Фотоэлектрическое устройство контроля положения объекта Советский патент 1975 года по МПК G01B9/00 

Описание патента на изобретение SU474674A1

Известны фотоэлектрические устройства контроля положения объекта, содержащие осветитель, щелевую диафрагму, сканирующий элемент, нолунрозрачное зеркало, объектив, штриховую сетку, связанную с объектом, фотоприемники с установленной иеред ними маской и электронную схему преобразования электрического сигнала в цифровой код.

Предлагаемое устройство отличается от известного тем, что на щелевой диафрагме вдоль каждой координатной оси нанесена дополнительная группа опорных щелей с щагом, равным щагу щтриховой сетки, и па пути светового потока, отраженного полупрозрачным зеркалом в прямом ходе лучей от осветителя, дополнительно установлены объектив с увеличением, предпочтительно, Р и фотоприемник с маской.

Такое выполнение повышает точность контроля положения объекта в плоскости.

На фиг. 1 приведена оптическая схема устройства; на фиг. 2 - многощелевая полевая диафрагма (а), опорная маска (б) и анализирующая маска (е) - темными участками показаны прозрачные щели; сетка щтрихов на ориентируемом объекте (г) - темными линиями обозначены неотражающие участки щтриховой сетки; на фиг. 3 - выходные сигналы с фотоприемных устройств (а - основной, б - опорный); на фиг. 4 - блок-схема обработки сигнала.

Устройство содержит осветительную лампу 1, конденсатор 2, многощелевую диафрагму 3; имеющую две серии щелей - основнук и опорную (щаг штрихов опорной серии в п раз меньше шага штрихов основной серии п равен шагу сетки штрихов на ориентируемой пластине 7), сканирующую стеклянную пластину 4, полупрозрачное зеркало 5, объектив с увеличением /г 6, пластину с сеткой щтрихов 7, анализирующую маску 8, объектив с увеличением I 9, опорпую маску 10 и фотоприемпик 11.

Устройство работает следующим образом.

Осветительной лампой 1 с помощью конденсатора 2 освещается диафрагма 3. Пучок света проходит через сканирующее устройство 4, полупрозрачное зеркало 5 и попадает в объектив 6, который с уменьшением проецирует изображение диафрагмы 5 в плоскость сетки штрихов ориентируемой пластины 7. Изображение освещенных участков строится в обратном ходе объектива 6 и отводится 5 полупрозрачным зеркалом 5 в плоскость анализирующей маски 8 (фиг. 2,6), через которую попадает на фотоприемное устройство //.

Часть светового потока, идущего из диафрагмы 3, отводится полупрозрачным зеркалом 5 в сторону объектива 9, который с увеЛНчением 1 строит изображение области диафрагмы 3 с опорной серией штрихов (ограниченная штриховым контуром на фиг. 2, а) в плоскости опорной маски 10. Световой поток, проходящий через оиориую маску, попадает на фотоприемиое устройство //. При враш,еиии плоскоиараллельной стеклянной пластипы, сканирование осундествляется по двум координатам по закону

А А cos со/ и ф Л sin to/,

где Л - амплитуда скапнроваиия; / - время сканн1зова11ня; со - угловая частота сканирования.

Получение сигналов по одиой координате рассмотрено на фиг. 3; на фнт. 3,а изображены /С-тый и {К+1)-ьм штрихи штриховой сетки, связанной с подвижным объектом, т. е. координатная еисте.ма ОХ является подвижной относительно оси сканирующего элемента. На фиг. 3,6 изображены опорные н;ели многощелевой диафрагмы, координатная система которых А неподвижна.

Начало неподвижной координатной системы можно привязать к опорной щели /. Тогда первый импульс серии (пачки) опорных импульсов (фиг. 1,в) будет задавать начальную или опорную фазу в каждом периоде сканнрования. Начало подвижной координатной системы ОХ при строго периодической щтриховой сетке можно связать с любым из ее щтрихов (так называемый относительный отсчет); если же на щтр.иховую сетку нанести какуЕолибо нерегулярность, начало системы ОХ может быть связано с конкретным штрихом (абсолютный отсчет). Соответствующий электрический сигнал в виде серий импульсов (основной сигнал) с непостоянной фазой внутри периода сканирования показан на фиг. 3, г. Сосчитав количество совнадений импульса основного сигнала с первым имнульсом опорного сигнала, получают относительную или абсолютную координату иоложения штриховой сетки с дискретностью, равной щагу X щтриховой сетки. Фиксируя номер опорного импульса, с которым произошло совпадение основного импульса, определяют положение объектива внутри шага штриховой сетки с дискретностью Х/п.

Ошибки в определении положения объекта, связанные с нелинейностью закона сканирования, устраняются тем, что основной и интерполяционный сигналы вырабатываются одним и тем же элементом.

Изображение опорных щелей, получепное дополнительным объективом в плоскости маски фотоприемииков в масштабе 1 : 1 пеоиодически смещается относительно маски на величину 2А. Маска представляет собой две щели, расположенные одна перпендикулярно к другой с ЩИриной, равной или меньшей ширины опорной щели. В процессе сканпровапия свет от изображения каждой опорной ще.ти поочередно поступает на фотоприемники, которые и формируют интерполяционный сигнал

по двум ортогональным координатам. Фор.ма щелей этой маски может иметь любой вид в том смысле, что две ее прямоугольные щели могут составлять любую конфигурацию при условии обеспечения перпендикулярности между ними и возможности разделеиия света на два фотоприемника, формирующие опорные сигналы по X и Y. То же самое относится к форме маски в основном канале. Устройство может исиользоваться для получения информации о положении объекта на нлоскости по двум коордиг)атам X, Y и углу разворота в плоскости. Как известно, положение нлоскости по X, Y к Ц) полиостью определяется тремя точками или зонами. Пример расположения анализируемых зон на щтрнховой сетке в ноле зрения объектива показан на фиг. 2,г.

По зонам I и И вырабатывается инс}зормация о положении объекта по оси К, а в зоне III - по осн X. При Y Yy угол 9 О, при У У2 . Для получення такой информации основиые сигналы по Y от зон I и П сравниваются по фазе с одним и тем же опорным сигналом по Y, поэтому для получения информации о трех координатах в опорном сигнале достаточно две координаты X н Y.

Схема содержит фотонриемник 12 основного канала, с|:)ормирователь 13 прямоугольных импульсов и схему 14 выделения середины импульсов, соответствеппо 15, 16 i 17 - те же элементы, но для онооного канала, реверсивный счетчик шагов 18, который отечитывает количество совпадений импульсов основного канала с первым импульсом опорного канала, счетчик интерполяции 19, показывающий номер опорного импульса, с которым произошло совпадение основного импульса. Для синхронизации работы схемы служит синхронизатор 20, который из осиовного сигнала выделяет сигналы прямого и обратного хода сканирования.

В процессе прямого хода производится измерение, а обратный ход используется для записи состояния в буферные регистры 21 и установления счетчиков в исходное состояние. Запись в счетчик шагов производится переключением триггера 22 из нулевого состояния в единичное, которое производится схемой совпадения 23 по совпадению во времени импульса основного канала, разрешения синхронизатора «прямой ход и первого опорного имнульса, который выделяется из серии (пачки) опорных импульсов дискриминатором 24 первого имнульса. Запись в счетчик интерполяции производится схемами совпадения 25 и 26 и триггером 27. Схема совпадения 25 устанавливает триггер 27 в единичное состояиие по совпадению сигналов «прямой ход, сигнала Основного канала с выхода схомы М и любого импульса опорного канала, кроме первого, что обеспечивается запретом НЕ 28. Пока совпадения нет, импульсы опорного канала поступают через схему совпадения 26 Прямой « код Обратный ход

J Запись

Похожие патенты SU474674A1

название год авторы номер документа
Устройство для нанесения меток на шкалу 1980
  • Бобро Валерий Васильевич
SU942944A1
Способ дистанционного контроля угловых перемещений объектов 1974
  • Цуккерман Соломон Тобиосович
SU510642A1
ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ ИНТЕРПОЛЯТОР ИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ СИГНАЛОВ 1973
SU369423A1
Способ преобразования неэлектрических величин в электрический сигнал 1973
  • Гаврилкин Анатолий Александрович
SU506891A1
Трехканальный фотоэлектрический микроскоп 1971
  • Гаврилкин Анатолий Александрович
SU498591A1
Фазоимпульсное фотоэлектрическое устройство наведения на штрих 1975
  • Якубчионис Юргис-Гедининас Витауто
  • Картанас Генрикас Ромуальдович
SU611108A1
Устройство для аттестации штриховых мер 1974
  • Данилов Александр Александрович
  • Мутовкин Андрей Александрович
SU505005A1
Фотоэлектрический микроскоп 1975
  • Сихарулидзе Важа Михайлович
SU567093A2
Устройство для контроля изделий по предельным размерам 1978
  • Пташенчук Юрий Александрович
  • Рудаков Константин Сергеевич
  • Сорокин Павел Алексеевич
  • Харизоменов Игорь Владимирович
SU727986A1
Устройство для контроля углового положения объектов 1979
  • Ульянцев Станислав Андреевич
SU783579A1

Иллюстрации к изобретению SU 474 674 A1

Реферат патента 1975 года Фотоэлектрическое устройство контроля положения объекта

Формула изобретения SU 474 674 A1

SU 474 674 A1

Авторы

Райхман Яков Аронович

Свидельский Арнольд Петрович

Колесников Вячеслав Михайлович

Пятецкий Роман Ерахмилович

Даты

1975-06-25Публикация

1970-05-29Подача