983
  • Турченков Владимир Ильич
SU1213443A1
Устройство для токовой защиты от повреждения в сети переменного тока 1988
  • Райнин Валерий Ефимович
  • Карась Валентин Леонидович
  • Смирнов Борис Аркадьевич
SU1686567A1
Измеритель временных параметров полупроводниковых приборов 1977
  • Ковальков Владимир Ильич
  • Медведев Владимир Алексеевич
  • Ошемков Александр Александрович
SU661436A1
Преобразователь статического коэффи-циЕНТА пЕРЕдАчи TOKA ТРАНзиСТОРА ВчАСТОТу 1979
  • Ковальков Владимир Ильич
SU851290A1
Стабилизатор напряжения с защитой от перегрузки по току 1974
  • Самодуров Игорь Георгиевич
SU526866A1
ВЫСОКОВОЛЬТНЫЙ КОММУТАТОР С ДИНАМИЧЕСКИМ ОГРАНИЧЕНИЕМ ЭНЕРГИИ 2012
  • Горохов-Мирошников Евгений Эдуардович
RU2510774C1
Устройство для исследования процессов релаксации емкости полупроводниковых диодов 1983
  • Пузин Игорь Борисович
  • Хорунжий Александр Иванович
SU1196784A1

Иллюстрации к изобретению SU 473 133 A1

Реферат патента 1975 года Устройство предварительной проверки полупроводниковых приборов

Формула изобретения SU 473 133 A1

,;- I

-..-„/.аЛ

г L.J I ikv f

SU 473 133 A1

Авторы

Горобец Юрий Александрович

Даты

1975-06-05Публикация

1973-07-06Подача