Устройство для активного контроля размеров и выявления неточностей формы обрабатываемых изделий Советский патент 1976 года по МПК B24B49/10 

Описание патента на изобретение SU526498A1

визуально, определить превышает ли в конце обработки действительное отклонение формы заданную величину (допуск на отклонение формы). В зависимости от необходимости измерять четные илИ нечетные составляющие отклонений формы может быть использована двухкоптактная или трехконтактная скоба прибора управляющего контроля. Может быть использована и одноконтактная скоба. В последнем случае прибор будет показывать сумму отклонений формы и эксцентриситета.

Для измерения отклонепия формы в поперечном сечении в процессе обработки сигнал со скобы прибора активного контроля об изменении текущего размера измеряемой детали .поступает в индуктивный преобразователь, затем в сумматор, усилитель и фазовый детектор. После фазового детектора сигнал передается по двум каналам. Первый канал имеет место в существующем приборе и предназначен для контроля размеров. Второй канал предлагается ввести для измерения отклонений формы. Он состоит из двух эммитерных повторителей, фильтра низкой частоты с полосой пропускания О-20 Гц, фильтра высокой частоты с полосой пропускания от 0,5 Гц, двухполярного амплитудного детектора и -показывающего прибора.

Электрическая схема устройства представлена на чертеже. Она включает в себя резисторы , повторители Yi-Уе, конденсаторы GI-Сб, измерительный прибор М, выключатель BI.

Для измерения отклонений формы сигнал поступает на вход высокоомного делителя (Ri, RZ) , нагрузкой которого является эммитерный повторитель УЬ Усиленный по мощности сигнал с выхода эммитерного повторителя поступает на вход активного фильтра второго порядка низкой частоты (Кз,К5, Ci, Cg, У2). Этот фильтр необходим для выделения полезного сигнала с частотой от О до 20 Гц, т. е. сигнала, характеризующего только текущий размер, исключая при этом высокочастотные составляющие от вибраций. Выход этого фильтра нагружен на эммитерный повторитель УЗ, согласующий фильтры высокой и низкой частоты. Фильтр высокой частоты (Rs, Ra, Cs, С и У4) представляет собой активный фильтр второго порядка с полосой

пропускания частот от 0,5 Гц и выще и позволяет отфильтровывать из текущего размера его среднее значение и его производную, т. е. изменяющееся среднее значение текущего размера в процессе обработки детали, которое зависит от подачи. Таким образом, на двухполярный амплитудный детектор постунает двухполярный сигнал, несущий информацию только о мгновенном значении отклонений

формы, которое может изменяться в процессе обработки детали. Пиковый детектор (Rg, Rio, Д, Ц,1, Cs, Сб) выделяет максимальное положительное и отрицательное значения сигнала, обеспечивая необходимое время хранения информации. Нагрузкой пикового детектора являются истоковые повторители УЗ и Уб, к низкоомному выходу которых подключен измерительный прибор (микроамперметр М) с добавочными сопротивлениями для измерения пределов измерения. При разработке схемы устройства в качестве активных элементов используются истоковые и эмиттерные повторители, составляющие интегральные микросхемы типа МГ-10.

Применение предлагаемого устройства приводит к снижению брака погрещности формы за счет своевременного корректирования параметров настройки, правки круга и так далее, повыщению производительности за счет

уменьщения времени на операционный коптроль обрабатываемых деталей, а в ряде случаев и за счет сокращения числа регулировок станка, правок круга и т. п.

Формула изобретения

Устройство для активного контроля размеров и выявления неточностей формы обрабатываемых изделий, содержащее датчик коптроля, например индуктивный, связанный с фазовым детектором, отличающееся тем, что, с целью упрощения устройства и повыщения точности измерений, к выходу фазового детектора подключен полосовой фильтр,

выделяющий информацию об изменяющемся отклонении формы поверхности обрабатываемой детали, соединенный с двухполярным амплитудным детектором, к выходу которого подключен, например, показывающий прибор.

KS

Ят A

Похожие патенты SU526498A1

название год авторы номер документа
СПОСОБ ДИАГНОСТИКИ ПЛАЗМЫ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 1992
  • Колесников Н.Л.
  • Васильев Б.А.
  • Чуменков В.П.
RU2051476C1
Электромагнитный способ обнаружения дефектов в электропроводящих изделиях и устройство для его осуществления 1982
  • Лелеков Павел Александрович
  • Дмитриев Юрий Степанович
  • Денисов Владлен Александрович
SU1089504A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ УСКОРЕНИЙ 2005
  • Кутуров Анатолий Никитович
  • Кулешов Дмитрий Владимирович
  • Кулешов Александр Владимирович
  • Рамзова Нина Владимировна
  • Кулешов Владимир Вениаминович
RU2279093C1
Устройство для измерения параметров СВЧ-элементов 1983
  • Ильницкий Людвиг Яковлевич
  • Иванов Владимир Александрович
  • Даниленко Сергей Владимирович
SU1166015A1
Устройство для контроля параметров многокомпонентных материалов 1990
  • Скрипник Юрий Алексеевич
  • Маркусик Кирилл Николаевич
  • Трикоз Владимир Иванович
SU1774242A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ВИБРОАКУСТИЧЕСКОЙ ДИАГНОСТИКИ МАШИН 1997
  • Качоровский А.Б.
  • Диперштейн М.Б.
RU2125248C1
Система управления металлорежущим станком 1978
  • Шачнев Юрий Алексеевич
  • Водяник Владимир Данилович
  • Кокоулин Герман Павлович
  • Николаев Юрий Львович
SU791503A1
УСТРОЙСТВО ФОРМИРОВАНИЯ НАПРЯЖЕНИЯ НА ЗАЩИТНОЙ СЕТКЕ КОЛЛЕКТОРА ИОННОГО ТОКА СПЕКТРОМЕТРА ИОННОЙ ПОДВИЖНОСТИ 2016
  • Головин Анатолий Владимирович
  • Беляков Владимир Васильевич
  • Громов Евгений Анатольевич
RU2638824C2
УСТРОЙСТВО для ИЗМЕРЕНИЯ АМПЛИТУД И ФАЗ НАПРЯЖЕНИЙ 1967
SU191667A1
Устройство для контроля низкочастотных помех в сигнале изображения 1982
  • Боловинцев Юрий Михайлович
SU1078669A1

Иллюстрации к изобретению SU 526 498 A1

Реферат патента 1976 года Устройство для активного контроля размеров и выявления неточностей формы обрабатываемых изделий

Формула изобретения SU 526 498 A1

SU 526 498 A1

Авторы

Шачнев Юрий Алексеевич

Николаев Юрий Львович

Даты

1976-08-30Публикация

1974-07-29Подача