Устройство для контроля качества стирающих магнитных головок Советский патент 1976 года по МПК G11B5/46 

1

Изобретение относится к области приборостроения и может быть использовано для контроля качества как эксплуатирующихся, так и готовых к выпуску стираюп1,их магнитных головок, нрименяемых в аппаратуре магнитной записи.

Недостаточно полисе стирание ранее записанной па магнитный носитель информации может привести к снижению достоверности вновь заиисываемой и воспроизводимой информации, т. е. от качества стирания зависит качество сигналограммы. Так как основным элементом капала стирания в аппарате магнитной записи является стирающая магнитная головка, то от ее качества в большой степени зависнт достоверность вновь записываемой ипформацпи.

Известно устройство для проверки качества магни1пых головок, представляющее собой барабан, в пазу которого по поверхности помещепа измерительная лента, подвергающаяся воздействию поля магнитной головки. Каждая испытуемая головка должна очень тщательно выставляться, что требует большой затраты времени, кроме того, это устройство имеет сложные конструкщ ю и электрическую схему.

Более простым конструктивно является устройство, в котором используется луч лачера и иеремещаются около головки магнитпая пластина 2. Но это устройство требует тщательной тарировкп и равномерного луча лазера, что не всегда возможно достпчь.

Наиболее близкнм техническим решением к изобретению является устройство, предназначенное для контроля качества магнитных головок, содержащее генератор, соединенный с испытуемой головкой, сопротивление пагрузки; индикатор п источппк питания 3.

Электрическая схема этого устройства сложна, а точность и оперативность проводпмых операцнй по контролю головок недостаточны.

Цель изобретення - упрощение электрической схемы устройства, повышенпе точпости и оперативности проводимых операцпй по контролю магиитпых головок.

Это достигается тем, что предлагаемое устройство снабл ;ено полуироводниковой гермапневой пластиной, рекомбипациопные грани которой установлены в непосредственной близости от рабочего зазора иснытуемой головки, а пассивные грапп раздельно подклю4eiibi к источнику питания п к соединенным

5 iJMecTe сопротивлению нагрузкп и индикатору.

На чертеже показана схема описываемого устройства.

Германиевая полупроводниковая пластина

0 1 имеет рекомбинацпонные гранп 2 п 3, а