Спектрометр-интерферометр с селективной амплитудной модуляцией Советский патент 1960 года по МПК G02F1/21 G02B9/02 G01J3/18 

Известен спектрометр-интерферометр с селективной амплитудной модуляцией, выполненный по схеме интерферометра с одной плоской диффракционной решеткой и симметричным профилем штриха. Сканирование спектра в этом приборе осуществляется поворотом концевых зеркал в противоположных направлениях. Селективная модуляция производится, например, поступательным движением одного из этих зеркал в направлении, перпендикулярном плоскости зеркала. Такое осуш.ествление сканирования и модуляции затруднено сложностью согласования поворотов зеркал.

В описываемом приборе указанный недостаток устранен тем, что что сканирование спектра производится двумя зеркалами, которые жестко закреплены на общем основании и поворачиваются вокруг оси вращения. Это полностью исключает ощибки в углах поворота каждого из зеркал. Для модуляции используют третье зеркало, которое расположено перпендикулярно или параллельно плоскости диффракционной решетки.

На фиг. 1 изображена схема спектрометра-интерферометра, в котором модуляционное зеркало расположено параллельно диффракционной решетке; на фиг. 2-то же, перпендикулярно диффракционной решетке.

В обеих схемах цучок параллельных лучей падает на диффракционную решетку / перпендикулярно. При этом интерферируют между собой пучки правых и левых порядков. Автоколлимационные зеркала 2 и 3, с помощью которых сканируют спектр, жестко закреплены на общем основании и поворачиваются вокруг обшей оси вращения 4, что полностью исключает ошибки в углах поворота каждого из зеркал. Зеркало 5 служит для .осуществления модуляции и установлено параллельно (фиг. 1) или перпендикулярно (фиг. 2) плоскости диффракционной- решетки /.

Предмет изобретения

Спектрометр-интерферометр с селективной амплитудной модуляцией, выполненный по схеме интерферометра с одной диффракционной решеткой, с симметричным профилем штрихов, отличающийся тем, что, с целью облегчения сканирования спектра, автоколлимационные зеркала крепятся на общем основании и на общей оси вращения; при этом для модуляции используется дополнительное зеркало, расположенное параллельно или перпендикулярно плоскости диффракционной рещетки.

11