Способ квалиметрии поверхностных слоев электропроводящих материалов Советский патент 1977 года по МПК G01B7/06 G01N27/02 

1

Изобретение касается средств, не нарушающих структуры объектов контроля, и может быть использовано для контроля качества поверхностных слоев электропроводящих материалов.

Известен способ контроля качества (квалиметрии) электропроводящих материалов, заключающийся в том, что через определенный участок материала пропускают токи различных частот и по величине тока судят о результатах контроля 1.

Однако достоверность контроля качества таким способом недостаточна, так как зависимость величины тока от электрофизических свойств определяется эмпирически для заданной частоты тока.

Иаиболее близким к изобретению является способ контроля качества диэлектрических слоев на изделиях из электропроводящих материалов, для чего контролируемую поверхность контактируют с электродами, через которые пропускают токи различных частот, и ио их параметрам судят о результатах контроля.

Однако достоверность контроля этим сиособом материалов без диэлектрика недостаточна. Полученные зависимости в этом способе неоднозначны в случае контроля поверхностных слоев электропроводящих материалов.

Цель изобретения - повышение достоверности контроля.

Для этого создают в поверхностных слоях распределенный прямоугольный контур тока так, что его ширина превосходит длину бплее чем в десять раз, определяют обобщенный параметр

d- ()

«()

где /(со) -величина полного сопротивления на частоте со;

Д(сй)-изменение сопротивления при изменении частоты от максимального значения coi до минимального - со2;

измеряют частоту тока юз, иа которой этот параметр отличается от своего значения на частоте со2 на 5-20%, определяют второй обобщенный параметр

R (о,) R (оз)

сравнивают обобщенные параметры и по результатам сравнения судят о качестве иоверхностпых слоев.

Сущность способа заключается в том, что на контролируемый материал накладывают два протяженных параллельных электрода, длина которых более чем в десять раз превыщает расстояние между ними.

При этом создается прямоугольный контур тока, ширина которого более чем в десять раз превосходит длину. Электроды подключают к схеме измерения полного сопротивления на различных частотах тока.

Измеряют сопротивления на заданном минимальном CU2 и максимальном значениях частот ((02) и R(i(ii). Определяют изменение сопротивления для этого интервала AR(tt)). Затем измеряют частоту о:)з, на которой обобщенный параметр

(а)).(й,

d

/(),)-ш

отличается на 5-20%, определяют второй обобщенный параметр

COj

/г

к (з)

(.

и затем сравнивают ползченные обобщенные параметры d н h. Эти параметры корректируются с электрофизическими свойствами поверхностных слоев и их толщиной. По этим параметрам может осуществляться одновременный контроль несплощностей в поверхностных слоях и их толщины.

Формула изобретения

Снособ квалиметрии поверхностных слоев электропроводящих материалов, заключающийся в том, что контролируемую поверхность контактируют с электродами, через которые пропускают токи различных частот, и по их параметрам судят о результатах контроля, отличающийся тем, что, с целью повышения достоверности контроля, создают в поверхностных слоях распределенный прямоугольный контур тока так, что его щирина превосходит длину более чем в десять раз, определяют обобщенный параметр .).

Л(«1).0)

где Л (со)-величина полного сопротивления на частоте со;

Д(а))-изменение сопротивления при изменении частоты от максимального значения coi до минимального «2;

измеряют частоту тока ыз, на которой этот параметр отличается от своего значения на частоте ог на 5-20%, определяют второй обобщенпый параметр

ЛЫ

сравнивают обобщенные нараметры и но результатам сравнения судят о качестве новерхностных слоев.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1.Городинский И. А. Магнитные и электрические методы иснытания металлов. М., Госпланиздат, 1940, с. 15.

2.Авторское свидетельство СССР N° 284392, G 01N 27/04, 1967.