Способ определения светопроницаемости образца Советский патент 1976 года по МПК G01N21/30 

1

Изобретение относится к способам определения светопроницаемости образцов.

Известные способы определения светопроницаемости образца основаны на фотометрических измерениях отношения прошедшего через образец светового потока к падаюш,ему.

Однако известные способы определения светопроницаемости образца не позволяют получить требуемую точность.

Цель изобретения - повышение точности измерений. Это достигают за счет того, что под образцом помеш,ают подложку, содержаш,ую отражаюш,ую п поглош;аюш,ую части, определяют коэффициенты отражения образца, помеш,ая под ним поочередно обе части подложки, затем измеряют коэффициент отражения отражающей части подложки и по функциональной зависимости между полученными результатами и светопроницаемостью, последнюю определяют из выражения:

(АОТР

1

V

J,

отр. отр. ч

где т-светопроницаемость образца; отр и погл - коэффициенты отражения образца, расположенного над отражающей и поглощающей частями подложки, соответственно;

.отр.ч - коэффициент отражения отражающей части подложки.

Формула изобретения

Способ определения светопроницаемости образца, при осуществлении которого на образец направляют световой поток, измеряют падающий и прошедший через него световые потоки, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений, под образцом помещают подложку, содержащую отражающую и поглощающую части, определяют коэффициенты отражения образца, помещая под ним поочередно обе части подложки, затем измеряют коэффициент отражения отражающей части подложки и по функциональной зависимости между полученными результатами и светопроницаемостью последнюю определяют из выражения.

|/(отр 1

п

-г

АПОГЛ) АПОГЛ I

й„

отр. отр. ч

где Т-светопроницаемость образца; отр и - погот - коэффициенты отражения образца, расположенного над отражающей и поглощающей частями подложки соответственно; .отр.ч - коэффициент отражения отражающей части подложки.