Способ контроля качества магнитных головок Советский патент 1977 года по МПК C11B5/46 

I

Изобретение относится к приборостроению, в частности, к способу контроля качества магнитных 1Х)ловок, преимущественДно гоповок записи.

Известен способ контроля качества маг нитдых головок, основанный на использова НИИ микроскопа с мерной шкалой в окуляре и набора ряда зеркал. Этот способ трудоемок и не йоэвопяег иметь дрстатОЧнб дог стоверное представление 6 распредепйнйил поля и о его качестве, а, сЛёдоБатв й но, о качестве исп 4гуем€)Й головкй.

Прототипом изобретения Принято теяйИ ческое решение, представляющее .свббй cnotсоб контроля качества магнитных головок, основанный на аналкзе картин распределения полей рассеяния. Но при использовани1. этогх) способа на определение причин аномалыгогх) распределения полей рассеяния контролируемых головок уходит достаточно много времени, что не всегда, особенно в условиях массового производства, приемле МО.

Целью изобретения является сокращение времени определения причин аномального распределения полей рассеяния,

Это достигается тем, что картнну поля рассейния реальной магнитной головкн сра нивают с набором трафаретов, полученных в результате интерференцни от наложения упорядоченнрй ртруктуры пиний на построенные эквйпотенциали головок с учетом апрн орно предполагаемых искажений формы их рабо ей no pxrtouTHi возникающих, например, вследствие зймагаиченности носика, наклейа, закруглений крОмок аазора и Других причин.

На фиг. 1 изображена искуственно выяв йенная картина поля рассеяния с эквипотенг циалами, построенными с помощью интеграч тора, а на фиг. 2 - картина реального поля интегральной магнитной головки, полученного с помощью электронного микроскопа. Для получения трафаретов найденный xot эквипотенциалей от поверхностей моделей магнитных гх)ловок с априорно предполагае-« Цыми искажениями наносят на лист или кал kи, на которые накладывают любым образо1ф Ьыпопненную (например, вырезанием) подобранную упорядоченную структуру линий или клеток. В результате интерференции от упорядоченной системы параллельных линий и расходящихся эквипотенциалей возникает муаровый узор. Эта картина аналогична картине, возникающей в электронном микроскопе, ITJC. обе они получены в результате интерференции от параллельных и радиально расходящихся линий, На фиг. 1 и 2 приведены конкретные реальные картины, первая из которых была получена при использовании заведомо бездефектной магнитной головки и с использованием трафаретов, а вторая - при использовании электронного микроскопа. Изготовь ленная головка близка к идеальной, i Преимущество; предлагаемого способа такж и в том, что его можно использовать дли контроля полюсных наконечников головок, где оперативность контроля также необходима. Формула изобретения Способ контроля качества магаитных головок, основанный на анализе картин распределения полей рассеянна, отличаю щ и и с я тем, что, с целью сокращения времени определения причин аномального распределения полей рассеяния, картину поля рассеяния реальной магнитной головки сравнивают с набором трафаретов, полученных в результате интерференции от наложен НИН упорядоченной структуры линий на построенные эквипотенииали головок с учетом априорно предполагаемых искажений формы их рабочей поверхности, возникающих, например, вследствие замагниченности носика, наклепа, закругления кромок зазора и других причин.

IV

m4-f : k v f T ;««Jw « Л- :. :. .v;-v::: :l

r-.Ч-:.; -Л: Л ::.-: .-.:. ;4vvi

I I.

Г//.-;; л-:. ;.;:;.-ч.-л..:/ .

;- . . V ,.-,: . ,.«1«а

f .-. :, : - : ; . V .. --. - М .

1 ;.- .; .

Фиг.2 .т---.------::-.---.-Щ V-т-.-.-.v ,....-.vs bulffl . .:, - - Ж-- .... 4--SK