Устройство для контроля отклонений поверхности от заданной формы Советский патент 1976 года по МПК G01B11/24 G01D5/26 

жет быть выполнена или на делительной машине для случая измерения отклонеиий от прямолинейности, как показано на фиг. 2, или фотопутем для иных форм. В последнем случае нйправляюшие должны быть выполнены с приближением, к форме диа- .

При дЬижении каретки 3 ощупывах щий штифт 7 скользит по контролируемой поверхности, отклонения которой вызывают смещение его и укрепленного на нем микрообъектива 4. относительно неподвижной освещенной щелевой диафрагмы 2, что приводит к смешению изображения видимой в микрообъектив 4 части этой диафрагмы в фокальной плоскости тубусного объектива 5, с которой совмещен фотодатчик 6. Сигнал с фотодатчика передается на самописец.

Формула изобретения

Устройство для контроля отклонений поверхности от заданной формы, содержащее станину, перемещаемую по ней карютку с располбженными в ней микрообъективом, тубусным объективом, фотодатчиком и пружинным подвесом со щупом,, эталон, встроенный в станину, отл. ичающееся тем, что, с «елью повышения точности измерений и упрощения конструкции, эталон .выполнен в виде щелевой диафрагмы и установлен в предметную плоскость микрообтзектива.

иг.2.