Способ определения потенциалов в плазме Советский патент 1980 года по МПК H05H1/00 

Описание патента на изобретение SU511796A1

(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОТЕНЦИАЛОВ В ПЛАЗМЕ тем определяют время нахождения зонди руйщих частиц в плазме, так как это время зависит от энергии зондирующих частиц, то определяют также эт зави симость. Зная указанную зависимость и ее функциональную связь с распределением потенциалов в плазме, определяют это распределение. Таким cnocotSoM мож но определить распределение потенциа лов в плазме низкой плотности, так как в отличие от прототипа процесс п резарядки зондирующих частиц, завися щий от плотности плазмы, в предлагае мом способе не учитывается. При зондировании плазмы., положител но заряженными ионами предпагаемый способ может быть реализован следующим образом. Пучок моноэнергетических ионов с известной энергией из источника 1 мо дулируют модулятором 2 в виде серии импульсов и направляют магнитным полем поворотного магнита 3 с помощью юстировочного устройства в исследуемую плазму 6. (Одновременно с началом импульса сигнал с модулятора поступает во временной анализатор 4). При наличии электростатического потенциала в плазме ионы отражаются в той точке, в которой пстенциал Плазмы соответствует, заданной энергии мо ноэнергетических зондирующих ионов. Причём пучок ионов с помощью юсти ровочного устройства направляют так, что отраженные ионы повторяют в плаз ме путь падающих. Это возможно лишь тогда, когда направление зондирующего пучка перпендикулярно к эквипотен циальной поверхности, от которой отразились ионы е соответствующей энер гией . Е е и. где - энергия иона, - заряд иона, и - Потенциал в точке отражения иона. Отраженные ионы вновь проходят че рез магнитное попе поворотного магнита 3 и регистрируются детектором 5 сигнал с которого также поступает во временной анализатор 4, где его срав нивают с предыдущим сигналом от модулятора 2. По разности фаз этих сигналов определяют время tg нахождения зондирукхцих ионов в плазме, необходимое на прямое и обратное движение ионов с и.зв естной энергией: 0 t - время движения зондирующих ионов вне плазмы ив плазме (определяют по временному анализатору); tjj - время движения зондирующих ионов вне плазмы; И - путь ионов вне плазмы; - скорость ионов. Изменяя последовательно энергию зондирукадих ионов, определяют зависимость времени, необходимого на прямое и обратное движение ионов в плазме, от энергии этих ионов. При произвольном, неизвестном характере распределения потенциала в плазме и U(), где - расстояние в плазме,-X(X - точка отражения ионов), время, необходимое на прямое и обратное движенит иона в плазме, в зависимости от его энергии Е определяется уравнением t 1рГ. о flAlyuw-u«.i) где iTij - масса иона; е; - заряд иона; и- - потенциал плазмы в точке от-, ражения иона. Интегрирование этого уравнения приводит к выражению: ||М1Д --.„,(„ где С (Е ) - зависимость времени нахождения зондирующих ионов в плазме от их энер, гии; t - текущая энергия иона; X - координата точки отражения иона с энергией Е. Согласно предлагаемому способу экспериментально определяют зависимость времени t( Е), необходимого на прямое и обратное движение ионов в плазме, от энергии этих ионов. Полученную зависимость подставляют в формулу (4), решают полученное уравнение и определяют распределение потенциа-ов в плазме U (). Пример. Пусть экспериментальная зависимость Т(Е) Г const. огда решение уравнения (2) записывается в виде: И решением будет U (х) ах, т. е. распределение потенциалов в плазме параболическое. Предлагаемым способом можно определить распределение потенциалов в плазме низкой плотности. Ограничения на плотность пЛазмы снимаются, так как в отличие.от прототипа процесс перезарядки зондирующих частиц, завит сящий от Плотности плазмы, в предлагаемом способе не учитывается. Определение распределения потенциалов в плазме с помощью отраженного зондирующего пучка моноэнергетических заряженных частиц приводит к снятию ограничений на симметрию плазменного объекта, характерных для спосо бов, использующих для диагностики плазмы сквозной пролет зондирующих частиц. Принципиальная схема реализации предлагаемого способа предусм ривает также уменьшение количества оборудовс1ния, используемого для определения потенциалов в плазме друг ми способами. Формула изобретения Способ определения потенциалов в плазме с эквипотенциалями, ортогона ными некоторым направлениям, путем импульсного зондирования плазмы моноэнергетическим пучком заряженных частиц с известной энергией, отличающийся тем, что, с целью обеспечения возможности измерения потенциалов при низких плотностях плазмы, зондирование осуществляют ерией импульсов с последовательно увеличиваемой энергией частиц, причем направляют частицы по одному из указанных направлений, определяют зависимость времени нахождения отрголенных плазмой вдоль направления зондиро вания частиц от их энергии, а по полученной зависимости судят о распределении потенциала в плазме в указанном направлении.

Похожие патенты SU511796A1

название год авторы номер документа
В П Т Б 1973
  • А. А. Калмыков О. А. Лаврентьев
SU400067A1
Способ преобразования пучка моноэнергетических протонов в пучок протонов сложного спектра при проведении операций лучевой терапии 2024
  • Яковлев Михаил Викторович
  • Яковлева Анастасия Дмитриевна
RU2823905C1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ЭНЕРГЕТИЧЕСКОГО СПЕКТРА ИОНОВ ПЛАЗМЫ 2020
  • Сатов Юрий Алексеевич
RU2726954C1
СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ ВОЗДУШНЫХ ЦЕЛЕЙ 1999
  • Грибанов Ю.А.
  • Овчинников А.В.
  • Родионов В.А.
  • Сапожников Н.А.
  • Викторов В.П.
  • Орлов М.А.
RU2178187C2
Способ получения ионных потоков 1972
  • Лаврентьев О.А.
SU484797A1
Способ анализа ионов по энергиям, массам и зарядам и устройство для его осуществления 2019
  • Строкин Николай Александрович
  • Нгуен Тхе Тханг
  • Казанцев Александр Владимирович
  • Бардаков Владимир Михайлович
RU2708637C1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ЭНЕРГЕТИЧЕСКОГО СПЕКТРА ИОНОВ 2014
  • Строкин Николай Александрович
  • Иванов Сергей Дмитриевич
  • Казанцев Александр Владимирович
  • Бардаков Владимир Михайлович
RU2570110C1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПЛОТНОСТИ ЭЛЕКТРОНОВ В ПЛАЗМЕ МЕТОДОМ ОПТИЧЕСКОЙ СПЕКТРОСКОПИИ 2013
  • Волошин Дмитрий Григорьевич
  • Зырянов Сергей Михайлович
  • Ковалев Александр Сергеевич
  • Лопаев Дмитрий Викторович
  • Манкелевич Юрий Александрович
  • Поройков Александр Юрьевич
  • Прошина Ольга Вячеславовна
  • Рахимов Александр Турсунович
  • Ястребов Александр Александрович
RU2587468C2
Энергетический анализатор с электростатическим зеркалом 1986
  • Бейзина Людмила Георгиевна
  • Карецкая Светлана Петровна
  • Кельман Вениамин Моисеевич
SU1436148A2
СПОСОБ ДИСТАНЦИОННОГО КОНТРОЛЯ РАДИАЦИОННОЙ ОБСТАНОВКИ ЗОН С ОБЪЕКТАМИ РАДИОАКТИВНЫХ ВЫБРОСОВ И ЗАГРЯЗНЕНИЙ 1999
  • Елохин А.П.
RU2147137C1

Иллюстрации к изобретению SU 511 796 A1

Реферат патента 1980 года Способ определения потенциалов в плазме

Формула изобретения SU 511 796 A1

Фш./

Фие.2

SU 511 796 A1

Авторы

Лаврентьев О.А.

Зайцев Б.В.

Сидоркин В.А.

Даты

1980-04-05Публикация

1974-05-24Подача