Устройство для определения интегралов типа свертки Советский патент 1975 года по МПК G06G9/00 

бирается такой, чтобы обеспечилась моду ляция проводимости каждого слоя на всю его глубину, падающим на слой светом; сэндвич-структура может быть нанесена на диэлектрическую подложку 5. Для искл чения взаимного влияния сигнаяЬв и весовой функции из-за проникновения оптических сигналов в чужие слои, для инерционного и безинерционного фотопроводящ го слоя выбираются полупроводниковые ма терийлы с различными спектральными областями чувствительности, или же между ними помещают пленочные непрозрачные йля света металлические островки. Йсточ ник света 6 и оптическая система 7 фор мируют световой пучок 8, который проходит через модулятор 9. Пропускание модулятора управляется обрабатьшаемым сиг налом S ( .t ). поступающим на управляющий вход модулятора 10. Дефлектор 1 электрооптического или иного типа и опти ческая система 12 обеспечивают сканирование изображения, про модулированного сигналом, по поверхности инерционного фоторезистивного слоя 1. Проекционная сигстема 13, содержащая движущийся оптический транспорант 14/ (например, кольцо кинопленки) проецирует на безинерцион- ный фоторезистивный слой 2 скЬозь проз- рачную подложку 5 движущееся изображение весовой функции. Устройство работает следующим образом. Ввод информации осуществляется последовательно при помощи сканирующего по поверхности.фоторезистивного слоя 1 в направлении X с постоянной скоростью U оптического изображения или луча, промодулированного сигналом S ( t ). Сигнал записьшается на слое 1 в виде рельефно- индуцированной лучом фотопроводимости.. Проводимость безинерционного фоторезистивного слоя 2 модулируется с помощью движущегося оптического транспоранта 14, I формирующего на слое 1 пространственное распределение напряжений -U (х- Ut ). Для получения непрерывной обработки в реальном масштабе времени зону обработки на сэндвич-структуре располагают так, чтобы ее фронт совпадал с фронтом записи сигнала (или отставал от него на постоянную величину .Х осуществляют их цикличное перемещение по структуре с одной и той же скоростью -V , направленной вдоль направления сканирования Ж . Пространственная протяженность зоны обработки t VT выбирается намного меньше длиныструктуры. Поэтому, когда фронт ьзаписи доходит до конца структуры и переносится обратным ходом развертки в начало, информация, записанная в tnoe 1 на предьщущем цикле, оказывается полностью стертой благодаря затуханию фотопроводи- мости. Таким образом, инерционный слой 1 оказьюается подготовленным к следующей записи. Движение изображения весовой функции организовано так, что когда фронт его доходит до конца структуры, он одновременно- появляется вначале. Такое движение может быть осуществлено при помощи оптического сканирования двумя разнесенными изображениями весовой функции. По мере выхбда одного изображения за пределы кадра, в кадр входит второе изображот-ние той же весовой функции. Результирующий сигнал снимается в виде тока I ( t ) между электродами 3 и 4, Формула изо бретения 1. Устройство для определения интегралов типа свертки, содержащее источник напряжения питания и расположенные на одной оптической оси источник све.та, модулятор, дефлектор, первый светопрозрачный электрод с нанесенным на него инерционным фоторезистивньгм слоем, второй светопрозрачный электрод с нанесенным на него безинерционным фоторезистивным слоем, диэлектрическую подложку и проекционную систему, отличающееся тем, что, с целью исключения взаимного влияния обрабатываемых сигналбв, устройство содержит металлическую непрозрачную ля света пленку островковой структуры, азмещенную между электрически связаными инерционным и безинерционным сломи, причем первый и второй светопрозачнЬге электроды подключены к источнику апряжения питания. 2. Устройство поп, 1,отличаюЩ е е с я тем, что фоторезистивные лои изготовлены из материалов с разнеенными областями спектральной чувствиельности.

к

::