Устройство для измерения отклонения формы поверхности Советский патент 1975 года по МПК G01B11/24 G01D5/26 

I

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения качества обработанных поверхностей.

Известно устройство для измерения отклонения формы поверхности, содержащее корпус с направляющими, перемещающуюся по ним каретку с измерительным щтифтом, жестко связанную с ним головку, выполненную в виде микрообъектива и тубусного объектива, расположенный под ней стеклянный брус с эталонной поверхностью и измерительный блок.

Предлагаемое устройство отличается от известного тем, что головка выполнена в виде проектирующего и измерительного микрообъективов, размещенных под углом, например 90°, друг к другу с возможностью перемещения перпендикулярно стеклянному брусу.

Такое выполнение устройства позволяет повысить точность измерения.

Иа фиг. 1 изображено предлагаемое устройство; на фиг. 2 - то же, поперечный разрез.

Устройство для измерения отклонения формы поверхности содержит корпус 1 с направляющими, каретку 2 с измерительным штифтом 3, на котором закреплена головка, выполненная в виде проектирующего 4 и

измерительного 5 микрообъектов, два тубусных объектива 6, 7, стеклянный брус 8 с эталонной поверхностью и измерительный блок 9, причем микрообъективы 4, 5 размещены под углом 90° один относительно другого и имеют возможность перемещаться перпендикулярно стеклянному брусу 8.

Устройство работает следующим образом.

При движении каретки 2 измерительный штиф 3 скользит по контролируемой поверхности, отклонения которой от заданной формы вызывают вертикальные перемещения.

Это приводит к сдвигу изображения диафрагмы 10, стоящей в фокальной плоскости тубусного объектива 6. Отраженное от эталонной поверхности изображение диафрагмы 10 микрообъективом 5 переносится в фокальную плоскость тубусного объектива 7, с которой совмещен фотодатчик измерительного блока 9, отслеживающего положение изображения диафрагмы. Результаты измерения передаются на самописец.

Предмет изобретения

Устройство для измерения отклонения формы поверхности, содержащее корпус с направляющими, перемещающуюся по ним каретку с измерительным щтифтом, жестко связанную с ним головку, выполненную в виде

микрообъектива и тубусного объектива, расположенный под ней стеклянный брус с эталонной поверхностью и измерительный блок, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерений, головка выполнена в виде проектирующего и измерительного микрообъективов, размещенных под углом, например, 90° друг к другу с возможностью перемещения перпендикулярно стеклянному брусу.

(Риг1

Фиг.2