Способ количественной регистрации ик-свч излучения Советский патент 1975 года по МПК G01J1/58 

1

Изобретееие относиться к методам регистрации элек-грома1ПН1итнопо излучения и может использоваться для «эмерения структуры полей излучения ИК-лазер01в.

Известен способ регистрации ИК-СВЧ-пзлучения путем фотометрирова;ния фотопленки с изображением поля люминесценции облученного ИК-СВЧ-излучением тонкого экрана из лю1Мйнофора с тaплoiвы м тушением, находящегося в тер1мостате и равномерно облучеиноло ультрафиолетовым излучением.

Цель изобретения - усморание процесса и увеличение точности определения ра спределения мощности ИК-СВЧ-излучения.

Это достигается тем, что по предлагаемому способу инфракрасным излучением эталонного источника, в качестве которого используют йветоДиод, сканируют по экрану, одно1временно изменяя напряжение на оветодиоде до совпадения яркостей люашнофорного экрана и опорного оветодиода, излучающе1Го в .видимой области спектра, а исследуемое излучение регистрируют по напряжению на эталонном инфракрасном оветодиоде.

Введение дополнительного устройства регистрации позволяет калибровать люминеоцентный экран и получать информацию о раопределении мощности излучения в проц ессе р ешис тр а ци и.

Способ отличается от известного тем, что

излучение эталонного инфракрасного светодиода сканируется по люминесцентному экрану, одновременно сравнивается ярисость этой лю-минесценции с яркостью а алиброванНого светодиода сравнения (видимого излучения). При этом ультрафиолетовое излучение, вызывающее свечение люм инебцентното экрана, регулируют так, что при максимальном рабочем напряжении на эталонном инфракрасном светодиоде яркость люминесценции экрана и яр кость светодиода сравне ия совпадают. Далее на экран подают исследуемое ИК-СВЧ-нзлучение и последовательно в каждой заданной точке экрана доС11игают совпадения яркости экрана и яркости светодиода сравнения путем изменения на инфракрасном светодноде напряже1Ния, ло величине которого и судят о мощнос- н ИК-СВЧизлучения в заданной точке экрана.

На1пря1жение на инфракрасно светодиоде регистрируется на приборе, отградуированном в логарифм:ической шкале мощности излучения.

Способ позволяет получить данные о распределении Иитенсивности за несколько секунд вместо нескольких чассв для полей ИК-СВЧ-излучения достаточно простой с1ИМ1метр ИИ (iKpypOBoe пятно, ИНтерференционньге полосы и т. д). При этом направленно

сканирСБания выбираю г в соответствии с

сийШеприей картины распределения поля изл,у че1ния, наблюдаемое визуально a-ia люмниесцеитиом экране.

Онособ позволяет зйачителвдо повысить точйость измерений, как вместо олределеиия мощности излучейи я по величине почернения фотопленки (При регистрации теплового тушения лю1минофора ибпольэуется сравнение люминесденции со стабильным источН HKOtM (€Ве ТОДИ ОДО М ) .

Предмет изобретения

Способ количественной регистрации ИКСВЧ-излучения с помощью раз1мещенного в термостате экрана из люминофора с тепловым тущением, который одновременно Облучают постоянным ультрафиолетовым и исследуемым ИК-СВЧ-излучением, о т л и чающийся тем, что, с целью ускорения процесса и увеличения то1чности определения распределения мощности ИК-СВЧ-излучения по заданному направлению, соопветствующему сИ1Мметрии задачи, инфракрасным излученИем эталонного источника, в качестве «OTOpoi-o используют светодиод, сканируют но экрану, одновременно изменяя напряже1гие на светодноде до совпадения яркостей люминофорного экрана и опорного светодиода, излучающего в видимой области снектра, а нсследуемое излучен ие регистрируют по напряжению на эталонно1м иа1фракрасном светодиоде.