Спектрометр с интерференционной селективной амплитудной модуляцией Советский патент 1978 года по МПК G01N3/00 

Описание патента на изобретение SU495945A1

1

Изобретение может быть использовано в спектрометрии высокой разрешающей силы для любой области спектра.

В известных спектрометрах с интерференционной селективной амллитудной модуляцией используется дифракционная решетка с симметричным профилем штрихов, которая закреплена на неподвижном основании. Используемое для модуляции дополнительное зеркало установлено перпендикулярно плоскости решетки с возможностью перемешения в небольших пределах по нормам к отражающей поверхности. Для сканирования длин волн по спектру используются два автоколлимационных зеркала, которые установлены на общем основании перпендикулярно свету одной длины 1волны. Сканирование осуществляется поворотом основания вокруг оси, ероходящей через середину отрезка, соединяющего середины зеркал, перпендикулярно ему.

Однако такое устройство имеет сложные настройку оптических элементов и сканирование по спектру длин волн, низкую помехоустойчивость, кроме того, невозможно осуществление когерентной модуляции, ограничен рабочий иитервал спектпа и имеется виньетирование лучей.

Цель изобретения - увеличение рабочего интервала спектра и помехоустойчивости измерений, упрощение сканирования по длине волны и настройки, а также возможности когерентной модуляции светового потока на выходе спектрометра и уменьшения виньетирования.

Для этого оптические узлы предлагаемого спектрометра выполнены из отражающих свет элементов, дополнительное зеркало установлено параллельно штрихам дифракционной решетки п соединено с ней по возможности с меньшим зазором, а плоскости автоколлимацнонных зеркал совмешены так, что отражающие поверхности оказываются нанесенными на одну подложку и представляют собой единое зеркало. Для устранения виньетирования ось врашения автоколлимационных зеркал расположена на линии пересечения дополнительного зеркала и Д1 фракцион юи решетки.

На чертеже представлена схема предлагаемого устройства.

Дифракционная решетка 1 с симметричным профилем штрихов укреплена па неподвижном основании. Дополнительное зеркало 2 установлено )1ерпендикулярно плоскости решетки 1 параллельно ее inTpii

Похожие патенты SU495945A1

название год авторы номер документа
Спектрометр с интерференционной селективной амплитудной модуляцией 1981
  • Кириченко Николай Андреевич
  • Козлов Юрий Георгиевич
  • Лопатин Александр Иосифович
  • Масленников Олег Александрович
  • Раховский Вадим Израилович
  • Шустряков Валерий Михайлович
  • Шухтин Алексей Михайлович
SU979884A1
Спектрометр с интерференционной селективной амплитудной модуляцией 1986
  • Кириченко Николай Андреевич
  • Лопатин Александр Иосифович
  • Раховский Вадим Израилович
  • Вершинский Александр Евгеньевич
  • Иоаннисиани Андроник Багратович
SU1362949A1
Интерференционный спектральный прибор 1984
  • Кириченко Николай Андреевич
  • Лопатин Александр Иосифович
  • Раховский Вадим Израилович
  • Иоаннисиани Андроник Богратович
SU1483286A1
Спектрометр с интерференционной селективой амплитудной модуляцией 1977
  • Козлов Юрий Георгиевич
SU640136A1
Спектрометр-интерферометр с селективной амплитудной модуляцией 1959
  • Архипов В.М.
  • Желудов Б.А.
  • Киселев Б.А.
SU127054A1
Монохроматор 1989
  • Золотенин Игорь Александрович
  • Макаров Владимир Леонидович
SU1656341A1
СПОСОБ ИНТЕРФЕРОМЕТРИЧЕСКОГО ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЯ ФОРМЫ ОПТИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ И СИСТЕМА ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2002
  • Скворцов Ю.С.
  • Трегуб В.П.
  • Герловин Б.Я.
RU2263279C2
СКАНИРУЮЩИЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЯ ФОРМЫ ОПТИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ 2002
  • Скворцов Ю.С.
  • Трегуб В.П.
RU2264595C2
Устройство для контроля фокусировки проекционного объектива 1987
  • Бедулин Николай Иванович
  • Есьман Василий Михайлович
  • Симонов Александр Тихонович
  • Янкелев Ефим Лазаревич
SU1525664A1
Интерференционный спектрометр 1978
  • Бушев Юрий Алексеевич
  • Гершун Михаил Андреевич
  • Котылев Владимир Николаевич
  • Пушкин Юрий Дмитриевич
SU763676A1

Иллюстрации к изобретению SU 495 945 A1

Реферат патента 1978 года Спектрометр с интерференционной селективной амплитудной модуляцией

Формула изобретения SU 495 945 A1

SU 495 945 A1

Авторы

Козлов Ю.Г.

Лопатин А.И.

Даты

1978-09-30Публикация

1974-06-13Подача