1
Изобретение может быть использовано в спектрометрии высокой разрешающей силы для любой области спектра.
В известных спектрометрах с интерференционной селективной амллитудной модуляцией используется дифракционная решетка с симметричным профилем штрихов, которая закреплена на неподвижном основании. Используемое для модуляции дополнительное зеркало установлено перпендикулярно плоскости решетки с возможностью перемешения в небольших пределах по нормам к отражающей поверхности. Для сканирования длин волн по спектру используются два автоколлимационных зеркала, которые установлены на общем основании перпендикулярно свету одной длины 1волны. Сканирование осуществляется поворотом основания вокруг оси, ероходящей через середину отрезка, соединяющего середины зеркал, перпендикулярно ему.
Однако такое устройство имеет сложные настройку оптических элементов и сканирование по спектру длин волн, низкую помехоустойчивость, кроме того, невозможно осуществление когерентной модуляции, ограничен рабочий иитервал спектпа и имеется виньетирование лучей.
Цель изобретения - увеличение рабочего интервала спектра и помехоустойчивости измерений, упрощение сканирования по длине волны и настройки, а также возможности когерентной модуляции светового потока на выходе спектрометра и уменьшения виньетирования.
Для этого оптические узлы предлагаемого спектрометра выполнены из отражающих свет элементов, дополнительное зеркало установлено параллельно штрихам дифракционной решетки п соединено с ней по возможности с меньшим зазором, а плоскости автоколлимацнонных зеркал совмешены так, что отражающие поверхности оказываются нанесенными на одну подложку и представляют собой единое зеркало. Для устранения виньетирования ось врашения автоколлимационных зеркал расположена на линии пересечения дополнительного зеркала и Д1 фракцион юи решетки.
На чертеже представлена схема предлагаемого устройства.
Дифракционная решетка 1 с симметричным профилем штрихов укреплена па неподвижном основании. Дополнительное зеркало 2 установлено )1ерпендикулярно плоскости решетки 1 параллельно ее inTpii
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Спектрометр с интерференционной селективной амплитудной модуляцией | 1981 |
|
SU979884A1 |
Спектрометр с интерференционной селективной амплитудной модуляцией | 1986 |
|
SU1362949A1 |
Интерференционный спектральный прибор | 1984 |
|
SU1483286A1 |
Спектрометр с интерференционной селективой амплитудной модуляцией | 1977 |
|
SU640136A1 |
Спектрометр-интерферометр с селективной амплитудной модуляцией | 1959 |
|
SU127054A1 |
Монохроматор | 1989 |
|
SU1656341A1 |
СПОСОБ ИНТЕРФЕРОМЕТРИЧЕСКОГО ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЯ ФОРМЫ ОПТИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ И СИСТЕМА ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ | 2002 |
|
RU2263279C2 |
СКАНИРУЮЩИЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЯ ФОРМЫ ОПТИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ | 2002 |
|
RU2264595C2 |
Устройство для контроля фокусировки проекционного объектива | 1987 |
|
SU1525664A1 |
Интерференционный спектрометр | 1978 |
|
SU763676A1 |
Авторы
Даты
1978-09-30—Публикация
1974-06-13—Подача