Устройство для измерения параметров транзисторов Советский патент 1976 года по МПК G01R31/26 

Изобретение относится -к контрольно-измерительной технике, предназначенной для контроля параметров (измерения и классификации) полупроводниковых биполярных транзисторов.

Известные устройства для измерения постоянной времени цепи обратной связи на высокой частоте т в/в Ск-в и емкостей переходов транзисторов, например емкости перехода коллектор- база Ск-б, содержат генераторы ВЧ-сигнала, вольтметр, контактное устройство и источник -питания постоянным током. iB этих устройствах для перехода от измерений Твв С,(б к измере1НИЯ1М Ск-б и обратно применяется ключ, который заземляет базу испытуемого транзистора при измерении TB/B Ск-б или подключает базу к токосъемному сопротивлению при измерении

Ск-б

Недостатками известных устройств являются малая точность и низкая производительность измерений.

Предложенное устройство позволяет устранить указанные недостатки благодаря тому, что между клеммой контактного устройства для подключения базы транзистора и землей включен последовательный резонансный LCконтур, а параллельно конденсатору этого контура подключен вольтметр. Это обеспечивает автоматические измерения высокочастотных параметров без каких-л збо переключений цепей контактного устройства.

Структурная схема устройства приведена на чертеже.

Устройство содержит генераторы / и, 2 ВЧ-сигпала, подключенные к коллекторной С и эмиттерпой Е клеммам контактного устройства 3 соответственно. К эмиттерной клем1ме также подключен вольтметр 4. К базовой клемме В контактного устройства 2 подключен последовательный LC-контур, состоящий из индуктивности 5 и конденсатора в. Второй вывод контура заземлен. Паразитная индуктивность 7 электрического вывода базовой клеммы включена последовательно LC-контуру. Параллельно конденсатору 6 включен вольтметр 8. Индуктивность 5 выполнена переменной (подстроечной).

Рассмотрим работу устройства для случая,

когда частота измерения тве Ск-5 и частота измерения Ск-б Сд равны. В других случаях принцип проведения И3(мерений сохраняется, а под частотой измерения понимают частоту

измерения Твв Ск-б .

При подготовке устройства к работе последовательный LC-контур настраивается так, чтобы на частоте измерений резонировали суммарная индуктивность 5 и 7 и емкость конденсатора 6. Контроль настройки осуще