Автоматический измеритель неоднородностей поверхности объекта Советский патент 1975 года по МПК G01B11/30 

Описание патента на изобретение SU493626A1

жит конденсор 10 и 11, периодическую структуру 12, представляющую собой совокупность двух дифракционных решеток, расположенных под некоторым углом и вращающихся за счет специального механического блока 13, фотоэлектрический умножитель (ФЭУ) 14, который питается от стабилизированного источника 15 высоковольтного напряжения. Выход ФЭУ соединен с устройством 16, предназначенным для оценки размеров неоднородностей. Диаметр отверстия диафрагмы 5 равен диаметру отверстия диафрагмы 8.

Устройство работает следующим образом.

Объект 17 освещается через конденсор 3 источником 1. Отражаясь от поверхности объекта, свет попадает в объектив, создающий увеличенное изображение поверхности объекта в плоскости вибрирующей диафрагмы 5. Диафрагма 8 определяет размер поля зрения и диаметр ее отверстия равен диаметру отверстия диафрагмы 5. Увеличенное изображение складывается из темных пятен от неоднородностей и светлых частей от гладкой новерхности. Анализирующее устройство производит анализ изображения. Применение вибрирующей диафрагмы позволяет выделить на выходе ФЭУ переменную составляющую сигнала, огибающая которой является спектром неоднородпостей. Введение вибрирующей диафрагмы позволяет излчерять неоднородности поверхности объекта при отсутствии механической связи прибора с объектом измерения. Применение диафрагмы 8 дает возможность изменять поле зрения прибора в зависимости от измеряемых неоднородностей. Амплитуда максимумов сигнала пропорциональна общей площади пятен, а расстояние между минимумами-горизонтальному размеру неоднородностей. Этот сигнал подается на устройство, которое на выходе дает значение размеров неоднородностей.

Предмет изобретения

Автоматический измеритель неоднородностей поверхности объекта, содержащий осветитель объектов, диафрагму поля зрения, анализирующее устройство и объектив, проецирующий изображение поверхности объекта на анализирующее устройство, отличающийся тем, что, с целью облегчения процесса измерения и измерения в труднодоступных местах, он снабжен вибрирующей диафрагмой с диаметром, равным диаметру диафрагмы ноля зрения, установленной между объективом и диафрагмой поля зрения.

Похожие патенты SU493626A1

название год авторы номер документа
АВТОМАТИЧЕСКИЙ ИЗМЕРИТЕЛЬ НЕОДНОРОДНОСТЕЙ ПОВЕРХНОСТИ ОБЪЕКТА 1971
SU319840A1
ТЕНЕВОЙ ПРИБОР 1969
SU239578A1
Способ и устройство для Фурье-анализа жидких светопропускающих сред 2021
  • Дроханов Алексей Никифорович
  • Благовещенский Владислав Германович
  • Краснов Андрей Евгеньевич
  • Назойкин Евгений Анатольевич
RU2770415C1
Дистанционный теневой визуализатор плотностных неоднородностей морской воды 1980
  • Авраменко Александр Сергеевич
  • Дурович Эрнст Юрьевич
SU934319A1
Оптико-электронное устройство для стендовой фокусировки фотообъективов 1980
  • Великотный Михаил Александрович
  • Розов Юрий Андреевич
SU932342A1
Устройство для исследования температурных полей 1981
  • Войцехов Юрий Романович
SU991192A1
КООРДИНАТОР 1988
  • Бурлака Петр Демидович
  • Когут Олег Петрович
SU1841006A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ СВИЛЬНОСТИ ОПТИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ 2006
  • Кишкурно Анатолий Александрович
  • Краснушкин Алексей Анатольевич
  • Миалович Григорий Константинович
  • Мусин Лев Федорович
  • Самохина Ирина Александровна
  • Шульженко Петр Константинович
RU2303775C1
ШИРОКОПОЛОСНЫЙ СПЕКТРОЗОНАЛЬНЫЙ АНАЛИЗАТОР 1992
  • Аушев Анатолий Федорович
RU2068175C1
Теневое автоколлимационное устройство 1977
  • Копылов Анатолий Павлович
  • Королев Алексей Николаевич
  • Красовский Эдуард Иосифович
  • Наумов Борис Валентинович
SU673956A1

Иллюстрации к изобретению SU 493 626 A1

Реферат патента 1975 года Автоматический измеритель неоднородностей поверхности объекта

Формула изобретения SU 493 626 A1

m g

/7

--

э

,/..

Л

SU 493 626 A1

Авторы

Карпова Галина Васильевна

Даты

1975-11-30Публикация

1973-04-17Подача